一种X射线检测方法技术

技术编号:4094399 阅读:145 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种X射线检测方法,包括下列步骤:(1)同步采样被检测物的透射图以及背散射图;(2)对上述透射图以及背散射图进行坐标校正并匹配,形成同时显示被检测物透射信息和背散射信息的综合图;(3)提取背散射图的危险物体的区域以及区域特征;(4)匹配对应的透射图中对应的危险物体的区域;以及,(5)在所述综合图中匹配相对应的区域上做上标记并显示出来。该种方法能够实现透射图和背散射图融合,进一步丰富安检图像信息,提高安检员的观察和识别效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种X射线检测方法,尤其涉及一种同时拥有X射线透视技术和背散 射技术的多检测技术的检测方法,属于安全检测

技术介绍
目前,随着X射线安全探测技术的发展,在一台安检机上同时有多种检测技术或 多检测视角已经变得越来越普遍,这样就可以对被检测物提供多种检测手段或多检测视 角,从而为安检员提供更丰富和更全面的检测信息,提高安检员的检测效率和准确性。但随着多检测技术和多检测视角方式的应用,安检员需要同时观察多个显示器的 图像进行对比,这样无疑加重了安检员的负担,降低了工作效率;同时透射图和背散射图之 间相互独立,缺乏相应的关联度,也不利于更好的发挥其互补的特点。因此,提供一种能将透射图和背散射图融合并显示在一起的方法成为了一种需 要,以便给将两者的各自特点在统一的空间坐标上同时展现出来,更好的提高检测质量。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于,克服现有透视图和背散射图在空间坐标上缺乏 关联性,不易在两幅图上对被检测物同一部分定位。为了解决上面的技术问题,本专利技术提出了一种X射线检测方法以及采取该种X射 线检测方法的X射线检测系统,能够实现在一副图像上同时显示被检物透射信息和背散射 信息,其具体技术方案如下面所描述一种X射线检测方法,包括下列步骤(1)同步采样被检测物的透射图以及背散射(2)对上述透射图以及背散射图进行坐标校正并匹配,形成同时显示被检测物透射信 息和背散射信息的综合(3)提取背散射图的危险物体的区域以及区域特征;(4)匹配对应的透射图中对应的危险物体的区域;以及,(5)在所述综合图中匹配相对应的区域上做上标记并显示出来。进一步地,优选的方法是,步骤(1)中,所述同步采样是在竖直方向上进行多次点 扫描进行的。进一步地,优选的方法是,步骤(1)中,所述被检测物的透射图以及背散射图的宽 度和高度都是相同的。进一步地,优选的方法是,所述同步采样通过时间积分的控制方式进行控制,实现 被检测物的透射图以及背散射图是同步采样的。进一步地,优选的方法是,步骤(1)中,进一步包括(11)X射线源发射点光束,穿 过被检测物落到透射探测器上形成透射图上一点,同时由被检测物散射落在背散射探测器 上形成背散射图上的一点;(12)判断是否完成一个周期图像的采集;(13)重复步骤(11),3继续下一个点的采集,最后形成被检测物的透射图以及背散射图。进一步地,优选的方法是,步骤(2)中,进一步包括(1)提取透射图和背散射图内 物体边缘对应特征;(2)进行空间坐标校正;(3)进行透射图和背散射像匹配,形成同 时显示被检测物透射信息和背散射信息的综合图。进一步地,优选的方法是,步骤(3)中,是根据背散射图像中危险品亮度较高的特 征,通过阈值等提取方式获得所有危险品区域集合的。进一步地,优选的方法是,步骤(5)中,进行标记时是在对应危险品图像区域进行 加亮并显示突出的色彩。采用本专利技术所述X射线检测方法以后,与现有技术相比,可以实现将透射图像与 背散射图像在一幅图像上的融合,进一步丰富了安检图像信息,加强了两种检测技术的关 联度,提高了安检员的观察和识别效率,具有较好的技术效果。附图说明通过下面结合附图对其示例性实施例进行的描述,本专利技术的上述特征和优点将会 变得更加清楚和容易理解。图1是本专利技术X射线检测方法的系统的结构模块框图; 图2是本专利技术X射线检测方法采集时候的同步控制流程图; 图3是本专利技术X射线检测方法的实施例的具体流程图。具体实施例方式以下结合附图对本专利技术所述技术方案的实施作进一步的详细描述本专利技术是一种X射线透视图和背散射图融合的方法,其所采用的系统主要包括χ射线 源;透射探测器、背散射探测器以及准直部件;图像处理部件以及显示部件;所述图像处理 部件包括,图像内物体边缘提取部件、图像内物体边缘匹配部件、空间坐标映射部件以及图 像融合部件;其中,从透射探测器以及背散射探测器采集的透射图和背散射图经过图像处 理部件的空间坐标匹配以及融合处理,在显示部件上形成一幅同时显示被检测物透射信息 和背散射信息的综合图。