System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种雪崩光电二极管APD、相关设备和网络制造技术_技高网

一种雪崩光电二极管APD、相关设备和网络制造技术

技术编号:40929329 阅读:2 留言:0更新日期:2024-04-18 14:51
本申请实施例公开了一种雪崩光电二极管APD、相关设备和网络,用于降低APD的过剩噪声。本申请实施例提供的APD包括:吸收层、倍增层和第一欧姆接触层。倍增层包括在第一平面上分布的多个倾斜电场结构。吸收层和第一欧姆接触层在第一平面的不同侧,在吸收层上产生的载流子穿过多个倾斜电场结构,传输至第一欧姆接触层。多个倾斜电场结构用于加速载流子。

【技术实现步骤摘要】

本申请实施例涉及半导体领域,尤其涉及一种雪崩光电二极管apd、相关设备和网络。


技术介绍

1、光电探测器用于将光信号转变为电信号。雪崩光电二极管(avalanchephotodiode,apd)是一种常用光电探测器。apd通过载流子的雪崩倍增效应来放大信号,可以实现更高的检测灵敏度。

2、在apd中,不同的光生载流子的倍增增益不同,导致倍增后的电流具有随机起伏的特性。这种起伏引入的附加噪声被称为倍增噪声,又称为过剩噪声。

3、某些场景对apd灵敏度的要求较高,若apd的过剩噪声过高,则导致信噪比过小,从而导致apd无法满足灵敏度要求。


技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种雪崩光电二极管apd、相关设备和网络,通过多个倾斜电场结构来加速载流子,从而降低过剩噪声,提升apd的灵敏度。

2、第一方面,本申请实施例提供了一种雪崩光电二极管apd,该apd包括:吸收层、倍增层和第一欧姆接触层。其中,倍增层包括在第一平面上分布的多个倾斜电场结构。吸收层和第一欧姆接触层在第一平面的不同侧。吸收层可以产生载流子(光生载流子),在吸收层上产生的载流子穿过多个倾斜电场结构后,传输至第一欧姆接触层。多个倾斜电场结构用于加速流经的载流子。

3、在本申请实施例中,倾斜电场结构可以产生倾斜电场,使得越靠近第一欧姆接触层,电场强度越高。在倍增层中,通过多个倾斜电场结构的倾斜电场来加速载流子,将载流子进行雪崩离化的位置控制在更高电场强度的位置上(即倍增层上更靠近第一欧姆接触层的位置)。使得载流子发生雪崩离化的区域更加集中,从而降低雪崩离化的随机性,降低apd的等效k值,降低apd的过剩噪声。

4、在一种可选的实现方式中,倍增层位于吸收层的第一方向(例如下方),吸收层上产生的载流子沿第一方向流经倍增层。倍增层还包括至少一个连接区域,该至少一个连接区域用于隔开多个倾斜电场结构。吸收层上开设有与至少一个连接区域对应的至少一个槽,至少一个连接区域在至少一个槽的第一方向上。

5、在本申请实施例中,在倍增层上,多个倾斜电场结构由于能产生倾斜的电场,所以为低k值区域;连接区域由于不具备产生倾斜电场的功能,因此k值较高。通过在吸收层上开设与连接区域对应的槽,减小吸收层上与连接区域对应的位置(即槽所在的位置)所产生的载流子(光生载流子)数量,从而减小流经连接区域的载流子数量,减小apd的等效k值,降低apd的过剩噪声。

6、在一种可选的实现方式中,吸收层被至少一个槽贯通。

7、在本申请实施例中,使槽贯通吸收层,可以防止连接区域上方的吸收层区域产生载流子,可以更好地减小流经连接区域的载流子数量,从而更好地减小apd的等效k值,降低apd的过剩噪声。

8、在一种可选的实现方式中,至少一个槽的底部在吸收层内(即吸收层未被至少一个槽贯通)。

9、在本申请实施例中,相较于贯通吸收层,若至少一个槽未贯通吸收层,则与槽的底部接触的吸收层材料可以加强吸收层的结构稳定性,从而加强apd的结构稳定性。

10、在一种可选的实现方式中,倍增层位于吸收层的第一方向(例如下方),在吸收层上产生的载流子沿第一方向流经倍增层。倍增层还包括至少一个连接区域,该至少一个连接区域用于隔开多个倾斜电场结构。吸收层包括与至少一个连接区域对应的至少一个遮光区域,该至少一个连接区域在至少一个遮光区域的第一方向上。

