【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于液晶移相器，具体涉及一种液晶移相器响应时间测试系统及测试方法。
技术介绍
1、液晶是一种物理状态介于固态和液态之间有着特殊性质的材料，它的分子仍然像固态晶体一样具有方向性，同时也能像液体一样流动。液晶材料由各向异性分子构成，分子间作用力使液晶材料在各个方向上具有非均匀性。移相器是一种用于改变信号相位的电子器件或电路。它可以将输入信号的相位进行平移，从而实现对信号相位的调节。移相器在微波电路中被广泛应用，但最重要的应用在相控阵天线系统。液晶移相器具有体积小、便捷性高、功耗低、制造成本低等显著优点，为低成本、低功耗的相控阵天线设计提供了一个有效的解决方案，是目前具有发展潜力的新兴技术。液晶移相器的响应时间是液晶移相器的重要指标，传统手段采用光学手段，无法测试液晶移相器的相位。因此，针对上述技术问题，有必要提供一种液晶移相器响应时间测试系统及测试方法。
2、公开于该
技术介绍
部分的信息仅仅旨在增加对本专利技术的总体背景的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种液晶移相器响应时间测试系统及测试方法，其能够将液晶移相器的相位信息通过信号合成转换成电压信号，从而方便快速地测得液晶移相器的响应时间。
2、为了实现上述目的，本专利技术一具体实施例提供的技术方案如下：
3、一种液晶移相器响应时间测试系统，所述液晶移相器用于基于偏置电压对测试信号进行移相，包
4、在本专利技术的一个或多个实施例中，所述测试模块包括：信号发生器，用于基于控制信号产生测试信号；移相器，用于将测试信号移动指定相位并产生基准信号；信号合成模块，用于将液晶移相器的输出信号与基准信号进行合成并产生合成信号，以及基于合成信号产生电压信号；示波器，用于分析电压信号的达到稳定状态所需时间，所述示波器的第一输入端用于接收控制信号，所述示波器的第二输入端用于接收电压信号。
5、在本专利技术的一个或多个实施例中，所述测试模块还包括用于将测试信号分成两路测试信号的功率分配器，所述功率分配器的输入端用于接收测试信号，所述功率分配器的第一输出端与液晶移相器的输入端相连，所述功率分配器的第二输出端与移相器的输入端相连。
6、在本专利技术的一个或多个实施例中，所述网络分析仪还用于分析合成信号的功率并将合成信号的功率数据发送至上位机。
7、在本专利技术的一个或多个实施例中，所述信号合成模块包括可调衰减器、合路器、检波器、第一开关、第二开关、控制模块和输出端口，所述可调衰减器的输入端与移相器的输出端相连，所述可调衰减器的输出端与合路器的第一输入端相连以调节基准信号的大小，所述合路器的第二输入端与液晶移相器的输出端相连，所述合路器的输出端与第一开关的第一端相连以产生合成信号，所述第一开关的第二端与检波器的输入端相连，所述检波器的输出端与第二开关的第二端相连以基于合成信号输出电压信号，所述第二开关的第一端与输出端口相连，所述第一开关的第三端与第二开关的第三端相连，所述控制模块用于基于控制信号控制第一开关和第二开关的通断。
8、在本专利技术的一个或多个实施例中，所述合路器为90°3db电桥，所述信号合成模块还包括负载，所述90°3db电桥的第一输出端与第一开关的第一端相连以产生合成信号，所述90°3db电桥的第二输出端与负载相连。
9、本专利技术一具体实施例还提供一种液晶移相器响应时间测试方法，基于上述的液晶移相器响应时间测试系统，所述方法包括：通过上位机产生控制信号；通过电压驱动模块基于控制信号产生偏置电压；通过网络分析仪基于控制信号产生测试信号，以及将液晶移相器的输出信号相位信息发送至上位机；通过上位机建立液晶移相器的偏置电压与移相相位之间的映射关系；通过测试模块将测试信号移动指定相位并产生基准信号、将液晶移相器的输出信号与基准信号进行合成并产生合成信号，以及根据合成信号的稳定时间得到液晶移相器的响应时间。
10、在本专利技术的一个或多个实施例中，所述通过测试模块将测试信号移动指定相位并产生基准信号包括配置移相器，通过信号发生器产生测试信号，通过移相器将测试信号移动指定相位并产生基准信号，所述配置移相器包括：通过网络分析仪基于控制信号产生测试信号；通过液晶移相器将测试信号移动待测试相位；通过移相器对测试信号移相并产生基准信号；通过合路器将液晶移相器的输出信号与基准信号进行合成并产生合成信号；通过第一开关和第二开关将合路器的输出端与输出端口相连；通过网络分析仪分析合成信号的功率，并调节移相器，使移相器的相位达到指定相位。
11、在本专利技术的一个或多个实施例中，所述指定相位与待测试相位的相位差为180°，所述合成信号的功率为最小功率时移相器的相位达到指定相位。
