状态监视系统和状态监视方法技术方案

技术编号：40959869 阅读：3 留言：0更新日期：2024-04-18 20:37

提供一种能高精度地检测AE波的状态监视系统及状态监视方法。因此，AE波提取电路(55)从来自声学传感器(23)的探测信号(SS)中提取以三维层叠造型的造型对象即造型体为产生源的AE波(AEW)。AE波分析电路(56)分析由AE波提取电路(55)提取的AE波(AEW)。在此，AE波提取电路(55)具备噪声阻断电路，所述噪声阻断电路使用带阻滤波器阻断在AE波(AEW)的频带内产生的第一干扰噪声。

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【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术涉及状态监视系统和状态监视方法，例如涉及对附加制造法中的三维层叠造型的状态进行监视的技术。

技术介绍

1、在专利文献1中，示出了在附加制造工艺中通过用麦克风测定由熔池产生的声能来生成测定声学分布，通过比较该测定声学分布和已知的基准声学分布来判别有无缺陷的方法。

2、现有技术文献

3、专利文献

4、专利文献1：日本特开2017-94728号公报

技术实现思路

1、专利技术所要解决的技术问题

2、近年来，为了制造具有复杂形状的造型体，使用了3d打印机等造型装置。使用这样的造型装置的附加制造方法也被称为三维层叠造型。由三维层叠造型制造的造型体有时会包含缺陷。另一方面，已知造型体随着缺陷的产生将积蓄在内部的弹性能量作为特有的声波释放。这样，以造型体为产生源的特有的声波被称为ae(acoustic emission：声发射)波。专利文献1的方法在造型体的造型中的期间，用麦克风监视经由空间传播的声波，根据其中是否包含ae波来判别有无缺陷。

3、在此，ae波不限于空间，可以经由固体传播。经由固体传播的ae波由声学传感器探测。不过，除了ae波之外，由声学传感器探测的声波之中还能包含干扰噪声。在干扰噪声的强度大的情况下，ae波被干扰噪声埋没，缺陷的检测可能变得困难。因此，为了阻断干扰噪声，在声学诊断的行业中，通常使用利用带通滤波器等使ae波的频带通过并阻断其他频带的方法。由此，例如能够阻断在机械要素中可能产生的低频、例如几khz以下的干扰噪声。

4、但是，通过本专利技术者等的研究而明确了：在金属层叠造型中，仅通过作为音响诊断行业中一般的方法的阻断低频的干扰噪声的方法，有可能无法高精度地检测ae波。当ae波的检测精度降低时，缺陷的检测精度也降低。特别是，为了不仅进行专利文献1那样的有无缺陷的判别还进行造型体的高精度的质量管理，在想要判别缺陷的状态的情况下，高精度地检测ae波变得重要。

5、本专利技术是鉴于这样的情况而完成的，其目的之一在于提供一种能高精度地检测ae波的状态监视系统和状态监视方法。

6、用于解决技术问题的方案

7、如果简单地说明在本申请中公开的专利技术中的代表性的实施方式的概要，则为如下所示。

8、本专利技术的代表性的实施方式的状态监视系统监视三维层叠造型的状态，并且具有通过探测声波来输出探测信号的声学传感器、ae波提取电路以及ae波分析电路。ae波提取电路从来自声学传感器的探测信号之中提取以三维层叠造型的造型对象即造型体为产生源的ae波。ae波分析电路分析由ae波提取电路提取到的ae波。在此，ae波提取电路具备噪声阻断电路，所述噪声阻断电路使用带阻滤波器阻断在ae波的频带内产生的第一干扰噪声。

9、专利技术效果

10、根据本申请，能高精度地检测ae波。

11、上述以外的技术问题、构成以及效果通过用于实施以下专利技术的方式的说明而被明确。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种状态监视系统，监视三维层叠造型的状态，具有：

2.根据权利要求1所述的状态监视系统，其中，

3.根据权利要求1或2所述的状态监视系统，其中，

4.根据权利要求3所述的状态监视系统，其中，

5.根据权利要求3或4所述的状态监视系统，其中，

6.根据权利要求3至5中任一项所述的状态监视系统，其中，

7.根据权利要求3至5中任一项所述的状态监视系统，其中，

8.根据权利要求7所述的状态监视系统，其中，

9.根据权利要求1至8中任一项所述的状态监视系统，其中，

10.根据权利要求1至9中任一项所述的状态监视系统，其中，

11.根据权利要求1所述的状态监视系统，其中，

12.一种状态监视方法，监视三维层叠造型的状态，

13.根据权利要求12所述的状态监视方法，其中，

14.根据权利要求12或13所述的状态监视方法，其中，

15.根据权利要求14所述的状态监视方法，其中，

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】