【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子器件测试，尤其是涉及一种测试方法及其相关设备。
技术介绍
1、电子器件(例如芯片、fpga等)在研发、生产过程中，往往需要需要进行多个模块、多项功能的测试，以确认待测的电子器件是否满足预设功能，从而确保电子器件能够进行正常的工作。
2、相关技术中，在对电子器件(包括电子器件上的硬件模块或运行在电子器件上的软件模块)进行测试时，通常通过编写对应的驱动代码和测试代码，并将代码进行编译后刷写至待测电子器件中后，通过运行电子器件相应的功能，对电子器件的数据信息进行人工采集，并且通过人工判断的方式判断是否满足测试要求。这种测试方式需要大量的人工操作，并且需要搭载测量设备(如示波器、逻辑分析仪等)，从而导致了测试效率低、测试结果一致性差且测试结果可靠性差的技术问题。
3、因此，如何解决相关技术中对电子器件进行测试时需要进行大量的手动操作存在的效率低、可靠性差及一致性差的技术问题，成为本领域技术人员亟需解决的技术问题。
技术实现思路
1、本专利技术实施例提出一种测试方法及其相关设备，用以解决相关技术中在对电子器件进行测试时需要进行大量的人工手动操作存在的效率低、可靠性差及一致性差技术问题。
2、第一方面，本专利技术的一个实施例提供了一种测试方法，其包括：
3、根据预设测试需求输出配置数据信息至所述待测设备，以使所述待测设备改变当前状态进入待测状态；
4、根据所述待测设备的当前测试对象控制测试台架装置输出第一测试控制信号
5、结合获取的所述测试控制信号和所述第一测试数据信息，判断所述当前测试对象是否满足预设测试要求；或者，结合获取的所述第二测试控制信号和所述第二测试数据信息判断所述当前测试对象是否满足预设测试要求。
6、本专利技术实施例的测试方法至少具有如下有益效果：
7、本专利技术实施例中一种测试方法，测试服务器根据预设测试需求输出配置数据信息，使得待测设备进入待测状态后，测试服务器再根据当前待测对象测试台架装置输出第一测试控制信号至待测设备，待测设备响应第一测试控制信号产生第一测试数据信息；或者，测试服务器根据当前测试对象控制待测设备向测试台架装置发送第二测试控制信号，测试台架装置响应第二测试控制信号产生第二测试数据信息；最后测试服务器结合获取的第一测试控制信号及第一测试数据信息判断当前测试对象是否满足预设测试要求；或者，测试服务器结合获取的第二测试控制信号和第二测试数据信息判断当前测试对象是否满足预设测试要求；解决了相关技术对电子器件进行测试时需要进行大量的人工手动操作存在的效率低、可靠性差及一致性差技术问题，提供了一种自动化的、可靠的、一致性高的测试方法。
8、根据本专利技术的另一些实施例的测试方法，所述所述待测设备改变当前状态进入待测状态，包括：
9、所述待测设备根据接收的所述配置数据信息进行参数配置，并将所述参数配置的信息更新至所述待测设备的寄存器中。
10、根据本专利技术的另一些实施例的测试方法，所述待测设备响应所述第一测试控制信号产生第一测试数据信息，包括：
11、所述待测设备根据所述第一测试控制信号执行相应预设功能后，所述待测设备的内部变量及寄存器的信息为所述第一测试数据信息，所述第一测试数据信息通过swd通信协议方式进行数据传输；
12、所述所述测试台架装置响应所述第二测试控制信号产生第二测试数据信息，包括：
13、所述测试台架装置根据所述第二测试控制信号执行相应预设功能后，所述测试台架的内部变量及寄存器的信息为所述第二测试数据信息，所述第二测试数据信息通过swd通信协议方式进行数据传输。
14、根据本专利技术的另一些实施例的测试方法，所述结合获取的所述第一测试控制信号和所述第一测试数据信息，判断所述当前测试对象是否满足预设测试要求包括：
15、获取与所述第一测试控制信号存在映射关系的第一标准测试数据信息；
16、判断所述第一标准测试数据信息与接收的所述第一测试数据的一致性是否满足预设误差范围；
17、若是，则判断所述当前测试对象满足所述预设测试要求；
18、否则，判断所述当前测试对象不满足所述预设测试要求；
19、所述结合获取的所述第二测试控制信号和所述第二测试数据信息判断所述当前测试对象是否满足预设要求包括：
20、获取与所述第二测试控制信号存在映射关系的第二标准测试数据信息；
21、判断所述第二标准测试数据信息与接收的所述第二测试数据信息的一致性是否满足预设误差范围；
22、若是，则判断所述当前测试对象满足所述预设测试要求；
23、否则，判断所述当前测试对象不满足所述预设测试要求。
24、根据本专利技术的另一些实施例的测试方法，所述测试方法还包括：
25、分别向所述测试台架装置和所述待测设备发送复位控制信号，以使所述测试台架装置和所述待测设备恢复至初始状态。
26、第二方面，本专利技术的一个实施例提供了另一种测试方法，包括：
