一种用于大尺寸单晶硅晶圆的抗腐蚀液体蜡及其制备方法技术

技术编号:40788008 阅读:43 留言:0更新日期:2024-03-28 19:19
本发明专利技术涉及一种用于大尺寸单晶硅晶圆抗腐蚀液体蜡,按照重量份计算,包括如下组分:低极性溶剂10‑40份;两性溶剂10‑30份;增粘树脂10‑40份;高分子量粘结树脂0.1‑5份;分散剂0.5‑5份;电荷稳定剂0.05‑0.5份。本发明专利技术还公开了上述抗腐蚀液体蜡的制备方法。本发明专利技术采用的增粘树脂具有良好的耐酸碱腐蚀性能且具有疏水性和较高软化点。增粘树脂和高分子量粘结树脂复合改善液体蜡的抗腐蚀性能:高分子量粘结树脂具有抗化学腐蚀性能,可以提高增粘树脂的粘结力,两者协同缠绕形成网状结构,保证蜡层具有更高致密度,提高蜡层的抗腐蚀性。本发明专利技术采用阴离子分散剂、电荷稳定剂,组成稳定正负电荷双电层,形成亲疏水保护膜包,进一步增强抗腐蚀性能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于半导体制造工艺领域,尤其涉及一种用于大尺寸单晶硅晶圆的抗腐蚀液体蜡及其制备方法


技术介绍

1、在单晶硅晶圆衬底的后段制程过程中的研磨、抛光工序中,临时粘结液体蜡是单晶硅晶圆加工的核心材料,对硅晶圆加工质量和保护作用至关重要。

2、随着半导体材料技术的发展,对硅晶圆的规格和质量也提出更高的要求,大尺寸单晶硅晶圆在市场的需求比例将日益加大。加工效率和产品质量要求进一步提升,作为半导体产业核心材料之一的硅晶圆,其性能的优劣,直接影响着半导体产业的发展水平。

3、目前单晶硅的研磨-抛光工艺主要包括双面研磨、单面氧化硅化学机械抛光工序。其中化学机械抛光工序需要对单晶硅晶圆进行贴蜡作业,保证单晶硅晶圆加工过程中的平整性,由于单晶硅圆在化学机械抛光中加工温度和化学腐蚀性增加,热应力增强,常规的液体蜡受热变形,硅晶圆受力不均,液体蜡边缘被腐蚀,容易产硅晶圆抛光后厚薄不均、和出现滑片、破片和崩边等技术问题,严重影响硅晶圆加工质量和加工效率。

4、并且随着单晶硅晶圆尺寸增大,常规液体蜡流动性差,抗腐蚀能力不足,导致涂蜡均匀性本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于大尺寸单晶硅晶圆的抗腐蚀液体蜡,其特征在于,按照重量份计算,包括如下组分:

2.根据权利要求1所述的用于大尺寸单晶硅晶圆的抗腐蚀液体蜡,其特征在于:

3.根据权利要求2所述的用于大尺寸单晶硅晶圆的抗腐蚀液体蜡,其特征在于:

4.根据权利要求3所述的用于大尺寸单晶硅晶圆的抗腐蚀液体蜡,其特征在于:

5.根据权利要求4所述的用于大尺寸单晶硅晶圆的抗腐蚀液体蜡,其特征在于:

6.根据权利要求5述的用于大尺寸单晶硅晶圆的抗腐蚀液体蜡,其特征在于:

7.根据权利要求6所述的用于大尺寸单晶硅晶圆的抗腐蚀液体蜡,其特征...

【技术特征摘要】

1.一种用于大尺寸单晶硅晶圆的抗腐蚀液体蜡,其特征在于,按照重量份计算,包括如下组分:

2.根据权利要求1所述的用于大尺寸单晶硅晶圆的抗腐蚀液体蜡,其特征在于:

3.根据权利要求2所述的用于大尺寸单晶硅晶圆的抗腐蚀液体蜡,其特征在于:

4.根据权利要求3所述的用于大尺寸单晶硅晶圆的抗腐蚀液体蜡,其特征在于:

5.根据权利要求4所述的用于大尺寸单晶硅晶圆的抗腐蚀液体蜡...

【专利技术属性】
技术研发人员:李传强侯军褚雨露单晓倩
申请(专利权)人:江苏奥首材料科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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