一种数字芯片测试机制造技术

技术编号:39963019 阅读:4 留言:0更新日期:2024-01-09 00:11
本申请涉及数字芯片测试领域,公开了一种数字芯片测试机,包括测试机,所述测试机的侧边电连接有蓄电池,所述测试机的上表面侧边处固定连接有连接口,所述测试机的上表面固定连接有测试架,所述测试架的内部一侧固定连接有二号接线架,所述测试架的内部位于所述二号接线架的侧边滑动连接有一号接线架,所述测试架的上表面通过所述一号接线架和二号接线架卡合连接有芯片,在测试架的内部分别固定连接有方形板状的二号接线架,以及滑动连接有方形板状的一号接线架,使得测试架在对不同型号的芯片进行测试时,可以通过一号接线架滑动调节与二号接线架之间的距离,以此达到适应不同型号芯片的目的,从而能够便捷对多种型号的芯片进行测试。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及数字芯片测试的领域,尤其是涉及一种数字芯片测试机


技术介绍

1、芯片测试机是一种用于电子与通信
的电子测量仪器,可以在生产中测试集成电路芯片的功能和性能,来确保芯片质量符合设计要求,芯片测试机的主要作用是对芯片的电学参数和逻辑特性进行测量,然后按照预定规则进行对比,从而对测试结果进行评估,芯片测试机在日常的机械元件的维修中也有着重要的应用,通过芯片测试机能够快速对芯片的电流情况及滤波状况进行检测,从而达到对芯片是否损坏测试的目的;

2、针对上述中的相关技术,专利技术人认为,芯片测试机在日常的机械元件维修,及芯片是否损坏测试工作中,有着广泛且重要的应用,由于芯片的测试需要使用到针脚进行通电测试,且芯片的型号不同,所使用的芯片针脚距离也不同,这导致芯片测试机在针对不同型号的芯片进行测试时,难以便捷的根据芯片型号的针脚大小,快捷调节针脚的接线架,导致难以对多种型号的芯片进行快捷测试,使得芯片测试机对芯片测试时,存在有难以对多种型号芯片进行调节测试的缺陷;

3、本
技术介绍
所公开的上述信息仅仅用于增加对本申请
技术介绍
的理解,因此,其可能包括不构成本领域普通技术人员已知的现有技术。


技术实现思路

1、为了解决芯片测试机难以对多种型号芯片进行测试的问题,本申请提供一种数字芯片测试机。

2、本申请提供的一种数字芯片测试机采用如下的技术方案:

3、一种数字芯片测试机,包括测试机,所述测试机的侧边电连接有蓄电池,所述测试机的上表面侧边处固定连接有连接口,所述测试机的上表面固定连接有测试架,所述测试架的内部一侧固定连接有二号接线架,所述测试架的内部位于所述二号接线架的侧边滑动连接有一号接线架,所述测试架的上表面通过所述一号接线架和二号接线架卡合连接有芯片。

4、优选的,所述测试机的上表面位于所述测试架的侧边处固定连接有电流表和滤波表,所述测试机的上表面位于所述测试架和滤波表的侧边处固定连接有按钮。

5、优选的,所述一号接线架和二号接线架的上表面均开设有若干个接线口,所述芯片的侧表面固定连接有若干个针脚,且所述针脚和接线口能够相互卡合连接。

6、优选的,所述测试架的侧边固定连接有所述调节架,所述一号接线架的侧壁旋合连接有固定栓,且所述固定栓贯穿所述调节架的内部。

7、优选的,所述一号接线架的侧壁固定连接有限位滑块,所述限位滑块的外表面固定有承接块,所述一号接线架通过所述限位滑块和承接块旋合连接有所述固定栓,所述一号接线架的下表面固定连接有若干个导线。

8、综上所述,本申请包括以下有益技术效果:

9、通过设置有测试机,且在测试机的上表面固定连接有方形框架状的测试架,使得测试机在对芯片进行测试时,是通过将芯片与测试架进行卡合连接,然后再通过测试机进行测试,其次在测试架的内部分别固定连接有方形板状的二号接线架,以及滑动连接有方形板状的一号接线架,使得测试架在对不同型号的芯片进行测试时,可以通过一号接线架滑动调节与二号接线架之间的距离,以此达到适应不同型号芯片的目的,从而能够便捷对多种型号的芯片进行测试。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种数字芯片测试机,包括测试机(2),其特征在于:所述测试机(2)的侧边电连接有蓄电池(1),所述测试机(2)的上表面侧边处固定连接有连接口(9);

2.根据权利要求1所述的一种数字芯片测试机,其特征在于:所述测试机(2)的上表面位于所述测试架(4)的侧边处固定连接有电流表(3)和滤波表(8),所述测试机(2)的上表面位于所述测试架(4)和滤波表(8)的侧边处固定连接有按钮(10)。

3.根据权利要求1所述的一种数字芯片测试机,其特征在于:所述一号接线架(6)和二号接线架(7)的上表面均开设有若干个接线口(14),所述芯片(5)的侧表面固定连接有若干个针脚(13),且所述针脚(13)和接线口(14)能够相互卡合连接。

4.根据权利要求1所述的一种数字芯片测试机,其特征在于:所述测试架(4)的侧边固定连接有调节架(12),所述一号接线架(6)的侧壁旋合连接有固定栓(11),且所述固定栓(11)贯穿所述调节架(12)的内部。

5.根据权利要求4所述的一种数字芯片测试机,其特征在于:所述一号接线架(6)的侧壁固定连接有限位滑块(16),所述限位滑块(16)的外表面固定有承接块(15),所述一号接线架(6)通过所述限位滑块(16)和承接块(15)旋合连接有所述固定栓(11),所述一号接线架(6)的下表面固定连接有若干个导线(17)。

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【技术特征摘要】

1.一种数字芯片测试机,包括测试机(2),其特征在于:所述测试机(2)的侧边电连接有蓄电池(1),所述测试机(2)的上表面侧边处固定连接有连接口(9);

2.根据权利要求1所述的一种数字芯片测试机,其特征在于:所述测试机(2)的上表面位于所述测试架(4)的侧边处固定连接有电流表(3)和滤波表(8),所述测试机(2)的上表面位于所述测试架(4)和滤波表(8)的侧边处固定连接有按钮(10)。

3.根据权利要求1所述的一种数字芯片测试机,其特征在于:所述一号接线架(6)和二号接线架(7)的上表面均开设有若干个接线口(14),所述芯片(5)的侧表面固定连接有若干个针脚(13)...

【专利技术属性】
技术研发人员:曹伟洲
申请(专利权)人:联合仪器武汉有限公司
类型:新型
国别省市:

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