Mn-W-Cu-O系溅射靶及其制备方法技术

技术编号:41010727 阅读:25 留言:0更新日期:2024-04-18 21:46
课题在于提供抑制异常放电,并且可进行稳定成膜的Mn‑W‑Cu‑O系溅射靶及其制备方法。解决手段是一种溅射靶,其是在成分组成中含有Mn、W、Cu和O的Mn‑W‑Cu‑O系溅射靶,其中,相对密度为90%以上,并且电阻率为9×10‑4Ω·cm以下。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术特别是涉及对光信息记录介质的记录层的形成有用的mn-w-cu-o系溅射靶及其制备方法。


技术介绍

1、近年来,在光信息记录介质(光盘)的领域中,随着处理数据的增大等,要求光盘的大容量化。光盘大致分为只读和记录型,记录型进一步细分为一次写入型和可擦写型这2类。作为一次写入型的记录层材料,以往广泛研究了有机色素材料,但随着近年来的大容量化,无机材料也被广泛研究。

2、作为使用无机材料的有用的记录方式,有利用如下情况的记录方式:通过对含有分解温度低的无机氧化物的记录层照射激光,记录层的物性变化,光学常数随之变化。作为无机氧化物材料,钯氧化物被实用化,但由于pd为贵金属,材料成本高,所以期望开发可代替钯氧化物以廉价的材料成本实现的记录层。

3、作为以廉价的材料成本得到充分良好的记录特性的材料,开发了包含锰氧化物系材料的记录层。例如,在专利文献1中,公开了mn-w-zn-cu-o系记录层等含有锰氧化物和多种无机元素的记录层,及用于形成该记录层的溅射靶。

4、现有技术文献

5、专利文献>

6、专利文献本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.溅射靶,其是在成分组成中含有Mn、W、Cu和O、且在成分组成中不含有Zn的Mn-W-Cu-O系溅射靶,其中,

2.根据权利要求1所述的溅射靶,其中,相对于Mn、W和Cu的总计100原子%,Mn为4原子%~40原子%,W为10原子%~70原子%,Cu为10原子%~40原子%。

3.根据权利要求1或2所述的溅射靶,其中,在所述成分组成中进一步含有选自Mo、Nb、Mg、Ag、Ru、Ni、Zr、Sn、Bi、Ge、Co、Al、Pd、Ga、Te、V、Si、Ta、Cr和Tb的至少1种以上的元素。

4.根据权利要求3所述的溅射靶,其中,相对于除O以外的构成元素的总...

【技术特征摘要】

1.溅射靶,其是在成分组成中含有mn、w、cu和o、且在成分组成中不含有zn的mn-w-cu-o系溅射靶,其中,

2.根据权利要求1所述的溅射靶,其中,相对于mn、w和cu的总计100原子%,mn为4原子%~40原子%,w为10原子%~70原子%,cu为10原子%~40原子%。

3.根据权利要求1或2所述的溅射靶,其中,在所述成分组成中进一步含有选自mo、nb、mg、ag、ru、ni、zr、sn、bi、ge、co、al、pd、ga、te、v、si、ta、cr和tb的至少1种以上的元素。

4.根据权利要求3所述的溅射靶,其中,相对于除o以外的构成元素的总计100原子%,所述选自mo、nb、mg、ag、ru、ni、zr、sn、bi、ge...

【专利技术属性】
技术研发人员:菅原淳一加守雄一
申请(专利权)人:迪睿合株式会社
类型:发明
国别省市:

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