【技术实现步骤摘要】
本申请涉及光电探测，特别是涉及基于光电探测器的缺失电荷测量方法、装置和存储介质。
技术介绍
1、光电探测器常用于将接收到的光信号转换为电信号，例如在计算机断层扫描(computed tomography，简称为ct)设备中，光电探测器将通过人体衰减后的x射线转换为电压信号以供图像重建。而光电探测器的信号读出电路普遍采用电流积分型结构，其在图像采集的一帧周期内，通过积分电容对预设积分时间内探测器所产生的光电流信号进行电荷采集，进而转化为电压信号，并利用后续的模数转换电路得到最终的数字信号。
2、上述积分电容的信号处理过程中，由于器件材料与结构以及信号处理电路等因素的影响，在靠前的若干采样帧内总是存在部分光生载流子丢失，即系统无法采集到该部分光生载流子，所以经过若干帧的积累后，光响应信号才能够与入射的光通量建立稳定的响应度关系。其中，建立稳定响应度关系前所丢失的部分光生载流子的累积电荷量称为缺失电荷。
3、然而，在超低剂量的x射线成像情况下，缺失电荷量相对于当前辐射剂量对应产生的光生载流子数是不可忽略的，缺失电荷的存在容易导致重建图像产生伪影，但现有技术无法对该部分缺失电荷量进行准确测量，进而无法对缺失电荷问题进行精准抑制和优化。
4、针对相关技术中存在无法对缺失电荷量进行准确测量的问题，目前还没有提出有效的解决方案。
技术实现思路
1、在本实施例中提供了一种基于光电探测器的缺失电荷测量方法、装置和存储介质，以解决相关技术中无法对缺失电荷量进行准确测
2、第一个方面，在本实施例中提供了一种基于光电探测器的缺失电荷测量方法，所述方法包括：
3、获取目标探测器的光响应拟合曲线；
4、获取所述目标探测器的电荷分辨极限；
5、基于所述光响应拟合曲线和所述电荷分辨极限，确定所述目标探测器的目标光响应参数和实际光响应参数；
6、根据所述实际光响应参数和所述目标光响应参数，确定与所述目标探测器对应的缺失电荷量。
7、在其中的一些实施例中，所述获取目标探测器的光响应拟合曲线，包括：
8、获取所述目标探测器的样本光响应数据；
9、基于所述样本光响应数据，确定待拟合的数据范围；
10、将所述数据范围内的所述样本光响应数据进行拟合处理，得到对应的所述光响应拟合曲线。
11、在其中的一些实施例中，所述基于所述样本光响应数据，确定待拟合的数据范围，包括：
12、获取所述样本光响应数据对应的光响应离散曲线，并对所述光响应离散曲线进行平滑处理；
13、根据平滑处理后的所述光响应离散曲线，确定待拟合的数据范围。
14、在其中的一些实施例中，所述根据平滑处理后的所述光响应离散曲线，确定待拟合的数据范围，包括：
15、从平滑处理后的所述光响应离散曲线中，选取与脉冲高电平对应的响应恒值段；
16、将所述响应恒值段的起始采样点作为数据上限；
17、根据预设比例对所述脉冲高电平进行运算，并将运算结果对应的采样点作为数据下限；
18、根据所述数据上限与所述数据下限，确定所述待拟合的数据范围。
19、在其中的一些实施例中，所述获取目标探测器的样本光响应数据，包括：
20、基于预设的脉冲信号，对所述目标探测器进行脉冲响应测试，得到所述目标探测器的样本光响应数据。
21、在其中的一些实施例中，所述基于所述光响应拟合曲线和所述电荷分辨极限，确定所述目标探测器的目标光响应参数和实际光响应参数，包括：
22、根据所述目标探测器的电荷分辨极限，确定所述光响应拟合曲线对应的电荷积分域；
23、基于所述电荷积分域对所述电荷分辨极限的相关数值进行积分运算，得到所述目标探测器的目标光响应积分值；
24、基于所述电荷积分域对所述光响应拟合曲线进行积分运算，得到所述目标探测器的实际光响应积分值。
25、在其中的一些实施例中，所述根据所述目标探测器的电荷分辨极限，确定所述光响应拟合曲线对应的电荷积分域，包括：
26、获取所述目标探测器的多个所述电荷分辨极限，并对各个所述电荷分辨极限进行均值运算，得到分辨力均值；
27、确定与所述光响应拟合曲线中响应恒值段对应的光响应均值；
28、将所述光响应均值与所述分辨力均值的差值作为电荷分辨下限，并将所述电荷分辨下限与所述光响应拟合曲线的交点作为积分域上限；
29、根据所述预设比例对脉冲高电平进行运算，将运算结果对应的采样点作为积分域下限；
30、根据所述积分域上限与所述积分域下限，确定所述电荷积分域。
31、在其中的一些实施例中，所述获取所述目标探测器的电荷分辨极限，包括：
32、基于预设的光源图案集合对所述目标探测器进行测试，得到对应的采集图案集合；
