【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片自动化测试，具体而言，涉及一种基于仿真器的芯片自动化测试方法及系统。
技术介绍
1、在芯片研发周期中，验证和测试占据着最长的时间，而测试作为芯片产品研发的最后一道门槛，是产品质量的保证，非常重要。但是测试往往需要耗费大量的时间成本以及人力成本。
2、随着技术的发展，在芯片行业对测试自动化的需求越来越高，并希望从繁杂的测试中不断释放人力和时间成本。然而soc一类芯片通常包含多个数模混合模块，数量可达到20-30个，从测试角度看，测试项以及测试用例非常多。在完整测试下，传统手动测试实际需要2-3个月时间。
3、通常在芯片测试中，需要固件作为测试代码，通过芯片内部核心执行不同功能的代码，根据代码功能完成不同模块的配置和使用。测试时，工程师一般使用通信接口和被测试芯片(design under test，dut)进行交互，在上位机上发出不同指令，控制dut执行不同的测试用例，以对芯片做出相应的配置，从而使芯片处于不同的待测试状态。
4、这种测试用例控制执行方法需要基于串行通信协议uart/iic/spi类不同模块的通信接口，开发对应交互程序，开发阶段需要上下位机测试工程师联合进行调试。
5、此外，在测试数据处理方面，芯片通常只有较低的算力，尤其是中低端芯片只能够完成简单的数据处理，复杂数据处理需要通过通信手段传输到上位机再进行处理以及输出测试报告。
6、专利cn114138667一种芯片驱动程序自动化测试系统以及测试方法中，提出芯片所有外设接口均与fpga监控单元
7、在所述
技术介绍
部分公开的上述信息仅用于加强对本申请的背景的理解，因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
1、为了解决上述问题中的至少一个，本申请提出一种基于仿真器的芯片自动化测试方法及系统。
2、根据本申请的第一方面，本申请的至少一个实施例提供了一种基于仿真器的芯片自动化测试方法，包括：仿真器将编译生成的hex文件下载至待测芯片；上位机调用预设的执行测试用例，根据与所述待测芯片连接的api接口的函数名解析所述执行测试用例中的map文件，并确定所述map文件中的数据；所述上位机通过所述仿真器将所述数据传输至所述待测芯片，并将所述数据存储于所述待测芯片的命令帧地址空间；所述待测芯片根据所述命令帧地址空间数据中api段数据，跳转至各段数据对应的执行测试用例api，轮询解析所述命令帧地址空间中的数据，并执行执行测试用例中的配置，以使所述待测芯片处于待测状态；所述上位机程序控制测试仪器对所述待测芯片进行测试，以获取测试数据，处理并输出所述待测芯片执行测试用例的测试结果。
3、例如，在本申请的一些实施例中，所述数据包括执行测试用例的入口数据和所述待测芯片中存放命令帧的地址空间数据。
4、例如，在本申请的一些实施例中，所述上位机通过所述仿真器将所述数据传输至所述待测芯片，并将所述数据存储于所述待测芯片的命令帧地址空间，包括：所述上位机将所述入口数据和所述执行测试用例中的参数数据组成命令帧；所述上位机根据所述地址空间数据，将所述命令帧通过所述仿真器传输至所述待测芯片，并存储于所述待测芯片的命令帧地址空间。
5、例如，在本申请的一些实施例中，所述将所述数据存储于所述待测芯片的命令帧地址空间，包括：所述仿真器将所述命令帧写入所述地址空间数据。
6、例如，在本申请的一些实施例中，所述上位机程序控制测试仪器对所述待测芯片进行测试，以获取测试数据，处理并输出所述待测芯片执行测试用例的测试结果，包括：所述测试仪器根据所述待测芯片需要执行的测试，输出对应的激励；所述测试仪器获取所述待测芯片根据所述激励产生的测试结果并输出给所述上位机。
7、根据本申请的第二方面，本申请的至少一个实施例提供了一种基于仿真器的芯片自动化测试系统，其特征在于，用于执行如第一方面中任一项所述的测试方法，所述系统包括：仿真器，用于将编译生成的hex文件下载至待测芯片；上位机，用于调用预设的执行测试用例，根据与所述待测芯片连接的api接口的函数名解析所述执行测试用例中的map文件，并确定所述map文件中的数据；所述上位机与所述仿真器连接，通过所述仿真器将所述数据传输至所述待测芯片，并将所述数据存储于所述待测芯片的命令帧地址空间；待测芯片，用于根据所述命令帧地址空间数据中api段数据，跳转至各段数据对应的执行测试用例api，轮询解析所述命令帧地址空间中的数据，并执行执行测试用例中的配置，以使所述待测芯片处于待测状态；测试仪器，与所述上位机连接，用于接受所述上位机的程序控制，以对所述待测芯片进行测试，获取测试数据，并转发所述待测芯片执行测试用例的测试结果给所述上位机；所述上位机还用于处理并输出所述待测芯片执行测试用例的测试结果。