12、在本专利技术的一个或多个实施例中，所述根据合成信号的稳定时间得到液晶移相器的响应时间包括：通过第一开关将合路器的输出端与检波器的输入端相连，通过第二开关将检波器的输出端与输出端口相连；通过上位机产生控制信号，通过电压驱动模块产生偏置电压；通过液晶移相器对测试信号进行移相；通过信号合成模块将液晶移相器的输出信号与基准信号进行合成并产生合成信号，以及基于合成信号产生电压信号；通过示波器分析电压信号的达到稳定状态所需时间。
13、与现有技术相比，本专利技术的液晶移相器响应时间测试系统及测试方法，通过合成液晶移相器的输出信号和基准信号，使液晶移相器的相位信息通过信号合成转换成电压信号，从而方便快速地测得液晶移相器的响应时间。还能够基于偏置电压与移相相位之间的映射关系，测试不同移相相位时液晶移相器的响应时间。
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1.一种液晶移相器响应时间测试系统，所述液晶移相器用于基于偏置电压对测试信号进行移相，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的液晶移相器响应时间测试系统，其特征在于，所述测试模块包括：
3.根据权利要求2所述的液晶移相器响应时间测试系统，其特征在于，所述测试模块还包括用于将测试信号分成两路测试信号的功率分配器，所述功率分配器的输入端用于接收测试信号，所述功率分配器的第一输出端与液晶移相器的输入端相连，所述功率分配器的第二输出端与移相器的输入端相连。
4.根据权利要求2所述的液晶移相器响应时间测试系统，其特征在于，所述网络分析仪还用于分析合成信号的功率并将合成信号的功率数据发送至上位机。
5.根据权利要求2所述的液晶移相器响应时间测试系统，其特征在于，所述信号合成模块包括可调衰减器、合路器、检波器、第一开关、第二开关、控制模块和输出端口，所述可调衰减器的输入端与移相器的输出端相连，所述可调衰减器的输出端与合路器的第一输入端相连以调节基准信号的大小，所述合路器的第二输入端与液晶移相器的输出端相连，所述合路器的输出端与第一开关的第一端
6.根据权利要求5所述的液晶移相器响应时间测试系统，其特征在于，所述合路器为90°3dB电桥，所述信号合成模块还包括负载，所述90°3dB电桥的第一输出端与第一开关的第一端相连以产生合成信号，所述90°3dB电桥的第二输出端与负载相连。
7.一种液晶移相器响应时间测试方法，其特征在于，基于权利要求1～6任一项所述的液晶移相器响应时间测试系统，所述方法包括：
8.根据权利要求7所述的液晶移相器响应时间测试方法，其特征在于，所述通过测试模块将测试信号移动指定相位并产生基准信号包括配置移相器，通过信号发生器产生测试信号，通过移相器将测试信号移动指定相位并产生基准信号，所述配置移相器包括：
9.根据权利要求8所述的液晶移相器响应时间测试方法，其特征在于，所述指定相位与待测试相位的相位差为180°，所述合成信号的功率为最小功率时移相器的相位达到指定相位。
10.根据权利要求7所述的液晶移相器响应时间测试方法，其特征在于，所述根据合成信号的稳定时间得到液晶移相器的响应时间包括：
...【技术特征摘要】
1.一种液晶移相器响应时间测试系统，所述液晶移相器用于基于偏置电压对测试信号进行移相，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的液晶移相器响应时间测试系统，其特征在于，所述测试模块包括：
3.根据权利要求2所述的液晶移相器响应时间测试系统，其特征在于，所述测试模块还包括用于将测试信号分成两路测试信号的功率分配器，所述功率分配器的输入端用于接收测试信号，所述功率分配器的第一输出端与液晶移相器的输入端相连，所述功率分配器的第二输出端与移相器的输入端相连。
4.根据权利要求2所述的液晶移相器响应时间测试系统，其特征在于，所述网络分析仪还用于分析合成信号的功率并将合成信号的功率数据发送至上位机。
5.根据权利要求2所述的液晶移相器响应时间测试系统，其特征在于，所述信号合成模块包括可调衰减器、合路器、检波器、第一开关、第二开关、控制模块和输出端口，所述可调衰减器的输入端与移相器的输出端相连，所述可调衰减器的输出端与合路器的第一输入端相连以调节基准信号的大小，所述合路器的第二输入端与液晶移相器的输出端相连，所述合路器的输出端与第一开关的第一端相连以产生合成信号，所述第一开关的第二端与检波器的输入端相连，所述检波器的输出端与第二开关的第二端相连以基于...
【专利技术属性】
技术研发人员：樊小景，胡恒太，陈晓菡，郑全化，李朝伟，
申请(专利权)人：上海雷骥电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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