【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种玻璃，其用于辐射探测器，特别地用于中子探测器、紫外探测器和中微子探测器。本专利技术还涉及生产该玻璃的方法以及该玻璃在辐射探测器和/或粒子探测器中的用途，特别地是在中子探测器、紫外探测器或中微子探测器中的用途。
技术介绍
1、辐射探测器和/或粒子探测器通常包括透镜、盖板、玻璃纤维等不会干扰测量的玻璃制品。
2、然而，原材料和生产过程可能会使玻璃受到材料的污染，而这些材料确实会干扰某些辐射和/或粒子。例如，玻璃中的某些组分包括具有中子吸收和/或紫外吸收能力的元素。其中一些玻璃元素甚至可能会显示出微弱的核辐射，从而会进一步影响实际测量。
3、例如，大多数传统玻璃包括zr、hf，以及fe、ti和/或pt等其他污染物，其中，hf至少在某些同位素中具有放射性并具有中子吸收能力，同时，由于zr和hf在化学上密切相关，zr污染物通常也包含hf污染物。例如，pt、ti和fe会吸收特定波长的紫外光。因此，上述被污染的玻璃对于辐射探测装置和/或粒子探测装置，特别是对于中子探测装置、紫外探测器或中微子探测装置，并不是特
【技术保护点】
1.一种玻璃，在基准厚度1.0mm下所述玻璃在260nm波长下的透射率为至少65.0％，其中，所述玻璃中ZrO2的量小于150ppm。
2.根据权利要求1所述的玻璃，其中，所述玻璃中HfO2的量小于10ppm。
3.根据权利要求1或2所述的玻璃，其中，所述玻璃中α粒子的放射低于4.42贝克勒尔/克玻璃。
4.根据前述权利要求中任一项所述的玻璃，其中，所述玻璃中Fe2O3、MoO3和WO3中的一种或多种的量低于10ppm。
5.根据前述权利要求中任一项所述的玻璃，其中，所述玻璃中TiO2的量低于20ppm。
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【技术特征摘要】
1.一种玻璃，在基准厚度1.0mm下所述玻璃在260nm波长下的透射率为至少65.0％，其中，所述玻璃中zro2的量小于150ppm。
2.根据权利要求1所述的玻璃，其中，所述玻璃中hfo2的量小于10ppm。
3.根据权利要求1或2所述的玻璃，其中，所述玻璃中α粒子的放射低于4.42贝克勒尔/克玻璃。
4.根据前述权利要求中任一项所述的玻璃，其中，所述玻璃中fe2o3、moo3和wo3中的一种或多种的量低于10ppm。
5.根据前述权利要求中任一项所述的玻璃，其中，所述玻璃中tio2的量低于20ppm。
6.根据前述权利要求中任一项所述的玻璃，其包括以下指示量的组分(以cat％计)：
7.根据前述权利要求中任一项所述的玻璃，其中，在基准厚度1mm下在260nm波长下...
【专利技术属性】
技术研发人员：J·拉斯普，R·E·艾希霍尔茨，
申请(专利权)人：肖特股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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