【技术实现步骤摘要】
本申请涉及工装夹具，特别是涉及一种适用于电路元件检漏试验的试验载具组合。
技术介绍
1、随着高智能的电子产品的发展，为了保障电子产品所使用的电路元件的可靠性，需要进行电路元件的检漏试验。上述检漏试验包括细检漏和粗检漏两步，需要先进行细检漏，后进行粗检漏。在进行上述两步试验时，需要用到特制的试验工装对试验样品进行盛放与转移。
2、相关技术中，通过具有叠层设置的托盘的试验工装以实现样品的盛放与转移。
3、然而，叠层设置的托盘在试验过程中易发生晃动脱落。因此，传统的试验工装的结构稳定性不高。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对传统的试验工装的结构稳定性不高的问题，提供一种试验载具组合。
2、一种试验载具组合，所述试验载具组合包括：
3、样品托盘，所述样品托盘的对应两侧设有定位结构；
4、第一支架，所述第一支架包括第一支撑座及连接于所述支撑座相对两侧的第一提拉件，所述第一支架用于将多个所述样品托盘叠放于所述第一支撑座上，且对应两侧的所述定位结构能够与相对两侧的所述第一提拉件定位卡接；
5、第二支架，所述第二支架包括第二支撑座、第二提拉件及限位结构，所述第二提拉件及所述限位结构分别设于所述第二支撑座的相对两侧，所述第二支架用于将单个所述样品托盘放置于所述第二支撑座上，且对应两侧的所述定位结构能够分别与相对两侧的所述第二提拉件及所述限位结构定位卡接。
6、在其中一个实施例中，所述定位结构包括间隔设置的第一凸起
7、在其中一个实施例中，所述试验载具组合还包括提拉杆，所述第一提拉件远离所述第一支撑座的一端设有第一提拉部，所述提拉杆可拆卸地装设于所述第一提拉部，以用于提拉所述第一支架。
8、在其中一个实施例中，所述第二提拉件远离所述第二支撑座的一端设有第二提拉部，所述第二提拉部能够用于握持以提拉所述第二支架。
9、在其中一个实施例中，所述第一提拉件及所述第二提拉件均分别沿其各自长度方向设有加强结构。
10、在其中一个实施例中，所述试验载具组合还包括减震盘，所述减震盘用于承载所述样品托盘。
11、在其中一个实施例中，所述减震盘包括圆盘及至少3个支撑脚，所述支撑脚沿所述圆盘的周向间隔设置。
12、在其中一个实施例中，所述圆盘表面均匀布有气孔。
13、在其中一个实施例中，所述样品托盘包括底板及沿所述底板的边缘设置的凸缘，所述底板及所述凸缘的表面均设有过油孔。
14、在其中一个实施例中，所述凸缘设有过油间隙，所述过油间隙于所述底板的朝向所述凸缘的一侧相邻设置。
15、在其中一个实施例中，所述第一支撑座及所述第二支撑座的各自的中部位置均设有镂空部。
16、上述试验载具组合在使用时，通过定位结构能够与第一提拉件定位卡接的设置，能够使得样品托盘稳定地安装于第一支架上，提高了结构稳定性。另外，本申请还设有与样品托盘相适应的第二支架，通过定位结构能够分别与第二提拉件及限位结构定位卡接的设置，使得样品托盘也能够稳定地安装于第二支架上。通过上述设置，有利于防止样品托盘从第一支架或第二支架上脱落，提高试验过程的稳定性。
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1.一种试验载具组合，其特征在于，所述试验载具组合包括：
2.根据权利要求1所述的试验载具组合，其特征在于，所述定位结构包括间隔设置的第一凸起与第二凸起，所述第一凸起与所述第二凸起之间形成卡接部，当多个所述样品托盘叠放于所述第一支撑座上时，多个所述样品托盘的所述卡接部均卡接于所述第一提拉件；当单个所述样品托盘放置于所述第二支撑座上时，单个所述样品托盘的对应两侧的所述卡接部能够分别卡接于所述第二提拉件及所述限位结构。
3.根据权利要求1所述的试验载具组合，其特征在于，所述试验载具组合还包括提拉杆，所述第一提拉件远离所述第一支撑座的一端设有第一提拉部，所述提拉杆可拆卸地装设于所述第一提拉部，以用于提拉所述第一支架。
4.根据权利要求1所述的试验载具组合，其特征在于，所述第二提拉件远离所述第二支撑座的一端设有第二提拉部，所述第二提拉部能够用于握持以提拉所述第二支架。
5.根据权利要求1所述的试验载具组合，其特征在于，所述第一提拉件及所述第二提拉件均分别沿其各自长度方向设有加强结构。
6.根据权利要求1所述的试验载具组合，其特征
7.根据权利要求6所述的试验载具组合，其特征在于，所述减震盘包括圆盘及至少3个支撑脚，所述支撑脚沿所述圆盘的周向间隔设置。
8.根据权利要求7所述的试验载具组合，其特征在于，所述圆盘表面均匀布有气孔。
9.根据权利要求1所述的试验载具组合，其特征在于，所述样品托盘包括底板及沿所述底板的边缘设置的凸缘，所述底板及所述凸缘的表面均设有过油孔。
10.根据权利要求9所述的试验载具组合，其特征在于，所述凸缘设有过油间隙，所述过油间隙于所述底板的朝向所述凸缘的一侧相邻设置。
11.根据权利要求1所述的试验载具组合，其特征在于，所述第一支撑座及所述第二支撑座的各自的中部位置均设有镂空部。
...【技术特征摘要】
1.一种试验载具组合，其特征在于，所述试验载具组合包括：
2.根据权利要求1所述的试验载具组合，其特征在于，所述定位结构包括间隔设置的第一凸起与第二凸起，所述第一凸起与所述第二凸起之间形成卡接部，当多个所述样品托盘叠放于所述第一支撑座上时，多个所述样品托盘的所述卡接部均卡接于所述第一提拉件；当单个所述样品托盘放置于所述第二支撑座上时，单个所述样品托盘的对应两侧的所述卡接部能够分别卡接于所述第二提拉件及所述限位结构。
3.根据权利要求1所述的试验载具组合，其特征在于，所述试验载具组合还包括提拉杆，所述第一提拉件远离所述第一支撑座的一端设有第一提拉部，所述提拉杆可拆卸地装设于所述第一提拉部，以用于提拉所述第一支架。
4.根据权利要求1所述的试验载具组合，其特征在于，所述第二提拉件远离所述第二支撑座的一端设有第二提拉部，所述第二提拉部能够用于握持以提拉所述第二支架。
5.根据权利要求1所述的试验载具组...
【专利技术属性】
技术研发人员：韦艳妮，唐锐，费武雄，石文博，范玉玢，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：新型
国别省市：
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