【技术实现步骤摘要】
本申请涉及钻井测量，尤其是一种测井井眼环境校正方法、系统、装置与存储介质。
技术介绍
1、密度曲线是地震反演和岩石物理建模不可缺少的弹性参数之一，而且由于井眼扩径等环境因素的影响，大多扩径井段密度测井都会出现异常低值，为了校正井眼对密度测井曲线的影响，现有技术中主要通过测量地层密度和计算地层孔隙度，并通过两个参数对测井曲线进行校正。但是，随着井眼的扩大或井壁的变化，密度测井曲线也产生变化，往往使密度测井曲线陡然下降，导致测出的地层密度值准确度比较低。因此，相关技术中仍存在需要解决的技术问题。
技术实现思路
1、本申请的目的在于至少一定程度上解决现有技术中存在的技术问题之一。
2、为此，本申请实施例的一个目的在于提供一种测井井眼环境校正方法、系统、装置与存储介质，该方法可以提高准确度。
3、为了达到上述技术目的，本申请实施例所采取的技术方案包括：一种测井井眼环境校正方法，包括获取测井的初始地层密度、井眼垮塌深度、泥质含量、泥质密度、短源距探测深度、长源距探测深度、测井...
【技术保护点】
1.一种测井井眼环境校正方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述一种测井井眼环境校正方法，其特征在于，所述根据所述初始地层密度、所述泥质含量、所述泥质密度以及所述纯地层密度，确定校正后的目标地层密度这一步骤，具体包括：
3.根据权利要求2所述一种测井井眼环境校正方法，其特征在于，所述根据所述初始地层密度、所述泥质含量、所述泥质密度以及所述纯地层密度，确定第一地层密度这一步骤，具体包括：
4.根据权利要求2所述一种测井井眼环境校正方法，其特征在于，所述根据所述初始地层密度以及所述第一地层密度，确定所述目标地层密度这一步骤，具体
...
【技术特征摘要】
1.一种测井井眼环境校正方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述一种测井井眼环境校正方法，其特征在于，所述根据所述初始地层密度、所述泥质含量、所述泥质密度以及所述纯地层密度，确定校正后的目标地层密度这一步骤，具体包括：
3.根据权利要求2所述一种测井井眼环境校正方法，其特征在于，所述根据所述初始地层密度、所述泥质含量、所述泥质密度以及所述纯地层密度，确定第一地层密度这一步骤，具体包括：
4.根据权利要求2所述一种测井井眼环境校正方法，其特征在于，所述根据所述初始地层密度以及所述第一地层密度，确定所述目标地层密度这一步骤，具体包括：
5.根据权利要求1所述一种测井井眼环境校正方法，其特征在于，所述根据所述长源距探测深度、所述井眼垮塌深度、所述测井泥浆密度、所述岩石骨架密度、所述孔隙流体密度以及所述孔隙度，确定长源距探测器的第一密度响应...
【专利技术属性】
技术研发人员：钟超，陆敬安，康冬菊，谢莹峰，余晗，
申请(专利权)人：广州海洋地质调查局，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。