【技术实现步骤摘要】
本技术涉及承载装置,特别是一种x射线衍射仪用原位电场样品台。
技术介绍
1、外场作用下材料的微观结构变化与其宏观使役性质休戚相关,x射线衍射作为一种研究晶体结构的重要手段,材料在外加电场作用下的晶格结构畸变可以直接通过其x射线衍射谱的变化进行表征,即对衍射峰的位置、强度和形状进行分析,从而建立晶格变化与电场的作用关系,对材料压电性能的起源及演化研究具有重要意义。但是由于目前缺乏商业化的适用于x射线衍射仪的原位电场样品台,导致相关表征手段难以普及,限制了研究人员对于材料电场诱导相变机制的理解。因此发展安装简便、使用方便有效的原位电场承样品台显得非常必要。
2、当在长方体形状的块体样品两侧加载电场时,提高电场强度可通过提高电压或减小样品厚度来实现。然而加载过高的电压可能会造成空气电离或样品击穿的情况,因此通常以减小样品厚度来提高电场强度。当样品厚度仅为0.5~3mm时,测试面就会比较小,这里存在如何保证x射线照射在样品的测试面上的问题。利用衍射仪的尤拉环平台,可以通过调节其x、y、z轴来调整样品的位置和高度,最终保证x射线照射在
...【技术保护点】
1.一种X射线衍射仪用原位电场样品台,其特征在于,包括,
2.根据权利要求1所述的X射线衍射仪用原位电场样品台,其特征在于,
3.根据权利要求2所述的X射线衍射仪用原位电场样品台,其特征在于,
4.根据权利要求3所述的X射线衍射仪用原位电场样品台,其特征在于,
5.根据权利要求3所述的X射线衍射仪用原位电场样品台,其特征在于,
6.根据权利要求5所述的X射线衍射仪用原位电场样品台,其特征在于,
7.根据权利要求3-6中任一项所述的X射线衍射仪用原位电场样品台,其特征在于,
8.根据权利
...【技术特征摘要】
1.一种x射线衍射仪用原位电场样品台,其特征在于,包括,
2.根据权利要求1所述的x射线衍射仪用原位电场样品台,其特征在于,
3.根据权利要求2所述的x射线衍射仪用原位电场样品台,其特征在于,
4.根据权利要求3所述的x射线衍射仪用原位电场样品台,其特征在于,
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【专利技术属性】
技术研发人员:阮音捷,程国峰,
申请(专利权)人:中国科学院上海硅酸盐研究所,
类型:新型
国别省市:
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