8、例如，在本申请的一些实施例中，包括：所述上位机还用于将所述入口数据和所述执行测试用例中的参数数据组成命令帧；并根据所述地址空间数据，将所述命令帧通过所述仿真器传输至所述待测芯片，以存储于所述待测芯片的命令帧地址空间。
9、例如，在本申请的一些实施例中，所述测试仪器还用于根据所述待测芯片需要执行的测试，输出对应的激励；并获取所述待测芯片根据所述激励产生的测试结果，输出给所述上位机。
10、根据本申请的第三方面，本申请的至少一个实施例提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器；存储器，用于存储一个或多个程序；当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器执行如第一方面中任一项所述的方法。
11、根据本申请的第四方面，本申请的至少一个实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现如第一方面中任一所述的方法。
12、本申请提供的一种基于仿真器的芯片自动化测试方法及系统，可以用于不同芯片的测试项目中。本申请创新使用仿真器设备配合待测芯片的测试固件来控制待测芯片执行的技术方法，在硬件上不需要其它通信接口的接入，在软件上也不再需要进行通信程序设计。
13、测试全流程在上位机中软件控制运行，实现芯片的全自动化测试；上位机测试代码也可以完全复用，只需要按照相同api接口开发下位机测试代码即可，可以使得在芯片测试的多个流程中加快本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种基于仿真器的芯片自动化测试方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述数据包括执行测试用例的入口数据和所述待测芯片中存放命令帧的地址空间数据。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述上位机通过所述仿真器将所述数据传输至所述待测芯片，并将所述数据存储于所述待测芯片的命令帧地址空间，包括：
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述将所述数据存储于所述待测芯片的命令帧地址空间，包括：
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述上位机程序控制测试仪器对所述待测芯片进行测试，以获取测试数据，处理并输出所述待测芯片执行测试用例的测试结果，包括：
6.一种基于仿真器的芯片自动化测试系统，其特征在于，用于执行如权利要求1-5中任一项所述的测试方法，所述系统包括：
7.如权利要求6所述的系统，其特征在于，包括：
8.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述测试仪器还用于根据所述待测芯片需要执行的测试，输出对应的激励；并获取所述待测芯片根据所述激励产生的测试结果，输出给所
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时实现如权利要求1-5中任一所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种基于仿真器的芯片自动化测试方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述数据包括执行测试用例的入口数据和所述待测芯片中存放命令帧的地址空间数据。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述上位机通过所述仿真器将所述数据传输至所述待测芯片，并将所述数据存储于所述待测芯片的命令帧地址空间，包括：
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述将所述数据存储于所述待测芯片的命令帧地址空间，包括：
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述上位机程序控制测试仪器对所述待测芯片进行测试，以获取测试数据，处理并输出所述待...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵威，沈进旗，施惠丰，
申请(专利权)人：钜泉科技南京有限公司，
类型：发明
国别省市：
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