【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于射频集成电路，尤其涉及一种射频负载端口阻抗特性检测网络及检测方法。
技术介绍
1、大规模相控阵中天线之间的耦合，造成了负载端口阻抗的变化，影响单个通道射频性能。为了能够提升性能，高性能射频前端需要实时动态的检测负载端口阻抗。另一方面，芯片大批量量测过程中，可在芯片内部设置负载阻抗及发射功率检测点，避免使用探针直接测量，降低芯片量测成本。因此，如何准确检测负载端口阻抗信息以及负载端功率是射频电路中的一大难题。
技术实现思路
1、为解决上述问题，本专利技术的目的是提供一种射频负载端口阻抗特性检测网络及检测方法，获取第一电压峰值检测器检测的电流-电压响应信号的幅值和第二电压峰值检测器检测的电压-电压响应信号的幅值，基于计算出射频负载电压的幅值和射频负载电流的幅值相位检测网络通过第一移相器和/或第二移相器分别将所述电流-电压响应信号和所述电压-电压响应信号移相0°/θ°，采样得到的多个低频信号，从而计算出电流-电压响应信号和所述电压-电压响应信号的相对角度。
2、为实现上述目的，本专利技术的技术方案为：一种射频负载端口阻抗特性检测网络，包括：电流检测网络，所述电流检测网络包括互感耦合的第一线圈和第二线圈，并联的第一电容和第一电阻，所述第一线圈的两端串联接入放大器和射频天线之间，所述第二线圈与所述第一线圈互感耦合以检测射频负载端口的电流信号其中，所述电流检测网络的传递系数已知；电压检测网络，所述电压检测网络包括串联连接的第二电阻、第二电容和第三电容，所述第二电容的第
3、优选的，所述负载端口阻抗特性检测网络还包括相位检测网络，所述相位检测网络包括输入端与所述电流检测网络输出端连接的第一移相器、输入端与所述第二电容第二端连接的第二移相器、混频器、放大器和处理器，所述第一移相器的输出端和所述第二移相器的输出端均与所述混频器的输入端连接，所述混频器的输出端通过所述放大器将混频放大后的信号发送给所述处理器，所述阻抗特性检测网络工作时，基于所述第一移相器和/或所述第二移相器分别将所述电流-电压响应信号和所述电压-电压响应信号移相θ°,所述处理器采样得到的多个低频信号计算出电流-电压响应信号和所述电压-电压响应信号计算得到相对角度基于计算射频负载端口阻抗，基于计算射频负载端口功率。
4、优选的，所述第一移相器和所述第二移相器移相θ°和对应移相θ°引入的插损b已知的情况下，处理器基于以下公式任意两式计算出电流-电压响应信号和所述电压-电压响应信号的相对角度
5、
6、
7、
8、
9、基于计算射频负载端口阻抗，基于计算射频负载端口功率。
10、优选的，所述第一移相器和所述第二移相器移相θ°引入的插损b未知、所述混频器增益a未知的情况下，处理器基于以下公式任意两式计算出电流-电压响应信号和所述电压-电压响应信号的相对角度
11、
12、
13、
14、基于计算射频负载端口阻抗，基于计算射频负载端口功率。
15、优选的，所述相位检测网络还包括模数转换器，所述模数转换器将所述混频放大后的信号转换为数字信号后发送给所述处理器。
16、优选的，所述电流检测网络还包括并联的第一电阻和第一电容，所述第一电阻的第一端连接所述第二线圈的第二端，所述第一电阻的第二端接地，所述电压检测网络还包括与所述第三电容并联的第二电阻。
17、优选的，所述电流检测网络和所述电压检测网络的传递系数延时相同，
18、基于相同的构思，本专利技术还提供一种射频负载端口阻抗检测方法，应用于所述的阻抗特性检测网络，包括如下步骤：通过电流检测网络获取电流-电压响应信号的幅值；所述电流检测网络连接所述射频负载端口的放大器和天线之间；通过电压检测网络获取电压-电压响应信号的幅值；所述电压检测网络连接至所述天线的输入端；基于计算出射频负载电压的幅值和射频负载电流的幅值其中，所述表示所述电流-电压响应信号的幅值，所述表示所述电压-电压响应信号的幅值。
19、优选的，所述方法还包括：获取第一移相器和第二移相器的移相角度θ°，插损b，混频器增益a；获取所述电流-电压响应信号的幅值获取所述电压-电压响应信号的幅值获取第一移相器将电流-电压响应信号移相0°与第二移相器将电压-电压响应信号移相0°相乘获得的第一低频信号vo1、第一移相器将电流-电压响应信号移相θ°与第二移相器将电压-电压响应信号移相0°相乘获得第二低频信号vo2、第一移相器将电流-电压响应信号移相0°与第二移相器将电压-电压响应信号移相θ°相乘获得第三低频信号vo3、第一移相器将电流-电压响应信号移相θ°与第二移相器将电压-电压响应信号移相θ°相乘获得第四低频信号vo4；基于以下公式任意两式计算出电流-电压响应信号和所述电压-电压响应信号的相对角度
20、
21、
22、
23、
24、基于计算射频负载端口阻抗，基于计算射频负载端口功率。