具体实施的设备包括X射线源设备,发射X射线;准直器,将X射线变成X射线光 束;透射探测器,探测穿过被检测物体的射线,获得透射信号;背散射探测器,探测被检测 物体的散射射线,获得背散射信号;探测器数据采集控制设备,定时协调采集两个探测器的 探测信号,形成对应的图像灰度值;工控机,对采集的图像灰度值进行图像处理,形成透射 图,背散射图和融合图;显示器,显示最终形成的检测图像。图1是本专利技术X射线检测方法的系统的结构模块框图。如图所示,其主要包括采 集控制模块;透射探测器采集模块;背散射探测器模块;图像内物体边缘提取模块;图像内 物体边缘匹配模块;空间坐标映射模块;危险品提取模块;图像融合模块,各个模块互相组 合起来形成一个X射线检测系统。采用上述的X射线检测系统以后,借助于一个射线源和时间积分,能够实现透射 图和背散射图同步采样,进一步利用图像配准技术进行空间区域的匹配,再利用透射图和 背散射图各自优势和特点进行加权信息融合,实现在一副图像上同时显示被检物透射信息和背散射信息,具有较好的技术效果。下面就本专利技术X射线检测方法的具体流程进行一个简单的描述。图3是本专利技术X射线检测方法的实施例的具体流程图。具体来讲,本专利技术X射线检测方法,包括下列步骤(1)同步采样被检测物的透射图以及背散射(2)对上述透射图以及背散射图进行坐标校正并匹配,形成同时显示被检测物透射信 息和背散射信息的综合(3)提取背散射图的危险物体的区域以及区域特征;(4)匹配对应的透射图中对应的危险物体的区域;以及,(5)在所述综合图中匹配相对应的区域上做上标记并显示出来。首先,打开X射线源,开始一个竖面采集周期;我们利用一个射线源发射点光束,穿过被检测物落在透射探测器上形成透射图上的一 点,同时由被检测物散射落在背散射探测器上形成背散射图上的一点。接着,采集模块控制 透射探测器定时对竖面对应的所有探测点依次采集数据,同时根据透射采集的时间特性, 协调背散射探测器同步也对竖面对应的所有探测点依次采集数据。由于我们每次的采样都是在竖直方向上进行完成扫描的,并且,在竖直方向上的 一次完整扫描中,通过时间的积分计算来保证背散射的每次探测和透射的每次探测尽可能 同步。基于上面的采集方式,决定了我们在采集控制下背散射图像与透射图像的宽度和高 度相同,但图像内部的每个物品高度可能有一定偏差的特征,因此,我们需要经过图像处理 装置,通过提取图像内物体边缘特征并匹配,对两幅图像进行一定的空间坐标校正。基于这些特征,我们对采集的透射图和背散射图像内部物体进行边缘提取,接着 对两个图像内部物体边缘进行匹配和计算,即可得出两个图像间的空间坐标变换函数。经过上述步骤以后,我们就可以在显示部件上面形成一幅同时显示被检测物透射 信息和背散射信息的综合图像。由于传统上面的多检测技术和多检测视角方式,安检员需要同时观察多个显示器 的图像进行对比,这样无疑加重了安检员的负担,降低了工作效率;同时透射图和背散射图 之间相互独立,缺乏相应的关联度,也不利于更好的发挥其互补的特点。在获得了上述综合图像以后,我们就需要进行X射线检测以及危险品表征以及显 示,从而得到更好的检测效果本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种X射线检测方法,其特征在于,包括下列步骤:(1)同步采样被检测物的透射图以及背散射图;(2)对上述透射图以及背散射图进行坐标校正并匹配,形成同时显示被检测物透射信息和背散射信息的综合图;(3)提取背散射图的危险物体的区域以及区域特征;(4)匹配对应的透射图中对应的危险物体的区域;以及,(5)在所述综合图中匹配相对应的区域上做上标记并显示出来。

【技术特征摘要】
一种X射线检测方法,其特征在于,包括下列步骤(1)同步采样被检测物的透射图以及背散射图;(2)对上述透射图以及背散射图进行坐标校正并匹配,形成同时显示被检测物透射信息和背散射信息的综合图;(3)提取背散射图的危险物体的区域以及区域特征;(4)匹配对应的透射图中对应的危险物体的区域;以及,(5)在所述综合图中匹配相对应的区域上做上标记并显示出来。2.根据权利要求1所述的X射线检测方法,其特征在于,步骤(1)中,所述同步采样是 在竖直方向上进行多次点扫描进行的。3.根据权利要求1所述的X射线检测方法,其特征在于,步骤(1)中,所述被检测物的 透射图以及背散射图的宽度和高度都是相同的。4.根据权利要求1或2所述的X射线检测方法,其特征在于,所述同步采样通过时间积 分的控制方式进行控制,实现被检测物的透射图以及背散射图是同步采样的。5.根据权利要求2或3所述的X射线检测方法,其特征在于,步骤...

【专利技术属性】
技术研发人员:吕冬煜朱春雨董明
申请(专利权)人:上海英迈吉东影图像设备有限公司
类型:发明
国别省市:31[中国|上海]

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