单天线干扰消除能力识别方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种单天线干扰消除能力识别方法和装置，属于无线通信领域。所述方法包括：使用ａｌｐｈａ－ＱＰＳＫ调制和ＧＭＳＫ调制分别对Ｎｏｎ－ＳＡＩＣ类型的待测终端进行测试；根据所述待测终端在ａｌｐｈａ－ＱＰＳＫ调制与ＧＭＳＫ调制下对应的下行质量，识别所述待测终端是否具有ＳＡＩＣ能力。所述方法包括：待测终端将ａｌｐｈａ－ＱＰＳＫ调制和ＧＭＳＫ调制下对应的下行质量信息上报给ＳＡＩＣ能力识别的装置，使所述ＳＡＩＣ能力识别的装置根据所述下行质量信息获取ａｌｐｈａ－ＱＰＳＫ调制与ＧＭＳＫ调制下对应的下行质量，识别所述待测终端是否具有ＳＡＩＣ能力。所述装置包括测试模块和识别模块。本发明专利技术通过上述方案，能够识别出具有ＳＡＩＣ能力的静默ＳＡＩＣ终端，可以提高ＳＡＩＣ能力识别的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及无线通信领域，特别涉及一种单天线干扰消除能力识别方法和装置。
技术介绍
目前，终端存在两种类型，一种是 SAIC(Single Antenna Interference Cancellation，单天线干扰消除)终端，另一种是Non-SAIC (非单天线干扰消除)终端。现行的通信系统，网络侧设备根据终端上报的终端类型，确定该终端是否具有 SAIC能力，当上报的终端类型为SAIC时，网络侧将该终端识别为具有SAIC能力，当上报的 终端类型为Non-SAIC时，网络侧将该终端识别为不具有SAIC能力。然而，Non-SAIC类型的终端中很大一部分具有SAIC能力，也即具有单天线干扰消 除能力，只是将类型上报为Non-SAIC，将这类终端称为mute SAIC(静默单天线干扰消除) 终端。本专利技术的专利技术人发现现有技术至少存在以下问题现行的通信系统根据终端上报 的终端类型确定该终端是否具有SAIC能力，将具有SAIC能力的静默SAIC终端排除在外， SAIC能力识别的准确性较差。
技术实现思路
为了提高SAIC能力识别的准确性，本专利技术实施例提供了一种单天线干扰消除能 力识别方法和装置。—方面，本专利技术实施例提供了一种单天线干扰消除能力识别方法，所述方法包 括使用阿尔法正交相移键控(alpha-QPSK)调制和高斯最小移频键控(GMSK)调制分 别对非单天线干扰消除(Non-SAIC)类型的待测终端进行测试；根据所述待测终端在alpha-QPSK调制与GMSK调制下对应的下行质量，识别所述 待测终端是否具有单天线干扰消除(SAIC)能力。另一方面，本专利技术实施例提供了一种单天线干扰消除能力识别方法，所述方法包 括待测终端将阿尔法正交相移键控(alpha-QPSK)调制和高斯最小移频键控(GMSK) 调制下对应的下行质量信息上报给单天线干扰消除(SAIC)能力识别的装置，使所述SAIC 能力识别的装置根据所述下行质量信息获取alpha-QPSK调制与GMSK调制下对应的下行质 量，识别所述待测终端是否具有单天线干扰消除(SAIC)能力。另一方面，本专利技术实施例提供了一种单天线干扰消除能力识别装置，所述装置包 括测试模块，用于使用阿尔法正交相移键控(alpha-QPSK)调制和高斯最小移频键 控(GMSK)调制分别对非单天线干扰消除(Non-SAIC)类型的待测终端进行测试；识别模块，用于根据所述待测终端在alpha-QPSK调制与GMSK调制下对应的下行质量，识别所述待测终端是否具有单天线干扰消除(SAIC)能力。另一方面，本专利技术实施例提供了一种基站控制器，包括上述单天线干扰消除能力 识别装置。另一方面，本专利技术实施例提供了一种终端，用于将阿尔法正交相移键控 (alpha-QPSK)调制和高斯最小移频键控(GMSK)调制下对应的下行质量信息上报给单天线 干扰消除(SAIC)能力识别的装置，使所述SAIC能力识别的装置根据所述下行质量信息获 取alpha-QPSK调制与GMSK调制下对应的下行质量，识别所述待测终端是否具有单天线干 扰消除(SAIC)能力。本专利技术实施例的一方面，通过使用alpha-QPSK调制和GMSK调制分别对非单天线 干扰消除Non-SAIC类型的待测终端进行测试，根据待测终端在alpha-QPSK调制与GMSK 调制下对应的下行质量，识别待测终端是否具有单天线干扰消除SAIC能力，从而识别出 具有SAIC能力的静默SAIC终端，可以提高SAIC能力识别的准确性；另一方面，通过上报 alpha-QPSK调制和GMSK调制下对应的下行质量信息给SAIC能力识别的装置，使SAIC能力 识别的装置能够根据下行质量信息获取alpha-QPSK调制与GMSK调制下对应的下行质量， 进一步可以识别待测终端是否具有SAIC能力，从而识别出具有SAIC能力的静默SAIC终 端，可以提高SAIC能力识别的准确性。附图说明图1是本专利技术一实施例提供的SAIC能力识别的方法流程图；图2是本专利技术另一实施例提供的SAIC能力识别的方法流程图；图3是本专利技术另一实施例提供的SAIC能力识别的装置结构示意图；图4是本专利技术另一实施例提供的SAIC能力识别的另一装置结构示意图。具体实施例方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术实施方 式作进一步地详细描述。