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本申请涉及芯片测试技术领域，公开了一种翻盖式芯片测试机，包括测试机，所述测试机的上表面转动连接有卡盖，所述测试机的上表面位于所述卡盖的侧边固定连接有测试架，所述测试机通过所述测试架卡合连接有芯片，所述卡盖的内壁中固定连接有一号测试板和二号测...
该专利属于联合仪器（武汉）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过联合仪器（武汉）有限公司授权不得商用。

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