System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种圆柱电芯高速氦检设备的小型化方法技术_技高网

一种圆柱电芯高速氦检设备的小型化方法技术

技术编号:40975485 阅读:2 留言:0更新日期:2024-04-18 21:23
一种圆柱电芯高速氦检设备的小型化方法,包括对注液前的待检电芯进行检测以筛选NG产品,通过在电芯初检和电芯复检之前增设电芯预检步骤,预先筛除漏率较大的NG电芯,进而减少了进入电芯初检和电芯复检的待检电芯,减少了复检工位所需的设备面积。本发明专利技术还通过可交替上下料和氦检的两个腔体,实现了快节拍的氦检和上下料,缩短了电芯初检时的机械动作等待时间,有效提升了氦检的效率,进一步提升了生产线的整体工作效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电芯气密性检测,尤其涉及一种圆柱电芯高速氦检设备的小型化方法


技术介绍

1、圆柱电芯生产线的生产节拍(ppm)极快,通常可达100ppm、150ppm甚至200ppm,即每分钟生产100个、150个甚至200个,而单个电芯的氦检测试时间需要20秒以上。因此业内通常在真空氦检设备内设置大量测试通道以对成组的多个电芯进行初检。在此过程中,单台初检设备能同时检测的电芯数量越多,进行初检所需的设备台数就越少,初检设备占地面积就越小。然而,如此设置的多通道真空氦检设备即使检测出ng也无法获知具体ng电芯是哪一个,所以一旦检测出ng,就需要将整组电芯逐个复检以精确查找到ng电芯。在此过程中,初检设备能同时检测的电芯数量越多,单轮复检所需的设备就越大,复检设备占地面积也越大,因此在设计圆柱电芯生产线时需要找到产品ng率和初检设备测试通道数的平衡点。

2、易于理解地,由于产品ng率根据生产线的实际情况客观存在且能够通过生产数据计算得出,若ng率较大,初检设备内的测试通道也较大,则会使得复检设备对应面积更大,设备占地面积无法控制,不利于提高生产效率。若ng率波动至超过设备的设计能力时,则会发生过载堆料情况,严重影响生产线运作。因此,在ng率确定的前提下,初检设备的测试通道的数量需要根据实际生产情况进行合理配比,才能够减少设备的总体占地面积。即便如此,现有的先成组初检再整组逐一复检的氦检方式也需要不小的占地面积。


技术实现思路

1、本专利技术提供一种圆柱电芯高速氦检设备的小型化方法,包括对注液前的待检电芯进行检测以筛选ng产品,其包括以下步骤:

2、电芯预检:使用第一检测装置以第一漏率对待检电芯逐一进行气密性检测,将电芯漏率大于第一漏率的待检电芯运送并下料至ng生产线,将电芯漏率小于等于所述第一漏率的待检电芯编组后运送并上料至第二检测装置;

3、电芯初检:使用第二检测装置以第二漏率对预检并编组后的待检电芯进行氦检,若电芯漏率大于所述第二漏率,则将整组待检电芯运送至第三检测装置,若电芯漏率小于等于所述第二漏率,则将整组待检电芯下料;

4、电芯复检:使用第三检测装置以所述第三漏率对待检电芯逐一进行氦检,将电芯漏率大于所述第三漏率的待检电芯运送并下料至ng生产线,将电芯漏率小于等于所述第三漏率的待检电芯下料。

5、进一步地,所述电芯漏率q由压力变化量δp、电芯容积v和检测时长t计算而得,计算公式为:

6、

7、进一步地,所述第一漏率、所述第二漏率和所述第三漏率均为标定值。

8、进一步地,所述第一漏率和所述第三漏率进行标定时,所取电芯容积v和检测时长t相同。

9、进一步地,所述第一漏率大于所述第三漏率。

10、进一步地,所述第二检测装置包括上腔体、第一下腔体和第二下腔体,所述第一上腔体上设置有氦检设备,所述第一下腔体和所述第二下腔体分别设置有用于容置所述待检电芯的检测通道,所述上腔体用于在所述第一下腔体和所述第二下腔体中的一个进行上料或下料时,为所述第一下腔体和所述第二下腔体中的另一个进行氦检。

11、进一步地,所述第二检测装置还包括第二真空箱、滑轨总成和滑动平台,所述滑轨总成容置于所述第二真空箱内且与所述第二真空箱固连一体,所述滑动平台可滑动地设置于所述滑轨总成上,所述第一下腔体和所述第二下腔体设置于所述滑动平台上,且能够相对所述上腔体滑动或相对所述上腔体静止。

12、进一步地,所述第一下腔体的检测通道数量和所述第二下腔体的检测通道数量相同。

13、进一步地,所述第一检测装置的检测通道数量大于等于所述第一下腔体中的检测通道数量。

14、进一步地,所述第一检测装置设置于第一真空箱内,所述第三检测装置设置于第三真空箱内,所述第一真空箱、所述第二真空箱和所述第三真空箱集成设置于氦检总成内,所述氦检总成内设置有用于在所述第一真空箱、所述第二真空箱和所述第三真空箱之间运输和上下料的运输带。

