【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片测试，具体而言，涉及一种用于测试芯片的方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
1、在芯片的使用过程中，由于芯片自身的老化以及工作环境等各方面影响，相较于出厂状态其电路的物理结构可能会发生变化，会出现新的缺陷，而这种缺陷可能导致芯片功能受损。相对于其他应用领域，车规级芯片有更严苛的工作条件，且车规级芯片功能受损可能带来更大的财产损失和人员上网，因此有更严格的功能安全要求，也更需要及时发现芯片使用过程中出现的这些新的缺陷。为了达到上述目的，通常会引入post（power onself test，上电自检），即在每一次芯片上电的过程中进行芯片的自测试，测试不通过时即认为可能存在功能受损和安全风险。
2、目前，相关技术中通常是基于dma（direct memory access，直接存储器访问）的post测试，通过将一个或多个测试程序写入rom（read-only memory，只读存储器）中进行测试，一旦芯片出厂即无法更改和选择测试程序，只能依次执行rom中的测试程序，导致测试灵活性较差。
技术实现思路
1、为解决上述技术问题，本申请的实施例提供了一种用于测试芯片的方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，以能够提高芯片测试的灵活性。
2、根据本申请实施例的一个方面，提供了一种用于测试芯片的方法，包括：在检测到待测芯片上电的情况下，获取所述待测芯片对应的配置信号；所述配置信号包括多个比特信号，所述配置信号的位宽与测试程序总数量相同，所述
3、在一些实施例中，获取所述待测芯片对应的配置信号，包括：从预设的数据库中查找出所述待测芯片对应的配置信号；所述数据库中存储有待测芯片与配置信号之间的对应关系。
4、在一些实施例中，从所述配置信号中确定出目标比特信号，包括：获取测试程序计数器值；根据测试程序计数器值从所述配置信号中确定出备选比特信号；判断所述备选比特信号是否被烧录；在所述备选比特信号被烧录的情况下，将所述备选比特信号确定为目标比特信号。
5、在一些实施例中，根据测试程序计数器值从所述配置信号中确定出备选比特信号，包括：将所述配置信号中与所述测试程序计数器值对应的比特信号确定为备选比特信号；所述测试程序计数器值与测试程序的索引值存在对应关系。
6、在一些实施例中，根据所述目标比特信号确定目标索引值，包括：获取所述目标比特信号对应的测试程序的索引值；将所述目标比特信号对应的测试程序的索引值确定为目标索引值。
7、在一些实施例中，获取所述目标比特信号对应的测试程序的索引值，包括：从预设的数据库中匹配出与所述目标比特信号对应的测试程序的索引值；所述数据库中存储有目标比特信号与测试程序的索引值之间的对应关系。
8、在一些实施例中，根据所述目标索引值调用测试程序进行芯片测试后，还包括：获取所述调用测试程序的运行结果，并进行显示。
9、根据本申请实施例的一个方面，提供了一种用于测试芯片的装置，包括：获取模块，被配置为在检测到待测芯片上电的情况下，获取所述待测芯片对应的配置信号；所述配置信号包括多个比特信号，所述配置信号的位宽与测试程序总数量相同，所述配置信号中的每一比特信号对应一个测试程序；第一确定模块，被配置为从所述配置信号中确定出目标比特信号；所述目标比特信号为被烧录的比特信号；第二确定模块，被配置为根据所述目标比特信号确定目标索引值；测试模块，被配置为根据所述目标索引值调用测试程序进行芯片测试。
10、根据本申请实施例的一个方面，提供了一种电子设备，包括一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得电子设备实现如上的用于测试芯片的方法。
11、根据本申请实施例的一个方面，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上的用于测试芯片的方法。
12、在本申请的实施例提供的技术方案中，通过获取待测芯片对应的配置信号，由于配置信号包括多个比特信号，配置信号的位宽与测试程序总数量相同，配置信号中的每一比特信号对应一个测试程序，用户可以通过预先对配置信号进行烧录，实现对多个post测试程序的测试进行灵活选择，即每一个测试程序都可以被配置为选择或不选择，从而能够提高芯片测试的灵活性。
13、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种用于测试芯片的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取所述待测芯片对应的配置信号，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，从所述配置信号中确定出目标比特信号，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据测试程序计数器值从所述配置信号中确定出备选比特信号，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述目标比特信号确定目标索引值，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，获取所述目标比特信号对应的测试程序的索引值，包括：
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述目标索引值调用测试程序进行芯片测试后，还包括：
8.一种用于测试芯片的装置，其特征在于，包括：
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的用于测试芯片的方法。
【技术特征摘要】
1.一种用于测试芯片的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取所述待测芯片对应的配置信号，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，从所述配置信号中确定出目标比特信号，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据测试程序计数器值从所述配置信号中确定出备选比特信号，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述目标比特信号确定目标索引值，包括：
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【专利技术属性】
技术研发人员：张林生，
申请(专利权)人：牛芯半导体深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：
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