本申请涉及芯片测试技术领域，公开了一种翻盖式芯片测试机，包括测试机，所述测试机的上表面转动连接有卡盖，所述测试机的上表面位于所述卡盖的侧边固定连接有测试架，所述测试机通过所述测试架卡合连接有芯片，所述卡盖的内壁中固定连接有一号测试板和二号测试板，使得芯片在通过测试机进行测试时，可以将芯片直接放置于测试架的外表面，再观察电流表的电流通过情况，以此判断芯片是否能够正常使用，其次在卡盖的内壁中固定连接有一号测试板和二号测试板，使得卡盖内壁的一号测试板和二号测试板能够对不同型号的芯片进行限位波率测试，再由示波器进行显示观察，以此到达对芯片简便快速测试的目的。
【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片测试技术的领域，尤其是涉及一种翻盖式芯片测试机。
技术介绍
1、芯片测试机是一种用于电子与通信
的电子测量仪器，能够快速对需要使用的芯片进行通电测量，以及对芯片进行是否损坏测量，在电子元件的维修以及电子元件的检测领域，有着广泛且重要的应用；
2、针对上述中的相关技术，专利技术人认为，芯片测试机在对芯片的好坏检测作业中有着重要的应用，在使用芯片测试机对芯片进行检测的过程中，当需要对芯片的使用情况进行检测时，需要使用到示波器对芯片的波率进行检测，但示波器的检测连接装置由两根长检测笔制成，由检测人员手持进行检测，这导致检测笔检测的同时还需要注意芯片是否歪斜，这导致在对芯片的电流检测和波率检测，均存在检测不便而导致检测结果不准确的问题；
3、本
技术介绍
所公开的上述信息仅仅用于增加对本申请
技术介绍
的理解，因此，其可能包括不构成本领域普通技术人员已知的现有技术。
技术实现思路
1、为了解决芯片测试机使用不便的问题，本申请提供一种翻盖式芯片测试机。
>2、本申请提供的一本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种翻盖式芯片测试机，包括测试机(6)，其特征在于：所述测试机(6)的上表面转动连接有卡盖(1)，所述测试机(6)的上表面位于所述卡盖(1)的侧边固定连接有测试架(7)；
2.根据权利要求1所述的一种翻盖式芯片测试机，其特征在于：所述测试架(7)的内部固定连接有一号检测架(15)，所述测试架(7)的内部位于所述一号检测架(15)的侧边固定连接有二号检测架(16)，所述测试架(7)的内部背离所述一号检测架(15)的一侧固定连接有三号检测架(17)，且所述一号检测架(15)、二号检测架(16)和三号检测架(17)的外表面均开设有若干个检测口(18)，所述芯片(9)的外表面固定...
【技术特征摘要】
1.一种翻盖式芯片测试机，包括测试机(6)，其特征在于：所述测试机(6)的上表面转动连接有卡盖(1)，所述测试机(6)的上表面位于所述卡盖(1)的侧边固定连接有测试架(7)；
2.根据权利要求1所述的一种翻盖式芯片测试机，其特征在于：所述测试架(7)的内部固定连接有一号检测架(15)，所述测试架(7)的内部位于所述一号检测架(15)的侧边固定连接有二号检测架(16)，所述测试架(7)的内部背离所述一号检测架(15)的一侧固定连接有三号检测架(17)，且所述一号检测架(15)、二号检测架(16)和三号检测架(17)的外表面均开设有若干个检测口(18)，所述芯片(9)的外表面固定连接有若干个连接针脚(19)。
3.根据权利要求1所述的一种翻盖式芯片测试机，其特征在于：所述测试机(6)的上表面固定连接有检测按钮(8)，所述测试机(6)的上表面背离所述卡盖...
【专利技术属性】
技术研发人员：曹伟洲，
申请(专利权)人：联合仪器武汉有限公司，
类型：新型
国别省市：
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