【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测试夹具，尤其涉及一种引脚老化测试用夹具。
技术介绍
1、集成电路老化测试是确保集成电路质量和可靠性的重要环节。传统的集成电路老化测试方法需要将测试夹具放入密闭空间（老化炉）中，控制密闭空间内的环境温度，以达到加快集成电路达到使用寿命的目的。
2、然而，在传统的测试老化过程中，需要手动接线，当接线数量过多时，手动接线需要消耗较多的时间，且裸露在外的导向存在接线不良、接线短路等问题，会造成安全隐患。这些问题不仅影响测试效率，还可能导致测试结果不准确，给集成电路的生产和应用带来风险。
技术实现思路
1、为了克服上述现有技术所述的至少一种缺陷，本专利技术提供一种引脚老化测试用夹具。可实现去人工化的自动夹持及接线，提高接线精准度及安全性，同时将接线装置与夹具集成设计，降低了设备空间占用，有利于推广。
2、本专利技术为解决其问题所采用的技术方案是：
3、一种引脚老化测试用夹具，包括：底板；第一夹持机构，所述第一夹持机构装配于所述底板的一侧，所述第一夹...
【技术保护点】
1.一种引脚老化测试用夹具，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种引脚老化测试用夹具，其特征在于，还包括驱动设备(5)，所述驱动设备(5)包括：
3.根据权利要求2所述的一种引脚老化测试用夹具，其特征在于，所述第一夹持机构(2)和第二夹持机构(3)均包括：
4.根据权利要求3所述的一种引脚老化测试用夹具，其特征在于，所述夹持件(32)上设置有限位孔(323)，所述限位孔(323)内设置有限位装置(6)，所述限位装置(6)包括：
5.根据权利要求4所述的一种引脚老化测试用夹具，其特征在于，所述限位装置(6)的限位...
【技术特征摘要】
1.一种引脚老化测试用夹具，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种引脚老化测试用夹具，其特征在于，还包括驱动设备(5)，所述驱动设备(5)包括：
3.根据权利要求2所述的一种引脚老化测试用夹具，其特征在于，所述第一夹持机构(2)和第二夹持机构(3)均包括：
4.根据权利要求3所述的一种引脚老化测试用夹具，其特征在于，所述夹持件(32)上设置有限位孔(323)，所述限位孔(323)内设置有限位装置(6)，所述限位装置(6)包括：
5.根据权利要求4所述的一种引脚老化测试用夹具，其特征在于，所述限位装置(6)的限位杆(62)与所述驱动设备(5)的驱动方向平行。
6.根据权利要求4所述的一种引脚老化测试用夹具，其特征在于，所述第一夹持机构(2)的固定件(61)...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨剑兵，
申请(专利权)人：杭州鸿拓精密机械制造有限公司，
类型：发明
国别省市：
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