25、优选的，所述方法还包括：获取所述电流-电压响应信号的幅值获取所述电压-电压响应信号的幅值获取第一移相器将电流-电压响应信号移相0°与第二移相器将电压-电压响应信号移相0°相乘获得的第一低频信号vo1、第一移相器将电流-电压响应信号移相θ°与第二移相器将电压-电压响应信号移相0°相乘获得第二低频信号vo2、第一移相器将电流-电压响应信号移相0°与第二移相器将电压-电压响应信号移相θ°相乘获得第三低频信号vo3、第一移相器将电流-电压响应信号移相θ°与第二移相器将电压-电压响应信号移相θ°相乘获得第四低频信号vo4；基于以下公式计算出电流-电压响应信号和所述电压-电压响应信号的相对角度
26、
27、
28、
29、
30、基于计算射频负载端口阻抗，基于计算射频负载端口功率。
31、基于相同的构思，本专利技术还提供一种电子设备，包括：存储器，所述存储器用于存储处理程序；处理器，所述处理器执行所述处理程序时实现所述的射频负载端口阻抗检测方法。
32、基于相同的构思，本专利技术还提供一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有处理程序，所述处理程序被处理器执行时实现本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种射频负载端口阻抗特性检测网络，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的射频负载端口阻抗特性检测网络，其特征在于，所述负载端口阻抗特性检测网络还包括相位检测网络，所述相位检测网络包括输入端与所述电流检测网络输出端连接的第一移相器、输入端与所述第二电容第二端连接的第二移相器、混频器、放大器和处理器，所述第一移相器的输出端和所述第二移相器的输出端均与所述混频器的输入端连接，所述混频器的输出端通过所述放大器将混频放大后的信号发送给所述处理器，所述阻抗特性检测网络工作时，基于所述第一移相器和/或所述第二移相器分别将所述电流-电压响应信号和所述电压-电压响应信号移相θ°，所述处理器采样得到的多个低频信号计算出电流-电压响应信号和所述电压-电压响应信号计算得到相对角度基于计算射频负载端口阻抗，基于计算射频负载端口功率。
3.根据权利要求2所述的射频负载端口阻抗特性检测网络，其特征在于，所述第一移相器和所述第二移相器移相θ°和对应移相θ°引入的插损B已知的情况下，处理器基于以下公式任意两式计算出电流-电压响应信号和所述电压-电压响应信号的相对角度
5.根据权利要求2所述的射频负载端口阻抗特性检测网络，其特征在于，所述相位检测网络还包括模数转换器，所述模数转换器将所述混频放大后的信号转换为数字信号后发送给所述处理器。
6.根据权利要求1所述的射频负载端口阻抗特性检测网络，其特征在于，所述电流检测网络还包括并联的第一电阻和第一电容，所述第一电阻的第一端连接所述第二线圈的第二端，所述第一电阻的第二端接地，所述电压检测网络还包括与所述第三电容并联的第二电阻。
7.根据权利要求6所述的射频负载端口阻抗特性检测网络，其特征在于，所述电流检测网络和所述电压检测网络的传递系数延时相同，
8.一种射频负载端口阻抗检测方法，应用于权利要求1-权利要求7任意一项所述的阻抗特性检测网络，其特征在于，包括如下步骤：
9.根据权利要求8所述的射频负载端口阻抗检测方法，其特征在于，所述方法还包括：
10.根据权利要求8所述的射频负载端口阻抗检测方法，其特征在于，所述方法还包括：
11.一种电子设备，其特征在于，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种射频负载端口阻抗特性检测网络，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的射频负载端口阻抗特性检测网络，其特征在于，所述负载端口阻抗特性检测网络还包括相位检测网络，所述相位检测网络包括输入端与所述电流检测网络输出端连接的第一移相器、输入端与所述第二电容第二端连接的第二移相器、混频器、放大器和处理器，所述第一移相器的输出端和所述第二移相器的输出端均与所述混频器的输入端连接，所述混频器的输出端通过所述放大器将混频放大后的信号发送给所述处理器，所述阻抗特性检测网络工作时，基于所述第一移相器和/或所述第二移相器分别将所述电流-电压响应信号和所述电压-电压响应信号移相θ°，所述处理器采样得到的多个低频信号计算出电流-电压响应信号和所述电压-电压响应信号计算得到相对角度基于计算射频负载端口阻抗，基于计算射频负载端口功率。
3.根据权利要求2所述的射频负载端口阻抗特性检测网络，其特征在于，所述第一移相器和所述第二移相器移相θ°和对应移相θ°引入的插损b已知的情况下，处理器基于以下公式任意两式计算出电流-电压响应信号和所述电压-电压响应信号的相对角度
4.根据权利要求2所述的射频负载端口阻抗特性检测网络，其特征在于，所述第一移相器和所述第...
【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，请求不公布姓名，请求不公布姓名，
申请(专利权)人：隔空微电子广州有限公司，
类型：发明
国别省市：
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