光电检测装置及计数电路制造方法及图纸

本发明专利技术抑制了计数期间的状态转变的数量的增加。该光电检测装置具备：光接收单元，以矩阵状被布置行方向和列方向上，并输出响应于光子的入射而生成的脉冲；以及计数电路，对从光接收单元输出的脉冲进行计数。计数电路包括基于转变输入而引起状态转变的多个2位Johnson计数器。前级2位Johnson计数器的计数输出的第二位用作后级2位Johnson计数器的转变输入。每个2位Johnson计数器包括以两级连接的触发器，并且在多个2位Johnson计数器的每一个中，后级触发器的输出的反转值可用作前级触发器的输入。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

技术涉及光电检测装置和计数电路。更具体地，本技术涉及其中2位johnson计数器以多级连接的光电检测装置和计数电路。

技术介绍

1、计数电路用于不同类型的计数，包括光子、粒子、脉冲和时间的计数。例如，提出了一种图像传感器，该图像传感器在曝光周期期间对入射到光电二极管的光子的数量进行计数，并且输出光子的计数值作为信号值(例如，参见专利文献1)。

2、引用列表

3、专利文献

4、专利文献1：日本专利申请特开第2019-129338号

技术实现思路

1、本专利技术要解决的问题

2、然而，在上述传统技术中，因为二进制计数器被用作计数电路，所以计数时的状态转换的数量大，并且存在功耗增加的可能性。

3、鉴于这种情况做出了本技术，并且其目的是抑制计数时状态转换的数量的增加。

4、问题的解决方案

5、为了解决上述问题而作出了本技术，并且其第一方面是一种光电检测装置，该光电检测装置包括：光接收单元，以矩阵状被布置行方向和列方向上并且输出根据光子本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光电检测装置，包括：

2.根据权利要求1所述的光电检测装置，其中，

3.根据权利要求2所述的光电检测装置，还包括：

4.根据权利要求1所述的光电检测装置，其中，

5.根据权利要求4所述的光电检测装置，其中，

6.根据权利要求4所述的光电检测装置，其中，

7.根据权利要求6所述的光电检测装置，其中，

8.根据权利要求7所述的光电检测装置，其中，

9.根据权利要求8所述的光电检测装置，还包括：

10.根据权利要求9所述的光电检测装置，其中，

11.根据权利要求9所述...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种光电检测装置，包括：

2.根据权利要求1所述的光电检测装置，其中，

3.根据权利要求2所述的光电检测装置，还包括：

4.根据权利要求1所述的光电检测装置，其中，

5.根据权利要求4所述的光电检测装置，其中，

6.根据权利要求4所述的光电检测装置，其中，

7.根据权利要求6所述的光电检测装置，其中，

8.根据权利要求7所述的光电检测装置，其中，

9.根据权利要求8所述的光电检测装置，还包括：

10.根据权利要求9所述的光电检测装置，其中，

【专利技术属性】
技术研发人员：池田泰二，高塚挙文，比津和树，渡边伊织，
申请(专利权)人：索尼半导体解决方案公司，
类型：发明
国别省市：

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