参见图1，本专利技术一实施例提供了一种SAIC能力识别的方法，包括101 使用 alpha-QPSK (Quadrature Phase Shift Keying，阿尔法正交相移键控) 调制和GMSK (Gaussian Minimum Shift Keying，高斯最小移频键控)调制分别对非单天线 干扰消除Non-SAIC类型的待测终端进行测试。102 根据待测终端在alpha-QPSK调制与GMSK调制下对应的下行质量，识别待测 终端是否具有单天线干扰消除SAIC能力。本专利技术实施例通过使用alpha-QPSK调制和GMSK调制分别对Non-SAIC类型的待 测终端进行测试，根据待测终端在alpha-QPSK调制与GMSK调制下对应的下行质量，识别待 测终端是否具有单天线干扰消除SAIC能力，从而识别出具有SAIC能力的静默SAIC终端， 可以提高SAIC能力识别的准确性。参见图2，本专利技术另一实施例提供了一种SAIC能力识别的方法。网络侧设备对上报类型为Non-SAIC类型的终端，可以通过本实施例的方法 来判断该终端是否具有SAIC能力，其中，网络侧设备具体可以是BSC (Base StationController，基站控制器)，本实施例并不限定，具体判断的方式可以如下。需要说明的是，在本实施例的判断过程中会使用到一些检测参数，这些检参数可 以是预先配置好的。其中，检测参数可以包括检测次数η和检测时间T中的至少一个、与交替周期N 和质量变化门限。由于检测次数η和检测时间T可以根据交替周期N互推，因此，二者有其 一即可，互推公式具体为T = ηΧΝΧ2，其中2表示两种调制方式。交替周期N表示每隔N个时隙更换待测终端下行数据的调制方式，本实施例中的 调制方式包括alpha-QPSK调制和GMSK调制，也即每隔时隙N将待测终端下行数据的调制 方式在alpha-QPSK调制和GMSK调制中进行切换。其中，alpha-QPSK调制是VAMOS协议 规定的下行数据的调制方式，不具有SAIC能力的终端在alpha-QPSK调制方式下的下行质 量会严重恶化，具有SAIC能力的终端在alpha-QPSK调制下能够正常工作。GMSK调制是 Non-SAIC类型的终端支持的下行数据的调制方式，Non-SAIC类型的终端在GMSK调制下能 够正常工作。其中，N越大，对待测终端的影响越大，检测结果越好。alpha越大，对待测终端的 影响越小，检测结果越差。在一次检测过程中，Alpha可以是-8与8之间的一个整数。进 一步地，为了兼顾检测结果和对待测终端的影响，alpha可以取值为O、1或2，而N的取值范 围可以为10到30。检测次数η表示在一次检测过程中，两种调制方式交替的次数，也即alpha-QPSK 调制和GMSK调制交替的次数。η为> 1的整数，当η = 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种单天线干扰消除能力识别方法，其特征在于，所述方法包括：使用阿尔法正交相移键控（ａｌｐｈａ－ＱＰＳＫ）调制和高斯最小移频键控（ＧＭＳＫ）调制分别对非单天线干扰消除（Ｎｏｎ－ＳＡＩＣ）类型的待测终端进行测试；根据所述待测终端在ａｌｐｈａ－ＱＰＳＫ调制与ＧＭＳＫ调制下对应的下行质量，识别所述待测终端是否具有单天线干扰消除（ＳＡＩＣ）能力。

【技术特征摘要】
一种单天线干扰消除能力识别方法，其特征在于，所述方法包括使用阿尔法正交相移键控(alpha QPSK)调制和高斯最小移频键控(GMSK)调制分别对非单天线干扰消除(Non SAIC)类型的待测终端进行测试；根据所述待测终端在alpha QPSK调制与GMSK调制下对应的下行质量，识别所述待测终端是否具有单天线干扰消除(SAIC)能力。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述使用alpha-QPSK调制和GMSK调制分别 对Non-SAIC类型的待测终端进行测试包括根据检测参数，使用alpha-QPSK调制和GMSK调制交替对所述待测终端进行测试，其 中，所述检测参数包括检测次数η和检测时间T中的至少一个、交替周期N和质量变化门 限，所述交替周期N表示每隔N个时隙将所述待测终端下行数据的调制方式在alpha-QPSK 调制和GMSK调制中进行切换，N为大于或等于1的整数，所述检测次数η表示alpha-QPSK 调制和GMSK调制交替的次数，η为大于或等于1的整数，所述检测时间Τ，表示检测过程持 续的最大时间，所述质量变化门限为判断所述待测终端是否具有SAIC能力的检测门限。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测终端在alpha-QPSK调制 与GMSK调制下对应的下行质量，识别所述待测终端是否具有单天线干扰消除SAIC能力包 括I f ρΡΛ根据Mx^zd1= ΣRXQuqIqpsk -^RXQUUIgmsk xc ,获取第一下行质量相关值，^Lv ο。J-其中，Δ RxQual1为第一下行质量相关值，RxQualQPSK和RxQual^K分别为alpha-QPSK调制 和GMSK调制每个上报周期对应的下行质量，c为倍增因子，取值范围为c > 1，P为所述交 替周期N中所述上报周期的个数，P^N；根据=^XARxQuaI1，获取第二下行质量相关值，其中，ARxQuaI2为第二下η O行质量相关值；如果所述第二下行质量相关值小于或等于所述质量变化门限，确定所述待测终端具备 SAIC能力。