【技术实现步骤摘要】
本技术涉及测量装置，尤其是指一种圆锥面直径测量装置。
技术介绍
1、在机械加工企业中，时常会遇到锥形类零件，随着客户对零部件加工精度的要求日益提高，锥形零件制造成形后，则需要对其圆锥面的直径尺寸进行测量。例如，公开号为：“cn112902803b”的专利文献，公开了一种锥面内径测量仪及其测量方法，锥面内径测量仪，包括支撑座、导引件和内径检测单元，导引件固定在支撑座上，用于限位固定锥面检测件，内径检测单元安装在支撑座上，内径检测单元包括内径探测器、片簧机构、位移传感器和位移显示器，内径探测器的两个探头通过位移形变与锥面检测件的锥面内孔接触连接，并将位移量通过片簧机构传递至位移传感器，并数显于位移显示器上；该锥面内径测量仪在使用时首选检测锥面标准件的位移量，在锥面标准件的位移量记录后，将位移显示器显示的其示数清零，同样方法检测并记录锥面检测件的位移量，最后通过作差法即可求得锥面检测件在恒定高度下的锥面内径尺寸，然而，该锥面内径测量仪结构复杂，制造成本较高，不便于在广大中小规模机械制造企业中推广应用，又如，公开号为：“cn116518816a”的专利文献，公开了一种适用于椭圆锥面测量的专用卡尺，包括游标卡尺本体，游标卡尺本体上设有第一测量爪以及可滑动的第二测量爪，游标卡尺本体上设有滑动连接的游标尺，第二测量爪安装在游标尺上；第一测量爪上设有第一测量头，第二测量爪上设有第二测量头，第一测量头上设有相对设置的第一测量面以及第二测量面，第二测量头上设有第三测量面以及第四测量面；当第一测量面与第四测量面用于匹配阀座的内椭圆锥面并定位时，游标尺
技术实现思路
1、为解决上述技术问题，本技术提供了一种圆锥面直径测量装置。
2、本技术通过以下技术方案得以实现。
3、本技术提供了一种圆锥面直径测量装置，包括主尺、一对副尺和一对定高尺，所述定高尺的上端与所述主尺螺接，所述定高尺的下端沿着竖直方向向下延伸，所述定高尺的表面设置有若干条定位刻度线，所述副尺的上端与所述主尺滑动配合，所述副尺的下端还与所述测量头的中心固连，所述测量头的左右两端沿着水平方向向外延伸，所述主尺的表面设置有若干条主刻度线，并且相邻两条主刻度线间距为1mm，所述副尺的表面设置有若干条副刻度线，并且相邻两条副刻度线间距为0.98mm。
4、所述定高尺的表面，相邻两条定位刻度线间距为1mm。
5、所述定高尺的上端还与限高螺母螺接。
6、所述定高尺可沿竖直方向上下伸缩。
7、所述主尺的表面设有槽孔，所述副尺的上端安装有滚轮，滚轮的外周面与槽孔的至少一个侧面相外切。
8、所述槽孔为腰圆形通孔。
9、所述副尺的上端还与限位螺母螺接，所述主尺至少有一部分穿过该限位螺母与所述副尺的上端之间。
10、所述主尺的表面还刻印有主尺示数，所述副尺的表面还刻印有副尺示数，主尺示数、副尺示数的大小均自所述主尺的中间向其左右两端等差额递增。
11、所述测量头的表面还刻印有宽度校正示数，该宽度校正示数的大小是所述测量头宽度的一半。
12、所述测量头的外端面为平面或球面。
13、本技术的有益效果在于：采用本技术的技术方案，主尺、副尺均通过定高尺支承于统一的基准面上，并且通过读取定位刻度线相应的示数，即可对副尺与基准面之间的相对高度进行微调，使该对副尺与基准面之间的相对高度保持一致，使测量头也具有统一的定位基准，从而提高了测量精度，保证测量数据可靠。
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1.一种圆锥面直径测量装置，其特征在于：包括主尺(1)、一对副尺(2)和一对定高尺(3)，所述定高尺(3)的上端与所述主尺(1)螺接，所述定高尺(3)的下端沿着竖直方向向下延伸，所述定高尺(3)的表面设置有若干条定位刻度线，所述副尺(2)的上端与所述主尺(1)滑动配合，所述副尺(2)的下端还与测量头(4)的中心固连，所述测量头(4)的左右两端沿着水平方向向外延伸，所述主尺(1)的表面设置有若干条主刻度线(5)，并且相邻两条主刻度线(5)间距为1mm，所述副尺(2)的表面设置有若干条副刻度线(6)，并且相邻两条副刻度线(6)间距为0.98mm。
2.根据权利要求1所述的圆锥面直径测量装置，其特征在于：所述定高尺(3)的表面，相邻两条定位刻度线间距为1mm。
3.根据权利要求1所述的圆锥面直径测量装置，其特征在于：所述定高尺(3)的上端还与限高螺母(7)螺接。
4.根据权利要求1至3任一项所述的圆锥面直径测量装置，其特征在于：所述定高尺(3)可沿竖直方向上下伸缩。
5.根据权利要求1所述的圆锥面直径测量装置，其特征在于：所述主尺(1)的
6.根据权利要求5所述的圆锥面直径测量装置，其特征在于：所述槽孔(8)为腰圆形通孔。
7.根据权利要求1或5所述的圆锥面直径测量装置，其特征在于：所述副尺(2)的上端还与限位螺母(9)螺接，所述主尺(1)至少有一部分穿过该限位螺母(9)与所述副尺(2)的上端之间。
8.根据权利要求1所述的圆锥面直径测量装置，其特征在于：所述主尺(1)的表面还刻印有主尺示数(10)，所述副尺(2)的表面还刻印有副尺示数(11)，主尺示数(10)、副尺示数(11)的大小均自所述主尺(1)的中间向其左右两端等差额递增。
9.根据权利要求1所述的圆锥面直径测量装置，其特征在于：所述测量头(4)的表面还刻印有宽度校正示数(12)，该宽度校正示数(12)的大小是所述测量头(4)宽度的一半。
10.根据权利要求1或9所述的圆锥面直径测量装置，其特征在于：所述测量头(4)的外端面为平面或球面。
...【技术特征摘要】
1.一种圆锥面直径测量装置，其特征在于：包括主尺(1)、一对副尺(2)和一对定高尺(3)，所述定高尺(3)的上端与所述主尺(1)螺接，所述定高尺(3)的下端沿着竖直方向向下延伸，所述定高尺(3)的表面设置有若干条定位刻度线，所述副尺(2)的上端与所述主尺(1)滑动配合，所述副尺(2)的下端还与测量头(4)的中心固连，所述测量头(4)的左右两端沿着水平方向向外延伸，所述主尺(1)的表面设置有若干条主刻度线(5)，并且相邻两条主刻度线(5)间距为1mm，所述副尺(2)的表面设置有若干条副刻度线(6)，并且相邻两条副刻度线(6)间距为0.98mm。
2.根据权利要求1所述的圆锥面直径测量装置，其特征在于：所述定高尺(3)的表面，相邻两条定位刻度线间距为1mm。
3.根据权利要求1所述的圆锥面直径测量装置，其特征在于：所述定高尺(3)的上端还与限高螺母(7)螺接。
4.根据权利要求1至3任一项所述的圆锥面直径测量装置，其特征在于：所述定高尺(3)可沿竖直方向上下伸缩。
5.根据权利要求1所述的圆锥面直径测量装置...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈龙彪，杨韬，严萍，张劲松，
申请(专利权)人：贵州黎阳国际制造有限公司，
类型：新型
国别省市：
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