离子迁移谱仪装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种操作离子迁移谱仪的方法，其包括：改变谱仪内漂移管的压力；在漂移管中沿漂移轴线分离至少一些离子化的化学物种；和在漂移轴线的端部检测离子。漂移管包括一个能够限制漂移气体中的离子的螺旋阻性导线线圈，还包括至少一个入口和至少一个出口以通过漂移气体。位于漂移管中的一个离子门在漂移管中限定出一个反应区和漂移区。离子检测器在漂移管中布置在位于漂移区一端的离子门的下游。螺旋阻性导线线圈环绕于该漂移管。电源在螺旋阻性导线线圈中产生一个电场以控制漂移气体中离子的温度。根据本发明专利技术，该漂移管设计能够将离子迁移谱仪构造成具有更低的重量、更低的能耗、更低的制造成本，而且不使用可能导致漏气的密封剂。

【技术实现步骤摘要】

本申请要求美国临时专利申请(申请号60/766，825，申请日2006年2月14日) 的权益和优先权，其全部内容在此引用作为参考。典型的离子迁移谱仪(IMS)的基本部件包括一个离子化源，一个包括反应区的漂 移管，一个离子开关格栅，一个漂移区，和一个离子检测器。在气相分析中，待分析试样通过 一种惰性载气被导入反应区，试样的离子化通常在使试样通过反应区和/或离子化区时完 成。形成的离子在电场的作用下流向漂移区，该电场施加于建立漂移区的漂移环(有时也 称作保护环或离子导向器)上。然后离子窄脉冲，通过离子开关格栅，被注入和/或进入漂 移区。一旦进入漂移区，试样的各种离子就基于其离子迁移率被分离。各种离子在检测器 中的到达时间是离子迁移率的一个表征，其与离子质量相关。然而，本领域的技术人员能够 理解离子迁移率不仅与离子质量有关，而且在根本上更与离子_漂移气体的相互作用势有 关，而后者并非仅取决于离子质量。
技术介绍
在现有技术中，离子迁移谱仪包括具有复杂机械零件的漂移管。漂移管中的每个 部件通常需要多个零件的组合。这样复杂的机械设计显著增加了离子迁移谱仪的成本并且 还限制了离子迁移谱仪的性能本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种操作离子迁移谱仪的方法，该方法包括：ａ．改变谱仪内漂移管的压力；ｂ．在漂移管中沿漂移轴线分离至少一些离子化的化学物种；和ｃ．在漂移轴线的端部检测离子。

【技术特征摘要】
US 2006-2-14 60/766,825一种操作离子迁移谱仪的方法，该方法包括a.改变谱仪内漂移管的压力；b.在漂移管中沿漂移轴线分离至少一些离子化的化学物种；和c.在漂移轴线的端部检测离子。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，对包括离子化的化学物种的漂移气体的压 力进行调节以在显著不同的的压力条件下完成离子迁移率测量。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，对包括离子化的化学物种的漂移气体的压 力进行调节以在漂移区形成一个基本连续的压力梯度。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，进一步包括利用在不同压力条件下检测离 子得到的数据来绘制三维的迁...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴青，
申请(专利权)人：卓漂仪谱公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]