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述确定所述待测终端具备SAIC能力之前 还包括Γ η2'根据V Yj(ARXQuall-MXQual2),获取第一方差。/ ；如果所述第一方差。/小O于或等于预设的方差，确定所述待测终端具备SAIC能力。5.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述质量变化门限包括质量变化门限下限 Ml和质量变化上限M2 ；所述根据所述待测终端在alpha-QPSK调制与GMSK调制下对应的下行质量，识别所述待测终端是否具有单天线干扰消除SAIC能力包括I f ρρ\根据YjRxQualqpsk -YjRxQuoIgmsk xc，获取第三下行质量相关值， Lv Oο) _其中，Δ RxQual3为第三下行质量相关值，RxQualQPSK和RxQualeMSK分别为alpha-QPSK调制和GMSK调制每个上报周期对应的下行质量，c为倍增因子，取值范围为c > 1，P为所述交 替周期N中所述上报周期的个数，P^N；根据Μχρ—，获取第四下行质量相关值，其中，ARxQual4S第四下6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述确定所述待测终端具备SAIC能力之前 还包括7.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测终端在alpha-QPSK调制 与GMSK调制下对应的下行质量，识别所述待测终端是否具有单天线干扰消除SAIC能力包 括 根据8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述确定所述待测终端具备SAIC能力之前 还包括 根据9.如权利要求1-8任一项所述的方法，其特征在于，所述识别所述待测终端是否具有 单天线干扰消除SAIC能力之后包括当所述待测终端具有SAIC能力时，对所述待测终端启用语音业务多用户正交子信道 VAMOS。10.如权利要求3、5或7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括根据备选的S个alpha取值，更改所述alpha-QPSK调制方式中alpha的取值，根据更 改后的alpha取值，继续执行使用alpha-QPSK调制和GMSK调制分别对Non-SAIC类型的待 测终端进行测试及后续步骤。11.如权利要求10所述的方法，其特征在于，所述方法还包括如果所述S个alpha取值中，在任意一个或多个alpha取值下，所述第二下行质量相关 值大于所述质量变化门限，确定所述待测终端不具备SAIC能力； 或者，如果所述S个alpha取值中，在任意一个或多个alpha取值下，所述第四下行质量相关 值不在Ml和M2之间，确定所述待测终端不具备SAIC能力； 或者，如果所述S个alpha取值中，在任意一个或多个alpha取值下，所述第六下行质量相关 值大于所述质量变化门限，确定所述待测终端不具备SAIC能力。12.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述使用阿尔法正交相移键控alpha-QPSK 调制和高斯最小移频键控GMSK调制分别对非单天线干扰消除Non-SAIC类型的待测终端进 行测试之前包括接收所述待测终端上报的终端类型，根据所述待测终端上报的终端类型确定所述待测 终端为Non-SAIC类型。13.一种单天线干扰消除能力识别方法，其特征在于，所述方法包括待测终端将阿尔法正交相移键控(alpha-QPSK)调制和高斯最小移频键控(GMSK)调制 下对应的下行质量信息上报给单天线干扰消除(SAIC)能力识别的装置，使所述SAIC能力 识别的装置根据所述下行质量信息获取alpha-QPSK调制与GMSK调制下对应的下行质量， 识别所述待测终端是否具有单天线干扰消除(SAIC)能力。14.如权利要求13所述的方法，其特征在于，所述待测终端将alpha-QPSK调制和GMSK 调制下对应的下行质量信息上报给SAIC能力识别的装置包括所述待测终端在上报周期到达时将对应调制方式下的下行质量上报给所述SAIC能力 识别的装置；或者，所述待测终端根据喊=去YRxQualgpstc -j^RxQuoIgmsk Ixc ’获取第尸 IA 0°J-一下行质量相关值，根据=If MxGwd1，获取第二下行质量相关值，并将所述第η ο二下行质量相关值上报给所述SAIC能力识别的装置；其中，RxQualQPSK和RxQualeMSK分别为alpha-QPSK调制和GMSK调制每个上报周期对应 的下行质量，ARxQual1为第一下行质量相关值，c为倍增因子，取值范围为c彡1，ARxQual2 为第二下行质量相关值，P为所述交替周期N中所述上报周期的个数，P ^ N, N为交替周期 表示每隔N个时隙将所述待测终端下行...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨广义，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]