【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片测试技术的领域,尤其是涉及一种翻盖式芯片测试机。
技术介绍
1、芯片测试机是一种用于电子与通信
的电子测量仪器,能够快速对需要使用的芯片进行通电测量,以及对芯片进行是否损坏测量,在电子元件的维修以及电子元件的检测领域,有着广泛且重要的应用;
2、针对上述中的相关技术,专利技术人认为,芯片测试机在对芯片的好坏检测作业中有着重要的应用,在使用芯片测试机对芯片进行检测的过程中,当需要对芯片的使用情况进行检测时,需要使用到示波器对芯片的波率进行检测,但示波器的检测连接装置由两根长检测笔制成,由检测人员手持进行检测,这导致检测笔检测的同时还需要注意芯片是否歪斜,这导致在对芯片的电流检测和波率检测,均存在检测不便而导致检测结果不准确的问题;
3、本
技术介绍
所公开的上述信息仅仅用于增加对本申请
技术介绍
的理解,因此,其可能包括不构成本领域普通技术人员已知的现有技术。
技术实现思路
1、为了解决芯片测试机使用不便的问题,本申请提供一种翻盖式芯片测试机。
2、本申请提供的一种翻盖式芯片测试机采用如下的技术方案:
3、一种翻盖式芯片测试机,包括测试机,所述测试机的上表面转动连接有卡盖,所述测试机的上表面位于所述卡盖的侧边固定连接有测试架,所述测试机通过所述测试架卡合连接有芯片,所述卡盖的内壁中固定连接有一号测试板和二号测试板,所述卡盖的上表面位于所述测试架的侧边固定连接有电流表,所述卡盖的上表面位于所述电流表的侧边固定连接有示波器。
...【技术保护点】
1.一种翻盖式芯片测试机,包括测试机(6),其特征在于:所述测试机(6)的上表面转动连接有卡盖(1),所述测试机(6)的上表面位于所述卡盖(1)的侧边固定连接有测试架(7);
2.根据权利要求1所述的一种翻盖式芯片测试机,其特征在于:所述测试架(7)的内部固定连接有一号检测架(15),所述测试架(7)的内部位于所述一号检测架(15)的侧边固定连接有二号检测架(16),所述测试架(7)的内部背离所述一号检测架(15)的一侧固定连接有三号检测架(17),且所述一号检测架(15)、二号检测架(16)和三号检测架(17)的外表面均开设有若干个检测口(18),所述芯片(9)的外表面固定连接有若干个连接针脚(19)。
3.根据权利要求1所述的一种翻盖式芯片测试机,其特征在于:所述测试机(6)的上表面固定连接有检测按钮(8),所述测试机(6)的上表面背离所述卡盖(1)的一侧固定连接有接线端子(14),所述接线端子(14)的外表面固定连接有电导线(13),所述示波器(11)的外表面固定连接有显示屏(12)。
4.根据权利要求1所述的一种翻盖式芯片测试机,其特征
5.根据权利要求1所述的一种翻盖式芯片测试机,其特征在于:所述测试机(6)的上表面固定连接有连接轴(5),所述测试机(6)通过所述连接轴(5)转动连接有阻尼伸缩架(4),且所述阻尼伸缩架(4)的另一端与所述卡盖(1)的外表面进行固定连接。
...【技术特征摘要】
1.一种翻盖式芯片测试机,包括测试机(6),其特征在于:所述测试机(6)的上表面转动连接有卡盖(1),所述测试机(6)的上表面位于所述卡盖(1)的侧边固定连接有测试架(7);
2.根据权利要求1所述的一种翻盖式芯片测试机,其特征在于:所述测试架(7)的内部固定连接有一号检测架(15),所述测试架(7)的内部位于所述一号检测架(15)的侧边固定连接有二号检测架(16),所述测试架(7)的内部背离所述一号检测架(15)的一侧固定连接有三号检测架(17),且所述一号检测架(15)、二号检测架(16)和三号检测架(17)的外表面均开设有若干个检测口(18),所述芯片(9)的外表面固定连接有若干个连接针脚(19)。
3.根据权利要求1所述的一种翻盖式芯片测试机,其特征在于:所述测试机(6)的上表面固定连接有检测按钮(8),所述测试机(6)的上表面背离所述卡盖...
【专利技术属性】
技术研发人员:曹伟洲,
申请(专利权)人:联合仪器武汉有限公司,
类型:新型
国别省市:
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