11、在本申请实施例中,在倍增层上,多个倾斜电场结构由于能产生倾斜的电场,所以为低k值区域;连接区域由于不具备产生倾斜电场的功能,因此k值较高。通过吸收层上与连接区域对应的遮光区域,减小吸收层上与连接区域对应的位置(即遮光区域所在的位置)所产生的载流子(光生载流子)数量,从而减小流经连接区域的载流子数量,减小apd的等效k值,降低apd的过剩噪声。

12、在一种可选的实现方式中,apd还包括第二欧姆接触层,第二欧姆接触层与倍增层在吸收层的不同侧。在第二欧姆接触层上远离吸收层的一侧(例如apd的上表面),开设有多个孔,该多个孔形成超表面结构。

13、在本申请实施例中,可以通过超表面结构实现光的横向谐振,从而增大吸收层对光的吸收率,提升apd的响应度。

14、在一种可选的实现方式中,apd还包括第二欧姆接触层,第二欧姆接触层与倍增层在吸收层的不同侧。在第二欧姆接触层上远离吸收层的一侧(例如apd的上表面),包括多个凸起,该多个凸起形成超表面结构。

15、在本申请实施例中,可以通过超表面结构实现光的横向谐振,从而增大吸收层对光的吸收率,提升apd的响应度。

16、在一种可选的实现方式中,倍增层包括倾斜电场结构和倍增层基材。其中,倾斜电场结构的掺杂浓度低于倍增层基材的掺杂浓度,且倾斜电场结构在倍增层基材与吸收层之间。

17、在一种可选的实现方式中,吸收层、倍增层和第一欧姆接触层包括ⅲ-ⅴ族材料或ge/si体系材料。

18、第二方面,本申请实施例提供了一种采集设备,该采集设备包括第一方面所述的apd。

19、第三方面,本申请实施例提供了一种光通信设备,该光通信设备包括第一方面所述的apd。

20、第四方面,本申请实施例提供了一种光通信网络,该光通信网络包括第三方面所述的光通信设备。

21、第二方面至第四方面的有益效果参见第一方面,此处不再赘述。

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【技术保护点】

1.一种雪崩光电二极管APD,其特征在于,包括:吸收层、倍增层和第一欧姆接触层;

2.根据权利要求1所述的APD,其特征在于,所述倍增层位于所述吸收层的第一方向,在所述吸收层上产生的载流子沿所述第一方向流经所述倍增层;

3.根据权利要求2所述的APD,其特征在于,所述吸收层被所述至少一个槽贯通。

4.根据权利要求2所述的APD,其特征在于,所述至少一个槽的底部在所述吸收层内。

5.根据权利要求1所述的APD,其特征在于,所述倍增层位于所述吸收层的第一方向,在所述吸收层上产生的载流子沿所述第一方向流经所述倍增层;

6.根据权利要求1至5中任一项所述的APD,其特征在于,还包括第二欧姆接触层,所述第二欧姆接触层与所述倍增层在所述吸收层的不同侧;

7.根据权利要求1至6中任一项所述的APD,其特征在于,还包括第二欧姆接触层,所述第二欧姆接触层与所述倍增层在所述吸收层的不同侧;

8.根据权利要求1至7中任一项所述的APD,其特征在于,所述倍增层包括所述倾斜电场结构和倍增层基材;

9.根据权利要求1至8中任一项所述的APD,其特征在于,所述吸收层、所述倍增层和所述第一欧姆接触层包括Ⅲ-Ⅴ族材料或Ge/Si体系材料。

10.一种采集设备,其特征在于,包括权利要求1至9中任一项所述的APD。

11.一种光通信设备,其特征在于,包括权利要求1至9中任一项所述的APD。

12.一种光通信网络,其特征在于,包括权利要求11所述的光通信设备。

...

【技术特征摘要】

1.一种雪崩光电二极管apd,其特征在于,包括:吸收层、倍增层和第一欧姆接触层;

2.根据权利要求1所述的apd,其特征在于,所述倍增层位于所述吸收层的第一方向,在所述吸收层上产生的载流子沿所述第一方向流经所述倍增层;

3.根据权利要求2所述的apd,其特征在于,所述吸收层被所述至少一个槽贯通。

4.根据权利要求2所述的apd,其特征在于,所述至少一个槽的底部在所述吸收层内。

5.根据权利要求1所述的apd,其特征在于,所述倍增层位于所述吸收层的第一方向,在所述吸收层上产生的载流子沿所述第一方向流经所述倍增层;

6.根据权利要求1至5中任一项所述的apd,其特征在于,还包括第二欧姆接触层,所述第二欧姆接触层与所述倍增层...

【专利技术属性】
技术研发人员:张震华操日祥邱晓东
申请(专利权)人:华为技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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