【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及olt设备上电测试的，更具体地，涉及一种olt设备上电异常测试装置及方法。
技术介绍
1、olt(optical line terminal，光线路终端)设备是用于连接光纤干线的终端设备，作为一种重要的局端设备，可以与前端(汇聚层)交换机用网线相连，转化成光信号，用单根光纤与用户端的分光器互联，实现对用户端设备onu的控制、管理、测距。
2、在一些应用场景中，olt设备存在频繁掉电现象。为了使得olt设备在每次上电都能正常启动，提高olt设备的上电可靠性，需要对olt设备进行上电测试。目前行业中的olt设备上电测试手段主要是多台设备通过人工以及一些命令控制待测试设备进行开关操作，虽然能测试出绝大部分上电异常问题，但是存在着测试时间久、操作繁琐、环境单一的缺陷，并且难以模拟出一些电网环境复杂的异常上电操作。
技术实现思路
1、为解决当前olt设备上电异常测试方法测试时间久、操作繁琐、环境单一，且难以模拟低概率出现的电源环境的问题，本专利技术提出一种olt设备上电异常测试装置及方法，能够模拟出正常开关机小概率出现的场景，通过快速多次测试，暴露olt设备在不同环境中的上电异常状况，解决实际使用中可能出现的上电启动问题。
2、为了达到上述技术效果，本专利技术的技术方案如下：
3、一种olt设备上电异常测试装置，包括：cpld模块、串口模块、检测模块和开关控制装置；
4、所述cpld模块的信号输入端连接检测模块的信号输出端，所述c
5、所述检测模块的信号输入端连接待测试的olt设备；
6、所述开关控制装置的电压输入端连接输入电压，电压输出端连接待测试的olt设备。
7、本技术方案利用串口模块发送指令代码，cpld模块根据指令代码控制开关控制装置的开闭状态；在对待测试的olt设备进行上电异常测试时，所述检测模块将模拟上电环境中的模拟波形传输至cpld模块，通过cpld模块对波形进行调整。
8、优选地，所述待测试的olt设备中设有olt设备电源和olt板卡，所述olt设备电源、检测模块和olt板卡依次连接；所述olt设备电源用于在开关控制装置关断后输出模拟电压；所述检测模块将获取得到的模拟上电环境中的模拟波形传输至cpld模块。
9、优选地，所述cpld模块在内部编写不同的寄存器，所述寄存器用于改变模拟上电环境中的上电波形参数值。
10、本专利技术还提出一种olt设备上电异常测试方法，包括：
11、s1.将各类上电环境中的预期波形存储至cpld模块中；
12、s2.所述串口模块将指令代码发送至cpld模块，所述cpld模块根据指令代码令开关控制装置处于关断状态；
13、s3.通过cpld模块改变寄存器的值，调整模拟上电的输出电压波形，模拟各类上电环境，所述检测模块将获取的模拟波形传输至cpld模块，将各类上电环境中获取的模拟波形与预期波形进行对比，若与预期波形匹配，进入步骤s4，否则，重新调制波形；
14、s4.判断待测试的olt设备在步骤s3中的模拟上电环境中上电启动是否异常，若待测试的olt设备能正常运行、设备串口打印正常、功能正常，则olt设备在该模拟上电环境中上电启动正常，否则，olt设备在该模拟上电环境中上电启动异常。
15、优选地，在步骤s3中，预设一个上电波形，所述上电波形的函数表达式为y＝k*t，其中，y表示输出电压，t表示上电时间，k表示输出电压增加的速率。
16、优选地，在步骤s3中，所述寄存器包括第一寄存器、第二寄存器和第三寄存器，所述cpld模块利用第一寄存器改变输出电压增加的速率k，利用第二寄存器改变波形的pwm时间周期，利用第三寄存器改变波形的pwm的占空比。
17、优选地，在步骤s3中，模拟的上电环境包括：一般上电环境、受负载影响的上电环境和存在电压震荡的上电环境。
18、优选地，模拟一般上电环境，过程包括：
19、通过改变第一寄存器的值改变输出电压增加的速率k，模拟一般上电环境的输出电压；
20、所述检测模块将获取的模拟波形传输至cpld模块，所述cpld模块将模拟波形与一般上电环境中的预期波形进行对比，若模拟波形电压值随时间增加而增加，且无台阶、震荡等异常波形，则符合预期；否则，重新调制波形。
21、优选地，模拟受负载影响的上电环境，过程包括：
22、在一般上电环境的输出电压波形基础上，通过改变第二寄存器的值改变输出电压波形的pwm时间周期，模拟受负载影响的上电环境的输出电压；
23、所述检测模块将获取的模拟波形传输至cpld模块，所述cpld模块将模拟波形与受负载影响的上电环境中的预期波形进行对比，若模拟波形中出现部分电压基本不变，则符合预期，否则重新调制波形。
