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本技术涉及芯片质检技术领域，且公开了一种用于测试芯片的散热装置，包括测试箱，测试箱上开设有凹槽，且凹槽内固定安装有测试台，测试台的上方设置有芯片测试仪，测试箱上位于测试台的两侧固定安装有散热板，测试箱的内部对称设置有散热结构，通过设置散热结...
该专利属于耐而达精密工程（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过耐而达精密工程（苏州）有限公司授权不得商用。

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