【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于透射电镜图像处理，具体涉及一种针对透射电镜图像的处理方法及系统。
技术介绍
1、透射电子显微镜(transmission electron microscope，缩写tem)，简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像经放大、聚焦后将在成像器件(如荧光屏、胶片以及感光耦合组件)上显示出来。
2、由于透射电镜需要很高的时间分辨率来清晰地展现一个动力学过程，所以每一次都需要尽可能将采集工作完成得细致，如果采取传统的处理方式，往往会容易造成随机误差，影响后续分析工作。
技术实现思路
1、本专利技术旨在解决现有技术的不足，提供了如下方案：
2、一种针对透射电镜图像的处理方法，包括以下步骤：
3、提取采集到的原始电镜图像，对所述原始电镜图像进行还原处理，得到还原后电镜图像；
4、对所述还原后电镜图像进...
【技术保护点】
1.一种针对透射电镜图像的处理方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述一种针对透射电镜图像的处理方法，其特征在于，所述还原处理的方法包括：
3.根据权利要求1所述一种针对透射电镜图像的处理方法，其特征在于，所述去噪处理的方法包括：
4.根据权利要求1所述一种针对透射电镜图像的处理方法，其特征在于，所述边缘特征提取的方法包括：
5.根据权利要求4所述一种针对透射电镜图像的处理方法，其特征在于，所述骨架提取的方法包括：
6.一种针对透射电镜图像的处理系统，所述处理系统应用权利要求1-5任一项所述的...
【技术特征摘要】
1.一种针对透射电镜图像的处理方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述一种针对透射电镜图像的处理方法，其特征在于，所述还原处理的方法包括：
3.根据权利要求1所述一种针对透射电镜图像的处理方法，其特征在于，所述去噪处理的方法包括：
4.根据权利要求1所述一种针对透射电镜图像的处理方法，其特征在于，所述边缘特征提取的方法包括：
5.根据权利要求4所述一种针对透射电镜图像的处理方法，其特征在于，所述骨架提取的方法包括：
6.一种针对透射电镜图像的处理系统，所述处理系统应用权利要求1-5任一项所述的处理方法，其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员：韩冰莹，刘晔，刘宇荣，潘铖楷，石能，
申请(专利权)人：太原理工大学，
类型：发明
国别省市：
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