System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种双光源独立对中的激光粒度仪制造技术_技高网

一种双光源独立对中的激光粒度仪制造技术

技术编号:40838712 阅读:3 留言:0更新日期:2024-04-01 15:04
一种双光源独立对中的激光粒度仪,包括两个独立光路,激光器2发射的激光经扩束准直镜组3照射在颗粒样品10上,散射光经接收透镜4后由光电探测器阵列6接收,入射平行光经接收透镜4后会聚在光电二极管5,该第一独立光路用于测量颗粒散射信号;激光器1发射激光经对中透镜9后会聚在四象限探测器7,该第二独立光路用于对中。光电探测器阵列6和四象限探测器7安装在同一块电路板8,可整体移动,在光电探测器阵列6中心和电路板8对应位置各开一个小孔,在小孔后安装光电二极管5。根据四象限探测器7的光斑位置移动电路板8,当该光斑位于四象限探测器7中心时,同时光电二极管5信号最大,完成对中操作,然后可测量颗粒样品10的粒度分布。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及激光粒度测量,提供一种双光源独立对中的激光粒度仪,尤其是激光发射和信号接收分体式结构的激光粒度仪。


技术介绍

1、激光粒度仪是通过测量光的散射信号分布计算颗粒粒度分布的仪器,一般测量的是前向小角度的不同散射角的颗粒散射光强度。受光电探测器空间尺寸的限制,一般只在探测器中心开个小孔,且在孔后安装一个光电二极管,通过上、下和左、右方向调节光电探测器,同时观察或测量光电二极管接收的光强,当光强达到最大时,认为对中完成。采用这种方法手动对中的客观性差,不容易找到光强最大时的中心会聚点;若采用自动对中,只有一路信号判断两维移动方向实现困难。尤其采用是激光发射和信号接收分体式的结构时,对中和采集光电角分布信号更加困难。


技术实现思路

1、本专利技术提供一种双光源独立对中的激光粒度仪,解决对中和调整困难的问题,便于自动调整和光电信号采集。

2、本专利技术采取以下的技术方案。

3、本专利技术提供的双光源独立对中的激光粒度仪,包括:激光器1、激光器2、扩束准直镜组3、接收透镜4、光电二极管5、光电探测器阵列6、四象限探测器7、电路板8、对中透镜9。

4、本专利技术提供的双光源独立对中的激光粒度仪,激光器2、扩束准直镜组3、接收透镜4的光轴、光电探测器阵列6、光电二极管5的中心同轴,光电探测器阵列6位于接收透镜4的焦平面位置,光电二极管5位于光电探测器阵列6后方,构成第一个独立光路。由激光器2发射的激光经扩束准直镜组3扩束后形成入射平行光,经接收透镜4后会聚在光电二极管5上用于对中。对中后放入颗粒样品10,颗粒样品10的散射光经接收透镜4后由光电探测器阵列6接收,该独立光路用于测量颗粒样品10的粒度分布。

5、进一步地,激光器1、对中透镜9的光轴和四象限探测器7的中心同轴,四象限探测器7位于对中透镜9的焦平面位置,构成第二个独立光路,由激光器1发射的平行激光经对中透镜9后会聚在四象限探测器7上,该独立光路用于整个光路系统对中。

6、进一步地,四象限探测器7和光电探测器阵列6安装在同一块电路板8上,它们的中心距与激光器1、激光器2的中心距相等,光电探测器阵列6的中心和电路板8的对应位置各开一个小孔,在电路板8小孔后安装光电二极管5。

7、进一步地,在激光粒度仪首次装配时,先将第一个独立光路对中,即将激光器2、扩束准直镜组3、接收透镜4、光电探测器阵列6和光电二极管5的中心调整为同轴;然后微调激光器1,使光斑会聚于四象限探测器7的中心,完成第二个独立光路的对中,并将激光器1固定,即完成整个光路系统对中。

8、进一步地,激光粒度仪在使用时,第一个独立光路上的器件位置产生变化造成不对中,需要进行调整。此时只需要手动或自动调整第二个独立光路对中,即可完成整个光路系统的对中,然后可测量颗粒粒度分布。

9、本专利技术的优点和积极效果:

10、本专利技术提供的双光源独立对中的激光粒度仪,第一个独立光路只用于采集颗粒的散射光信号;第二个独立光路只用于对中。在首次装配时分别调整两个独立光路对中并固定激光器1和激光器2,在使用时只需要对第二个独立光路对中即可完成整个光路系统的对中。

11、由于第二个独立光路采用了四象限探测器7在二维方向上测量光信号,因此可以分别判断光斑会聚点在二维方向的变化,从而可以在二维方向上分别调整,也便于进行自动对中。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种双光源独立对中的激光粒度仪,包括:激光器1、激光器2、扩束准直镜组3、接收透镜4、光电二极管5、光电探测器阵列6、四象限探测器7、电路板8、对中透镜9,其中,光电探测器阵列6和四象限探测器7安装在同一块电路板8上,可整体移动,电路板8位于接收透镜4和对中透镜7的焦平面位置。

2.根据权利要求1所述的双光源独立对中的激光粒度仪,其特征在于,包括两个独立光路,由激光器2发射的激光经扩束准直镜组3后成为入射平行光,照射在颗粒样品10上,颗粒样品10的散射光经接收透镜4后由光电探测器阵列6接收,且入射平行光经接收透镜4后会聚会聚在光电二极管5上,构成第一个独立光路,用于测量颗粒散射信号;由激光器1发射的激光经对中透镜9照射在四象限探测器7上,构成第二个独立光路,用于整个光路系统对中。

3.根据权利要求1、2所述的双光源独立对中的激光粒度仪,其特征在于,根据四象限探测器7上的光斑位置移动电路板8,当该光斑位于四象限探测器7中心时,入射平行光经接收透镜4会聚在二极管5上的信号强度最大,实现整个光路系统对中,此时放入颗粒样品10测量,颗粒样品10的前向散射角分布信号可由光电探测器阵列6接收。

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【技术特征摘要】

1.一种双光源独立对中的激光粒度仪,包括:激光器1、激光器2、扩束准直镜组3、接收透镜4、光电二极管5、光电探测器阵列6、四象限探测器7、电路板8、对中透镜9,其中,光电探测器阵列6和四象限探测器7安装在同一块电路板8上,可整体移动,电路板8位于接收透镜4和对中透镜7的焦平面位置。

2.根据权利要求1所述的双光源独立对中的激光粒度仪,其特征在于,包括两个独立光路,由激光器2发射的激光经扩束准直镜组3后成为入射平行光,照射在颗粒样品10上,颗粒样品10的散射光经接收透镜4后由光电探测器阵列6接收,...

【专利技术属性】
技术研发人员:魏永杰宋伟强程钦玉
申请(专利权)人:河北工业大学
类型:发明
国别省市:

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