33、确定所述光源图案集合与所述采集图案集合的匹配度；
34、在所述匹配度超出预设的阈值范围时，根据所述目标探测器的实时响应输出数据，确定所述电荷分辨极限。
35、第二个方面，在本实施例中提供了一种基于光电探测器的缺失电荷测量装置，所述装置包括：采样模块、测试模块、运算模块以及输出模块；
36、所述采样模块，用于获取目标探测器的光响应拟合曲线；
37、所述测试模块，用于获取所述目标探测器的电荷分辨极限；
38、所述运算模块，用于基于所述光响应拟合曲线和所述电荷分辨极限，确定所述目标探测器的目标光响应参数和实际光响应参数；
39、所述输出模块，用于根据所述实际光响应参数和所述目标光响应参数，确定与所述目标探测器对应的缺失电荷量。
40、第三个方面，在本实施例中提供了一种存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现上述第一个方面所述的基于光电探测器的缺失电荷测量方法。
41、与相关技术相比，在本实施例中提供的基于光电探测器的缺失电荷测量方法、装置和存储介质，通过获取目标探测器的光响应拟合曲线；获取目标探测器的电荷分辨极限；基于光响应拟合曲线和电荷分辨极限，确定目标探测器的目标光响应参数和实际光响应参数；进一步地，根据实际光响应参数和目标光响应参数，确定与目标探测器对应的缺失电荷量，解决了无法对缺失电荷量进行准确测量的问题，实现了对缺失电荷问题进行精准抑制和优化。
42、本申请的一个或多个实施例的细节在以下附图和描述中提出，以使本申请的其他特征、目的和优点更加简明易懂。
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1.一种基于光电探测器的缺失电荷测量方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的基于光电探测器的缺失电荷测量方法，其特征在于，所述获取目标探测器的光响应拟合曲线，包括：
3.根据权利要求2所述的基于光电探测器的缺失电荷测量方法，其特征在于，所述基于所述样本光响应数据，确定待拟合的数据范围，包括：
4.根据权利要求3所述的基于光电探测器的缺失电荷测量方法，其特征在于，所述根据平滑处理后的所述光响应离散曲线，确定待拟合的数据范围，包括：
5.根据权利要求2所述的基于光电探测器的缺失电荷测量方法，其特征在于，所述获取目标探测器的样本光响应数据，包括：
6.根据权利要求1所述的基于光电探测器的缺失电荷测量方法，其特征在于，所述基于所述光响应拟合曲线和所述电荷分辨极限，确定所述目标探测器的目标光响应参数和实际光响应参数，包括：
7.根据权利要求6所述的基于光电探测器的缺失电荷测量方法，其特征在于，所述根据所述目标探测器的电荷分辨极限，确定所述光响应拟合曲线对应的电荷积分域，包括：
8.根据权利
9.一种基于光电探测器的缺失电荷测量装置，其特征在于，所述装置包括：采样模块、测试模块、运算模块以及输出模块；
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-8中任一项所述的基于光电探测器的缺失电荷测量方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种基于光电探测器的缺失电荷测量方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的基于光电探测器的缺失电荷测量方法，其特征在于，所述获取目标探测器的光响应拟合曲线，包括：
3.根据权利要求2所述的基于光电探测器的缺失电荷测量方法，其特征在于，所述基于所述样本光响应数据，确定待拟合的数据范围，包括：
4.根据权利要求3所述的基于光电探测器的缺失电荷测量方法，其特征在于，所述根据平滑处理后的所述光响应离散曲线，确定待拟合的数据范围，包括：
5.根据权利要求2所述的基于光电探测器的缺失电荷测量方法，其特征在于，所述获取目标探测器的样本光响应数据，包括：
6.根据权利要求1所述的基于光电探测器的缺失电荷测量方法，其特征在于，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：施长治，
申请(专利权)人：上海联影微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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