一种用于测试芯片的散热装置制造方法及图纸

本技术涉及芯片质检技术领域，且公开了一种用于测试芯片的散热装置，包括测试箱，测试箱上开设有凹槽，且凹槽内固定安装有测试台，测试台的上方设置有芯片测试仪，测试箱上位于测试台的两侧固定安装有散热板，测试箱的内部对称设置有散热结构，通过设置散热结构，可以有效增大散热面积，对芯片测试仪和测试台进行散热，避免芯片测试仪长时间工作导致温度过热，第二电机的输出轴带动散热扇转动，散热扇便会通过散热板对芯片测试仪和测试台进行吹风，同时第一电机的输出轴带着导向块转动，导向块通过固定杆、调节扣和十字转动轴带着第二电机的底端绕着第一电机的中心轴转动，调节扣和十字转动轴起到调整角度的作用，此时可增大吹风面积。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及芯片质检，具体为一种用于测试芯片的散热装置。

技术介绍

1、芯片是半导体元件产品的统称，是集成电路的载体，由晶圆分割而成,可以将芯片划分为功能芯片和存储芯片，我们常说的电脑的cpu和手机cpu就是一种功能芯片，存储芯片又称电脑闪存即flash这类,芯片就像是人类的大脑，随着科技的不断发展，其重要性愈发突出,现有的芯片测试设备散热效果较差，芯片测试仪长时间工作导致温度过热，造成受损，也会导致检测结果不准确，为此我们提出了一种用于测试芯片的散热装置。

技术实现思路

1、针对现有技术的不足，本技术提供了一种用于测试芯片的散热装置，解决了上述的问题。

2、为实现上述所述目的，本技术提供如下技术方案：一种用于测试芯片的散热装置，包括测试箱，所述测试箱上开设有凹槽，且凹槽内固定安装有测试台，测试台的上方设置有芯片测试仪，所述测试箱上位于测试台的两侧固定安装有散热板，测试箱的内部对称设置有散热结构，所述散热结构包括有固定座、第一电机、导向块、固定杆、调节扣、十字转动轴、第二电机和散热扇，所述测试箱的内本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于测试芯片的散热装置，包括测试箱（1），其特征在于：所述测试箱（1）上开设有凹槽，且凹槽内固定安装有测试台（4），测试台（4）的上方设置有芯片测试仪（3），所述测试箱（1）上位于测试台（4）的两侧固定安装有散热板（2），测试箱（1）的内部对称设置有散热结构，所述散热结构包括有固定座（15）、第一电机（16）、导向块（17）、固定杆（18）、调节扣（19）、十字转动轴（20）、第二电机（21）和散热扇（22），所述测试箱（1）的内侧壁固定安装有固定座（15），固定座（15）的内部固定安装有第一电机（16），所述第一电机（16）的输出轴固定安装有导向块（17），且导向块（17）弯曲...

【技术特征摘要】

1.一种用于测试芯片的散热装置，包括测试箱（1），其特征在于：所述测试箱（1）上开设有凹槽，且凹槽内固定安装有测试台（4），测试台（4）的上方设置有芯片测试仪（3），所述测试箱（1）上位于测试台（4）的两侧固定安装有散热板（2），测试箱（1）的内部对称设置有散热结构，所述散热结构包括有固定座（15）、第一电机（16）、导向块（17）、固定杆（18）、调节扣（19）、十字转动轴（20）、第二电机（21）和散热扇（22），所述测试箱（1）的内侧壁固定安装有固定座（15），固定座（15）的内部固定安装有第一电机（16），所述第一电机（16）的输出轴固定安装有导向块（17），且导向块（17）弯曲向上，所述导向块（17）的另一侧固定安装有调节扣（19），调节扣（19）上套设有十字转动轴（20），且调节扣（19）设置为方框形，所述十字转动轴（20）通过设置的调节扣（19）与固定座（15）转动连接，所述调节扣（19）的顶端固定安装有第二电机（21），且第二电机（21）的输出轴固定安装有散热扇（22）。

2.根据权利要求1所述的一种用于测试芯片...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴琼，陈娟，葛慧宗，徐斌，
申请(专利权)人：耐而达精密工程苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：