【技术实现步骤摘要】
本申请涉及磁共振成像，特别是涉及一种伪影校正方法和装置。
技术介绍
1、在平面回波成像(echo planar imaging，epi)中，由于读出梯度延迟、主磁场不均匀以及涡流场效应等因素，导致平面回波图像在相位编码方向出现伪影，该伪影会对平面回波图像的质量造成影响。
2、相关技术中，为了对平面回波图像中的伪影进行校正，可以通过其他的采集方式获取磁共振参考图像，并根据磁共振参考图像，估计平面回波图像在奇偶行相位差异。并基于该相位差异，校正平面回波图像中的伪影。
3、然而，相关技术的方法存在平面回波图像中的伪影校正不充分的问题。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种伪影校正方法和装置，能够使得平面回波图像中的伪影校正充分。
2、第一方面，本申请提供了一种伪影校正方法，该方法包括：
3、获取原始平面回波图像和移位平面回波图像；移位平面回波图像是对原始平面回波图像在相位编码方向进行循环移位得到的；
4、基于原始平...
【技术保护点】
1.一种伪影校正方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述伪影程度量化值对所述原始平面回波图像进行伪影校正，得到所述伪影校正后的平面回波图像，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述基于所述原始平面回波图像和所述移位平面回波图像，确定所述原始平面回波图像的伪影程度量化值，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述原始平面回波图像的采集方式为并行采集的情况下，所述移位平面回波图像包
【技术特征摘要】
1.一种伪影校正方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述伪影程度量化值对所述原始平面回波图像进行伪影校正，得到所述伪影校正后的平面回波图像，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述基于所述原始平面回波图像和所述移位平面回波图像，确定所述原始平面回波图像的伪影程度量化值，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述原始平面回波图像的采集方式为并行采集的情况下，所述移位平面回波图像包括多个；
6.根据...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘思敏，陈硕，韩华璐，陈余燕，
申请(专利权)人：北京联影智能影像技术研究院，
类型：发明
国别省市：
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