芯片校准和调试信息管理的方法、装置及计算机存储介质制造方法及图纸

技术编号:39261806 阅读:39 留言:0更新日期:2023-10-30 12:14
本申请实施例公开了一种芯片校准和调试信息管理的方法、装置及计算机存储介质,该方法可以包括以下步骤:在芯片校准和调试信息加载前,判断在第一预设内存区域内是否设置有至少一个空片标志;若判断为是,则确定芯片完成了第一信息的录入和/或调试,并根据第一信息运行芯片;若判断为否,则确定芯片没有完成第一信息的录入和/或调试,并根据预设工作模式运行芯片。实施本申请实施例方法,可以采用多种空片标志判断手段来确定芯片是否完成相关信息的录入或调试,可以有效避免因芯片的空片标志发生数据变化,而以错误参数加载芯片所导致的事故,有助于使芯片处于安全可靠的工作状态,降低芯片出错的概率。降低芯片出错的概率。降低芯片出错的概率。

【技术实现步骤摘要】
芯片校准和调试信息管理的方法、装置及计算机存储介质


[0001]本申请涉及通信
,尤其涉及芯片校准和调试信息管理的方法、装置及计算机存储介质。

技术介绍

[0002]在芯片制造过程中,工厂会对芯片进行多阶段的上电测试,确保芯片各模块能够正常工作。如果在上电测试过程中,将未调试好的芯片接入不合适的电流或电压的话,可能会损坏芯片,从而导致芯片出厂后不能正常工作。
[0003]因此,如何提供一种可靠的判断芯片是否完成调试的方法,是本领域技术人员急需解决的问题。

技术实现思路

[0004]本申请的一个目的在于提供芯片校准和调试信息管理的方法、装置及计算机存储介质,可以在芯片的多个存储区域储存空片标志,有助于硬件电路更好地识别芯片是否完成相关调试工作,从而以合适的、安全的工作参数来对芯片进行上电调试,能够有效避免因误加载芯片而导致芯片损坏的情况。
[0005]第一方面,本申请实施例提供了一种芯片校准和调试信息管理的方法,该方法可以包括以下步骤:
[0006]在芯片校准和调试信息加载前,判断在第一预设内存区域内本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片校准和调试信息管理的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:在芯片校准和调试信息加载前,判断在第一预设内存区域内是否设置有至少一个空片标志,所述第一预设内存区域用于存放所述空片标志;若判断为是,则确定所述芯片完成了第一信息的录入和/或调试,并根据所述第一信息运行所述芯片,所述第一信息包括所述芯片的规格信息、参数修调信息以及安全信息;若判断为否,则确定所述芯片没有完成所述第一信息的录入和/或调试,并根据预设工作模式运行所述芯片,所述预设工作模式指按照预设工作电流或预设工作电压运行芯片。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在芯片校准和调试信息加载前,判断在第一预设内存区域内是否设置有至少一个空片标志空片,包括以下步骤:若所述空片标志为固定序列,则判断在所述第一预设内存区域内是否设置有至少一个与所述空片标志相同的序列空片。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括以下步骤:若所述空片标志不为固定序列,则判断所述第一预设内存区域中的数据序列的特征是否满足预设条件,所述预设条件与所述第一预设内存区域的存储容量有关。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述若判断为否,则确定所述芯片没有完成所述第一信息的录入和/或调试,并根据预设工作模式运行所述芯片,包括以下步骤:若判断为否,则确定所述芯片没有完成所述第一信息的录入和/或调试;擦除所述芯片的内存区域中的所有数据;根据所述预设工作模式运行所述芯片,所述预设工作模式与所述芯片的所述规格信息相关。5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在所述若判断为是,则确定所述芯片完成了第一信息的录入和/或调试,并根据所述第一信息运行所述芯片之后,还包括以下步骤:加载第二预设内存区域的信息,所述第二预设内存区域与存放所述空片标志的第一预设内存区域存在关联关系,所述关联关系用于在所述第一预设内存区域内设置有空片标志时指示所述空片标志对应的...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘跃全刘可陈婷
申请(专利权)人:上海水木蓝鲸半导体技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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