X射线荧光光谱修正方法及系统、分析仪、设备、介质技术方案

本发明专利技术公开了一种X射线荧光光谱修正方法及系统、分析仪、设备、介质，其先基于相同的激发光能量分别获取出厂时测试空白载体得到的参考谱图和周期修正时测试空白载体得到的待修正谱图，然后对参考谱图和待修正谱图分别进行积分计算后得到第一荧光产额和第二荧光产额，即可基于第一荧光产额和第二荧光产额计算得到修正系数，该修正系数即表征了X射线管的衰减程度，最后基于修正系数对仪器测试过程中各元素的荧光产额进行修正，从而根据X射线管的衰减程度对实际检测结果进行荧光强度修正，保证了仪器长期运行过程中的数据准确性，并且可实现多种待测元素的荧光强度精准修正。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及元素检测分析，特别地，涉及一种x射线荧光光谱修正方法及系统、分析仪、电子设备、计算机可读取的存储介质。

技术介绍

1、x射线荧光光谱仪由激发源(x射线管)和探测器等构成，其通过x射线管发射出x射线照射到样品上，产生的荧光信号进入探测器，由于不同的元素会产生各自对应的特征荧光峰，从而通过对特征荧光峰进行检测分析，可以实现各元素的定性检测和定量检测，常应用于无机元素在线分析，其中，每个元素的特征荧光强度不仅与激发源的能量和强度有关，还与样品中这个元素的含量有关。但是，x射线荧光光谱仪在长时间运行后，由于x射线管老化等原因，光源强度会发生改变，从而会影响样品荧光的强度变化，导致测试结果失真。

2、目前，无机元素在线分析仪一般是通过人工校准方式或自动校准方式进行标样校准，即通过检测已知元素种类和含量的标准样品对仪器进行校准。其中，手动校准是定期使用标准膜样品手动质控，以对仪器进行校准，校准过程较为繁琐；而自动校准则是通过自动标定装置测定已知元素种类和含量的内标样品的荧光强度，然后与已知元素种类的待测样品的荧光强度进行比对，从而对仪器进行校本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种X射线荧光光谱修正方法，其特征在于，包括以下内容：

2.如权利要求1所述的X射线荧光光谱修正方法，其特征在于，所述参考谱图和待修正谱图的数量为多个，对应多个不同的激发光能量范围，且多个参考谱图和多个待修正谱图一一对应。

3.如权利要求2所述的X射线荧光光谱修正方法，其特征在于，所述参考谱图包括第一参考谱图、第二参考谱图、第三参考谱图和第四参考谱图，所述待修正谱图包括第一待修正谱图、第二待修正谱图、第三待修正谱图和第四待修正谱图，其中，第一参考谱图和第一待修正谱图对应Na、Mg、Al、Si元素的激发光能量范围，第二参考谱图和第二待修正谱图对应S、Cl、K、C...

【技术特征摘要】

1.一种x射线荧光光谱修正方法，其特征在于，包括以下内容：

2.如权利要求1所述的x射线荧光光谱修正方法，其特征在于，所述参考谱图和待修正谱图的数量为多个，对应多个不同的激发光能量范围，且多个参考谱图和多个待修正谱图一一对应。

3.如权利要求2所述的x射线荧光光谱修正方法，其特征在于，所述参考谱图包括第一参考谱图、第二参考谱图、第三参考谱图和第四参考谱图，所述待修正谱图包括第一待修正谱图、第二待修正谱图、第三待修正谱图和第四待修正谱图，其中，第一参考谱图和第一待修正谱图对应na、mg、al、si元素的激发光能量范围，第二参考谱图和第二待修正谱图对应s、cl、k、ca、ti、cd、sn、sb、ba、ag、te元素的激发光能量范围，第三参考谱图和第三待修正谱图对应v、cr、mn、fe、co元素的激发光能量范围，第四参考谱图和第四待修正谱图对应ni、cu、zn、as、se、pb、ga、hg元素的激发光能量范围。

4.如权利要求1所述的x射线荧光光谱修正方法，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：梅延成，刘海东，刘德华，丁巧蓓，
申请(专利权)人：力合科技湖南股份有限公司，
类型：发明
国别省市：