27、接收测试服务器根据预设测试需求输出的配置数据信息，并根据所述配置数据信息改变当前状态以进入待测状态；
28、接收所述测试服务器根据当前测试对象控制测试台架装置输出的第一测试控制信号，并响应所述第一测试控制信号产生第一测试数据信息；或者，响应所述测试服务器的控制，输出第二测试控制信号至测试台架装置，以使所述测试台架装置产生第二测试数据信息；
29、将所述第一测试数据信息进行反馈，以使所述测试服务器结合获取的所述第一测试控制信号和所述第一测试数据信息，判断所述当前测试对象是否满足预设测试要求；或者，将所述第二测试控制信号进行反馈，以使所述测试服务器结合获取的所述第二测试控制信号和所述第二测试数据信息，判断所述当前测试对象是否满足预设测试要求。
30、根据本专利技术的另一些实施例的测试方法，所述接收测试服务器根据预设测试需求输出的配置数据信息，并根据所述配置数据信息改变当前状态以进入待测状态，包括：
31、根据所述配置数据信息进行参数配置，并将所述参数配置的信息更新至寄存器中。
32、根据本专利技术的另一些实施例的测试方法，所述响应所述第一测试控制信号产生第一测试数据信息，包括：
33、根据所述第一测试控制信号执行相应预设功能后，将内部变量及寄存器的信息作为所述第一测试数据信息；并将所述第一测试数据信息通过swd通信协议传输至所述测试服务器；
34、所述响应所述测试服务器的控制，输出第二测试控制信号至测试台架装置，以使所述测试台架装置产生第二测试数据信息包括：
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【技术保护点】
1.测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述所述待测设备改变当前状态进入待测状态，包括：
3.根据权利要求1或2所述的测试方法，其特征在于，所述待测设备响应所述第一测试控制信号产生第一测试数据信息，包括：
4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述结合获取的所述第一测试控制信号和所述第一测试数据信息，判断所述当前测试对象是否满足预设测试要求包括：
5.根据权利要求1、2或4所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：
6.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：
7.测试方法，其特征在于，包括：
8.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述接收测试服务器根据预设测试需求输出的配置数据信息，并根据所述配置数据信息改变当前状态以进入待测状态，包括：
9.根据权利要求7或8所述的测试方法，其特征在于，所述响应所述第一测试控制信号产生第一测试数据信息，包括：
10.测试方法，其特征在于，包括：
<...【技术特征摘要】
1.测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述所述待测设备改变当前状态进入待测状态，包括：
3.根据权利要求1或2所述的测试方法，其特征在于，所述待测设备响应所述第一测试控制信号产生第一测试数据信息，包括：
4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述结合获取的所述第一测试控制信号和所述第一测试数据信息，判断所述当前测试对象是否满足预设测试要求包括：
5.根据权利要求1、2或4所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：
6.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：
7.测试方法，其特征在于，包括：
8.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述接收测试服务器根据预设测试需求输出的配置数据信息，并根据所述配置数据信息改变当前状态以进入待测状态，包括：
9.根据权利要求7或8所述的测试方法，其特征在于，所述响应所述第一测试控制信号产生第一测试数据信息，包括：
10.测试方法，其特征在于，包括：
11.根据权利要求10所述的测试方法，其特征在于，所述待测设备改变当前状态以...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐峻伟，蔡朱平，杨永超，王佳慧，
申请(专利权)人：上海水木蓝鲸半导体技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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