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本申请的实施例揭示了一种用于测试芯片的方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：在检测到待测芯片上电的情况下，获取待测芯片对应的配置信号；配置信号包括多个比特信号，配置信号的位宽与测试程序总数量相同，配置信号中的每一比特信号对应一个测试程...
该专利属于牛芯半导体（深圳）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过牛芯半导体（深圳）有限公司授权不得商用。

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