24、优选地，模拟存在电压震荡的上电环境，过程包括：
25、在一般上电环境的输出电压波形基础上，通过将第一寄存器的值调大，使得输出电压增加的速率k增大；通过将第二寄存器的值增大，使得输出电压波形的pwm时间周期增大、开关频率变低；通过将第三寄存器的值调小，使得输出电压波形的对应占空比变小，输出电压变小，上电波形出现震荡，模拟存在电压震荡的上电环境的输出电压；
26、所述检测模块将获取的模拟波形传输至cpld模块，所述cpld模块将模拟波形与存在电压震荡的上电环境中的预期波形进行对比，若模拟波形出现电压上下震荡，则符合预期，否则重新调制波形。
27、与现有技术相比，本专利技术技术方案的有益效果是：
28、本专利技术提出一种olt设备上电异常测试装置及方法，所述测试装置包括cpld模块、串口模块、检测模块和开关控制装置，在对olt设备进行上电异常测试时，将各类上电环境中的预期波形存储至cpld模块中，串口模块将指令代码发送至cpld模块，根据指令代码令开关控制装置处于关断状态，再通过cpld模块改变寄存器的值，调整模拟上电的输出电压波形，模拟各类上电环境，所述检测模块将获取的模拟波形传输至cpld模块，将各类上电环境中获取的模拟波形与预期波形进行对比，比对成功后，判断待测试的olt设备在该模拟上电环境中上电启动是否异常，能够快速模拟出包括正常开关机出现概率极低的电源环境在内的各种上电环境，将olt设备的上电异常问题快速暴露，有利于研发快速定位解决问题，避免问题设备在工程大量运用。
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1.一种OLT设备上电异常测试装置，其特征在于，包括：CPLD模块、串口模块、检测模块和开关控制装置；
2.根据权利要求1所述的OLT设备上电异常测试装置，其特征在于，所述待测试的OLT设备中设有OLT设备电源和OLT板卡，所述OLT设备电源、检测模块和OLT板卡依次连接；所述OLT设备电源用于在开关控制装置关断后输出模拟电压；所述检测模块将获取得到的模拟上电环境中的模拟波形传输至CPLD模块。
3.根据权利要求2所述的OLT设备上电异常测试装置，其特征在于，所述CPLD模块在内部编写不同的寄存器，所述寄存器用于改变模拟上电环境中的上电波形参数值。
4.一种OLT设备上电异常测试方法，其特征在于，包括：
5.根据权利要求4所述的OLT设备上电异常测试方法，其特征在于，在步骤S3中，预设一个上电波形，所述上电波形的函数表达式为Y＝K*t，其中，Y表示输出电压，t表示上电时间，K表示输出电压增加的速率。
6.根据权利要求5所述的OLT设备上电异常测试方法，其特征在于，在步骤S3中，所述寄存器包括第一寄存器、第二寄存器和第三寄
7.根据权利要求6所述的OLT设备上电异常测试方法，其特征在于，在步骤S3中，模拟的上电环境包括：一般上电环境、受负载影响的上电环境和存在电压震荡的上电环境。
8.根据权利要求7所述的OLT设备上电异常测试方法，其特征在于，模拟一般上电环境，过程包括：
9.根据权利要求8所述的OLT设备上电异常测试方法，其特征在于，模拟受负载影响的上电环境，过程包括：
10.根据权利要求8所述的OLT设备上电异常测试方法，其特征在于，模拟存在电压震荡的上电环境，过程包括：
...【技术特征摘要】
1.一种olt设备上电异常测试装置，其特征在于，包括：cpld模块、串口模块、检测模块和开关控制装置；
2.根据权利要求1所述的olt设备上电异常测试装置，其特征在于，所述待测试的olt设备中设有olt设备电源和olt板卡，所述olt设备电源、检测模块和olt板卡依次连接；所述olt设备电源用于在开关控制装置关断后输出模拟电压；所述检测模块将获取得到的模拟上电环境中的模拟波形传输至cpld模块。
3.根据权利要求2所述的olt设备上电异常测试装置，其特征在于，所述cpld模块在内部编写不同的寄存器，所述寄存器用于改变模拟上电环境中的上电波形参数值。
4.一种olt设备上电异常测试方法，其特征在于，包括：
5.根据权利要求4所述的olt设备上电异常测试方法，其特征在于，在步骤s3中，预设一个上电波形，所述上电波形的函数表达式为y＝k*t，其中，y表示输出电压，t表示上...
【专利技术属性】
技术研发人员：邓梓君，
申请(专利权)人：广州芯德通信科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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