【技术实现步骤摘要】
本申请涉及显示，尤其涉及一种显示装置及其补偿方法。
技术介绍
1、oled(organic light-emitting diode，有机发光二极管)显示技术是一种新型显示技术，以其低功耗、高饱和度、快响应时间及宽视角等独特优势逐渐受到人们的关注，在面板显示
占据一定地位。
2、相关技术中，oled显示面板中子像素内通常设有包括驱动晶体管的像素电路，而由于漏电流的存在，输出晶体管的源极端的电位出现偏差，导致驱动晶体管的栅极端和源极端的电位差出现偏差，即流入发光器件的工作电流出现偏移，使得显示面板的显示出现异常。
技术实现思路
1、本申请提出了一种显示装置及其补偿方法，以解决现有显示装置中发光器件的工作电流出现偏移的技术问题。
2、为解决上述问题，本申请提供的技术方案如下：
3、本申请提供了一种显示装置的补偿方法，所述显示装置包括具有像素电路的多个子像素，每一所述像素电路包括开关晶体管、驱动晶体管和发光器件，所述驱动晶体管的第一电极和第一电位线连接，所述驱动晶体管的第二电极和所述发光器件的阳极电连接于第一节点，所述开关晶体管的第一电极连接于数据信号端，所述开关晶体管的第二电极和所述驱动晶体管的栅极电连接于第二节点；其中，所述补偿方法包括：
4、获取目标子像素的初始数据电压；
5、获取数据电压和所述第一节点的电压偏移量的关联曲线；
6、根据数据电压和所述第一节点的电压偏移量的关联曲线及所述初始数据电压，确定所
7、根据所述初始数据电压和所述第一节点的电压偏移量，确定所述目标子像素的目标数据电压；
8、将所述目标数据电压输入至所述目标子像素的所述数据信号端。
9、在本申请的补偿方法中，所述发光器件的阴极与第二电位线电连接，所述获取数据电压和所述第一节点的电压偏移量的关联曲线的步骤包括：
10、获取所述多个子像素中一测试子像素在参考数据电压下，所述第二电位线的第一测试电压；
11、获取所述测试子像素在不同的测试数据电压下，所述第二电位线的多个第二测试电压；
12、根据所述第一测试电压和所述第二测试电压的多个差值，获取数据电压与所述第二电位线的电压偏移量的关联曲线；
13、根据数据电压与所述第二电位线的电压偏移量的关联曲线，且基于所述第二电位线的电压偏移量与所述第一节点的电压的偏移量的关联曲线，获取所述测试子像素的数据电压与所述第一节点的电压的偏移量的关联曲线；
14、根据所述测试子像素的数据电压与所述第一节点的电压偏移量的关联曲线，获取所述显示装置的数据电压与所述第一节点的电压偏移量的关联曲线。
15、在本申请的补偿方法中，所述发光器件的阴极与第二电位线电连接，所述获取数据电压和所述第一节点的电压偏移量的关联曲线的步骤包括：
16、获取所述多个子像素中一测试子像素在参考数据电压下，所述第一节点的第三测试电压；
17、获取所述测试子像素在不同的测试数据电压下，所述第一节点的多个第四测试电压；
18、根据所述第三测试电压和所述第四测试电压的多个差值，获取所述测试子像素的数据电压与所述第一节点的电压偏移量的关联曲线；
19、根据所述测试子像素的数据电压与所述第一节点的电压偏移量的关联曲线，获取所述显示装置的数据电压与所述第一节点的电压偏移量的关联曲线。
20、在本申请的补偿方法中，在获取所述多个子像素中一测试子像素在参考数据电压下，所述第二电位线的第一测试电压的步骤之前，还包括：
21、获取所述多个子像素在所述第二节点的输入驱动电压，以及所述多个子像素中数据信号端的输入数据电压；
22、当所述输入驱动电压和所述输入数据电压的差值小于第一阈值时，所述子像素为测试子像素。
23、在本申请的补偿方法中，所述根据所述测试子像素的数据电压与所述第一节点的电压偏移量的关联曲线，获取所述显示装置的数据电压与所述第一节点的电压偏移量的关联曲线的步骤包括：
24、获取多个所述测试子像素的数据电压与所述第一节点的电压偏移量的关联曲线；
25、对多个所述测试子像素的数据电压与所述第一节点的电压偏移量的关联曲线拟合，以获取所述显示装置的数据电压与所述第一节点的电压偏移量的关联曲线。
26、在本申请的补偿方法中，所述测试子像素在所述参考数据电压下的显示灰阶为0，所述测试子像素在不同的所述测试数据电压下的显示灰阶大于0。
27、在本申请的补偿方法中，所述根据所述初始数据电压和所述第一节点的电压偏移量，确定所述目标子像素的目标数据电压的步骤包括：
28、获取所述第一节点的第一输出电压；
29、根据所述第一输出电压和所述第一节点的电压偏移量，获取所述第一节点的第二输出电压；
30、根据所述初始数据电压和所述第二输出电压，确定所述目标子像素的目标数据电压。
31、在本申请的补偿方法中，所述根据所述初始数据电压和所述第一节点的电压偏移量，确定所述目标子像素的目标数据电压的步骤包括：
32、获取所述初始数据电压的初始补偿系数；
33、根据所述初始数据电压和所述第一节点的电压偏移量，确定补偿偏移系数；
34、根据所述初始补偿系数和所述补偿偏移系数，确定所述初始数据电压的目标补偿系数；
35、根据所述目标补偿系数和所述初始数据电压，确定所述目标子像素的目标数据电压。