15、本专利技术的圆柱电芯高速氦检设备的小型化方法通过在电芯初检和电芯复检之前增设电芯预检步骤,预先筛除漏率较大的ng电芯,进而减少了进入电芯初检和电芯复检的待检电芯,减少了复检工位所需的设备面积。本专利技术还通过可交替上下料和氦检的两个腔体,实现了快节拍的氦检和上下料,缩短了电芯初检时的机械动作等待时间,有效提升了氦检的效率,进一步提升了生产线的整体工作效率。

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【技术保护点】

1.一种圆柱电芯高速氦检设备的小型化方法,其特征在于:包括对注液前的待检电芯进行检测以筛选NG产品,其包括以下步骤:

2.如权利要求1所述的圆柱电芯高速氦检设备的小型化方法,其特征在于:所述电芯漏率Q由压力变化量ΔP、电芯容积V和检测时长t计算而得,计算公式为:

3.如权利要求2所述的圆柱电芯高速氦检设备的小型化方法,其特征在于:所述第一漏率、所述第二漏率和所述第三漏率均为标定值。

4.如权利要求3所述的圆柱电芯高速氦检设备的小型化方法,其特征在于:所述第一漏率和所述第三漏率进行标定时,所取电芯容积V和检测时长t相同。

5.如权利要求4所述的圆柱电芯高速氦检设备的小型化方法,其特征在于:所述第一漏率大于所述第三漏率。

6.如权利要求1所述的圆柱电芯高速氦检设备的小型化方法,其特征在于:所述第二检测装置包括上腔体(4)、第一下腔体(5)和第二下腔体(6),所述第一上腔体(4)上设置有氦检设备,所述第一下腔体(5)和所述第二下腔体(6)分别设置有用于容置所述待检电芯的检测通道,所述上腔体(4)用于在所述第一下腔体(5)和所述第二下腔体(6)中的一个进行上料或下料时,为所述第一下腔体(5)和所述第二下腔体(6)中的另一个进行氦检。

7.如权利要求6所述的圆柱电芯高速氦检设备的小型化方法,其特征在于:所述第二检测装置还包括第二真空箱(1)、滑轨总成(2)和滑动平台(3),所述滑轨总成(2)容置于所述第二真空箱(1)内且与所述第二真空箱(1)固连一体,所述滑动平台(3)可滑动地设置于所述滑轨总成(2)上,所述第一下腔体(5)和所述第二下腔体(6)设置于所述滑动平台(3)上,且能够相对所述上腔体(4)滑动或相对所述上腔体(4)静止。

8.如权利要求6所述的圆柱电芯高速氦检设备的小型化方法,其特征在于:所述第一下腔体(5)的检测通道数量和所述第二下腔体(6)的检测通道数量相同。

9.如权利要求6所述的圆柱电芯高速氦检设备的小型化方法,其特征在于:所述第一检测装置的检测通道数量大于等于所述第一下腔体(5)中的检测通道数量。

10.如权利要求7所述的圆柱电芯高速氦检设备的小型化方法,其特征在于:所述第一检测装置设置于第一真空箱内,所述第三检测装置设置于第三真空箱内,所述第一真空箱、所述第二真空箱(1)和所述第三真空箱集成设置于氦检总成内,所述氦检总成内设置有用于在所述第一真空箱、所述第二真空箱(1)和所述第三真空箱之间运输和上下料的运输带。

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【技术特征摘要】

1.一种圆柱电芯高速氦检设备的小型化方法,其特征在于:包括对注液前的待检电芯进行检测以筛选ng产品,其包括以下步骤:

2.如权利要求1所述的圆柱电芯高速氦检设备的小型化方法,其特征在于:所述电芯漏率q由压力变化量δp、电芯容积v和检测时长t计算而得,计算公式为:

3.如权利要求2所述的圆柱电芯高速氦检设备的小型化方法,其特征在于:所述第一漏率、所述第二漏率和所述第三漏率均为标定值。

4.如权利要求3所述的圆柱电芯高速氦检设备的小型化方法,其特征在于:所述第一漏率和所述第三漏率进行标定时,所取电芯容积v和检测时长t相同。

5.如权利要求4所述的圆柱电芯高速氦检设备的小型化方法,其特征在于:所述第一漏率大于所述第三漏率。

6.如权利要求1所述的圆柱电芯高速氦检设备的小型化方法,其特征在于:所述第二检测装置包括上腔体(4)、第一下腔体(5)和第二下腔体(6),所述第一上腔体(4)上设置有氦检设备,所述第一下腔体(5)和所述第二下腔体(6)分别设置有用于容置所述待检电芯的检测通道,所述上腔体(4)用于在所述第一下腔体(5)和所述第二下腔体(6)中的一个进行上料或下料时,为所述第一下腔体(5)和所述第二下腔体(6)中的...

【专利技术属性】
技术研发人员:应武车章祥房建华
申请(专利权)人:广舜检测技术上海有限公司
类型:发明
国别省市:

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