【技术实现步骤摘要】
本技术涉及检测装置，特别涉及轴半圆键位置度综合检具装置。
技术介绍
1、通常在加工半圆键槽时。零件图纸上对半圆键槽的加工要求一般都有键槽的宽度、深度、对称度、轴向位置尺寸等要求；
2、目前在对复杂的产品检测时，目前较常采用的是三坐标检测，通过建立测量程序，对产品进行“打点”，经过监测设备出报告。对于单个或抽检的方式进行操作，现实中可行。但对光轴进行检测时，必须要求100％全检，所以使用三坐标进行检测，同时对人员技术水平要求高，其操作难度交复杂，故而导致使用效率低。
技术实现思路
1、本技术的主要目的在于提供轴半圆键位置度综合检具装置，可以有效解决
技术介绍
中的问题。
2、为实现上述目的，本技术采取的技术方案为：
3、轴半圆键位置度综合检具装置，包括测量零件，所述测量零件的上端开设有半圆键槽，所述测量零件的上端靠近半圆键槽的一侧开设有圆弧槽，所述半圆键槽的内侧设置有偏心圆量块，所述偏心圆量块的内侧设置有圆柱量棒。
4、优选的，所述偏心圆量块的外侧与半圆键槽的内侧活动连接，所述圆柱量棒的外侧与偏心圆量块的内侧固定连接。
5、优选的，所述圆柱量棒的外侧靠近偏心圆量块的一侧与圆弧槽的内侧活动连接，所述半圆键槽与偏心圆量块之间相匹配，所述圆柱量棒与圆弧槽之间相匹配。
6、优选的，所述圆弧槽的数量有两组，两组所述圆弧槽之间呈中心对称，所述圆柱量棒位于半圆键槽的轴心下侧。
7、优选的，所述测量零件的后端设置有花键柱
8、优选的，所述花键柱体的前端与测量零件的后端固定连接，所述花键外壳的内侧与花键柱体的外侧固定连接。
9、与现有技术相比，本技术具有如下有益效果：
10、1、通过握紧测量零件并且将偏心圆量块放置在半圆键槽的内侧中，可以达到便于观察出圆柱量棒与圆弧槽之间贴合情况的目的，从而可以判断出半圆键槽的开设位置与深度符不符合设计要求，故而可以一次完成测量，并且提高检测效率，同时经过观察圆柱量棒与圆弧槽之间的贴合度，从而使其检测精度较高。
11、2、通过握住花键外壳，可以达到便于握紧测量零件的目的。
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1.轴半圆键位置度综合检具装置，包括测量零件(1)，其特征在于：所述测量零件(1)的上端开设有半圆键槽(2)，所述测量零件(1)的上端靠近半圆键槽(2)的一侧开设有圆弧槽(3)，所述半圆键槽(2)的内侧设置有偏心圆量块(4)，所述偏心圆量块(4)的内侧设置有圆柱量棒(5)。
2.根据权利要求1所述的轴半圆键位置度综合检具装置，其特征在于：所述偏心圆量块(4)的外侧与半圆键槽(2)的内侧活动连接，所述圆柱量棒(5)的外侧与偏心圆量块(4)的内侧固定连接。
3.根据权利要求1所述的轴半圆键位置度综合检具装置，其特征在于：所述圆柱量棒(5)的外侧靠近偏心圆量块(4)的一侧与圆弧槽(3)的内侧活动连接，所述半圆键槽(2)与偏心圆量块(4)之间相匹配，所述圆柱量棒(5)与圆弧槽(3)之间相匹配。
4.根据权利要求1所述的轴半圆键位置度综合检具装置，其特征在于：所述圆弧槽(3)的数量有两组，两组所述圆弧槽(3)之间呈中心对称，所述圆柱量棒(5)位于半圆键槽(2)的轴心下侧。
5.根据权利要求1所述的轴半圆键位置度综合检具装置，其特征在于：所述测
6.根据权利要求5所述的轴半圆键位置度综合检具装置，其特征在于：所述花键柱体(7)的前端与测量零件(1)的后端固定连接，所述花键外壳(6)的内侧与花键柱体(7)的外侧固定连接。
...【技术特征摘要】
1.轴半圆键位置度综合检具装置，包括测量零件(1)，其特征在于：所述测量零件(1)的上端开设有半圆键槽(2)，所述测量零件(1)的上端靠近半圆键槽(2)的一侧开设有圆弧槽(3)，所述半圆键槽(2)的内侧设置有偏心圆量块(4)，所述偏心圆量块(4)的内侧设置有圆柱量棒(5)。
2.根据权利要求1所述的轴半圆键位置度综合检具装置，其特征在于：所述偏心圆量块(4)的外侧与半圆键槽(2)的内侧活动连接，所述圆柱量棒(5)的外侧与偏心圆量块(4)的内侧固定连接。
3.根据权利要求1所述的轴半圆键位置度综合检具装置，其特征在于：所述圆柱量棒(5)的外侧靠近偏心圆量块(4)的一侧与圆弧槽(3)的内侧活动连接，所述半圆键...
【专利技术属性】
技术研发人员：练正池，伊建新，李思达，
申请(专利权)人：金华市新华齿轮有限公司，
类型：新型
国别省市：
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