36、本申请还提出了一种显示装置，所述显示装置包括显示面板，所述显示面板包括具有像素电路的多个子像素，每一所述像素电路包括开关晶体管、驱动晶体管和发光器件，所述驱动晶体管的第一电极和第一电位线连接，所述驱动晶体管的第二电极和所述发光器件的阳极电连接于第一节点，所述开关晶体管的第一电极连接于数据信号端，所述开关晶体管的第二电极和所述驱动晶体管的栅极电连接于第二节点；其中，所述显示装置还包括：
37、数据电压模块，用于获取目标子像素的初始数据电压；
38、关联曲线模块，用于获取数据电压和所述第一节点的电压偏移量的关联曲线；
39、偏移电压模块，根据数据电压和所述第一节点的电压偏移量的关联曲线及所述初始数据电压，确定所述第一节点的电压偏移量；
40、计算模块，用于根据所述初始数据电压和所述第一节点的电压偏移量，确定所述目标子像素的目标数据电压；
41、传输模块，用于将所述目标数据电压输入至所述目标子像素的所述数据信号端。
42、在本申请的显示装置中，所述像素电路还包括：
43、侦测器件，连接于所述发光器件的阴极与第二电位线，所述侦测器件用于获取所述第二电位线的电位。
44、本申请涉及一种显示装置及其补偿方法；该显示装置的像素电路包括驱动晶体管和发光器件，驱动晶本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种显示装置的补偿方法，其特征在于，所述显示装置包括具有像素电路的多个子像素，每一所述像素电路包括开关晶体管、驱动晶体管和发光器件，所述驱动晶体管的第一电极和第一电位线连接，所述驱动晶体管的第二电极和所述发光器件的阳极电连接于第一节点，所述开关晶体管的第一电极连接于数据信号端，所述开关晶体管的第二电极和所述驱动晶体管的栅极电连接于第二节点；其中，所述补偿方法包括：
2.根据权利要求1中所述的补偿方法，其特征在于，所述发光器件的阴极与第二电位线电连接，所述获取数据电压和所述第一节点的电压偏移量的关联曲线的步骤包括：
3.根据权利要求1中所述的补偿方法，其特征在于，所述发光器件的阴极与第二电位线电连接，所述获取数据电压和所述第一节点的电压偏移量的关联曲线的步骤包括：
4.根据权利要求2或3中所述的补偿方法，其特征在于，在获取所述多个子像素中一测试子像素在参考数据电压下，所述第二电位线的第一测试电压的步骤之前，还包括：
5.根据权利要求2或3中所述的补偿方法，其特征在于，所述根据所述测试子像素的数据电压与所述第一节点的电压偏移量的关联
6.根据权利要求2或3所述的补偿方法，其特征在于，所述测试子像素在所述参考数据电压下的显示灰阶为0，所述测试子像素在不同的所述测试数据电压下的显示灰阶大于0。
7.根据权利要求1中所述的补偿方法，其特征在于，所述根据所述初始数据电压和所述第一节点的电压偏移量，确定所述目标子像素的目标数据电压的步骤包括：
8.根据权利要求1中所述的补偿方法，其特征在于，所述根据所述初始数据电压和所述第一节点的电压偏移量，确定所述目标子像素的目标数据电压的步骤包括：
9.一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括显示面板，所述显示面板包括具有像素电路的多个子像素，每一所述像素电路包括开关晶体管、驱动晶体管和发光器件，所述驱动晶体管的第一电极和第一电位线连接，所述驱动晶体管的第二电极和所述发光器件的阳极电连接于第一节点，所述开关晶体管的第一电极连接于数据信号端，所述开关晶体管的第二电极和所述驱动晶体管的栅极电连接于第二节点；其中，所述显示装置还包括：
10.根据权利要求9所述的显示装置，其特征在于，所述像素电路还包括：
...【技术特征摘要】
1.一种显示装置的补偿方法，其特征在于，所述显示装置包括具有像素电路的多个子像素，每一所述像素电路包括开关晶体管、驱动晶体管和发光器件，所述驱动晶体管的第一电极和第一电位线连接，所述驱动晶体管的第二电极和所述发光器件的阳极电连接于第一节点，所述开关晶体管的第一电极连接于数据信号端，所述开关晶体管的第二电极和所述驱动晶体管的栅极电连接于第二节点；其中，所述补偿方法包括：
2.根据权利要求1中所述的补偿方法，其特征在于，所述发光器件的阴极与第二电位线电连接，所述获取数据电压和所述第一节点的电压偏移量的关联曲线的步骤包括：
3.根据权利要求1中所述的补偿方法，其特征在于，所述发光器件的阴极与第二电位线电连接，所述获取数据电压和所述第一节点的电压偏移量的关联曲线的步骤包括：
4.根据权利要求2或3中所述的补偿方法，其特征在于，在获取所述多个子像素中一测试子像素在参考数据电压下，所述第二电位线的第一测试电压的步骤之前，还包括：
5.根据权利要求2或3中所述的补偿方法，其特征在于，所述根据所述测试子像素的数据电压与所述第一节点的电压偏移量的关联曲线，获取所述显示装置的数据电...
【专利技术属性】
技术研发人员：毕涛，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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