System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种存储设备的IO性能测试方法技术_技高网

一种存储设备的IO性能测试方法技术

技术编号:40764982 阅读:6 留言:0更新日期:2024-03-25 20:15
本发明专利技术涉及性能测试领域,本发明专利技术提供了一种存储设备的IO性能测试方法,搭建负载测试环境,在负载测试环境中配置存储设备,对存储设备进行IO负载测试,记录存储设备在IO负载测试过程中的性能数据,对所述性能数据进行失衡落点检测,得到失衡数据,利用失衡数据构建失衡测定模型。所述方法能够有效地评估存储设备的IO性能,并及时发现存储设备中可能存在的异常,利用实时IOPS数据构建失衡测定模型以检测存储设备在高负载读写状态下的稳定性和可靠性,通过对存储设备在持续工作过程中是否存在某些瞬间的性能波动进行判断,进而对存储设备进行维护,避免数据读写延迟或失败,充分提高存储设备的使用性能和稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及性能测试领域,特别涉及一种存储设备的io性能测试方法。


技术介绍

1、作为现代计算机系统的核心组成部分,存储设备承担着数据存储和读写的任务。随着存储设备技术的不断发展,其容量和读写速度都在大幅提高,在计算机广泛的使用场景下,存储设备的io性能成为计算机硬件组成部分的关键指标之一,同时,随着数据中心的普及,存储设备的io性能表现直接关系到数据中心系统的整体高可用和稳定性。

2、评估存储设备的性能是保证计算机硬件整体性能的关键。目前,常见的存储设备性能测试方法包括基准测试和压力测试。基准测试是在空闲状态下对存储设备进行测试,以评估设备的极限性能;压力测试则是在存储设备受到高负载的情况下进行测试,以评估设备在不同极限情况下的性能表现。

3、基准测试和压力测试被广泛应用于评估存储设备的读写速度、延迟等性能指标。然而,这些测试方法往往存在局限,难以全面地体现出大部分应用场景下存储设备的真实io性能。如在大型仿真模型的载入过程中,需要存储设备具有高速的持续读写性能以保证模型的载入速度,而空闲状态下得到的基准测试结果通常对上述使用场景所需要的性能要求的参考性较差,同时,压力测试则受极限负载和应用环境的影响较大,难以反映存储设备在持续工作过程的性能表现。因此,一种更加真实、准确、可重复的io性能测试方法是衡量存储设备是否具有高耐用、高可靠性、高稳定性特点的关键。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提出一种存储设备的io性能测试方法,以解决现有技术中所存在的一个或多个技术问题,至少提供一种有益的选择或创造条件。

2、本专利技术涉及性能测试领域,本专利技术提供了一种存储设备的io性能测试方法,搭建负载测试环境,在负载测试环境中配置存储设备,对存储设备进行io负载测试,记录存储设备在io负载测试过程中的性能数据,对所述性能数据进行失衡落点检测,得到失衡数据,利用失衡数据构建失衡测定模型。所述方法能够有效地评估存储设备的io性能,并及时发现存储设备中可能存在的异常,利用实时iops数据构建失衡测定模型以检测存储设备在高负载读写状态下的稳定性和可靠性,通过对存储设备在持续工作过程中是否存在某些瞬间的性能波动进行判断,进而对存储设备进行维护,避免数据读写延迟或失败,充分提高存储设备的使用性能和稳定性。

3、为了实现上述目的,根据本专利技术的一方面,提供一种存储设备的io性能测试方法,所述方法包括以下步骤:

4、s100,搭建负载测试环境,在负载测试环境中配置存储设备;

5、s200,对存储设备进行io负载测试,记录存储设备在io负载测试过程中的性能数据;

6、s300,对所述性能数据进行失衡落点检测,得到失衡数据;

7、s400,利用失衡数据构建失衡测定模型。

8、进一步地,步骤s100中,搭建负载测试环境,在负载测试环境中配置存储设备的方法具体为:配置物理主机,将所述物理主机作为测试环境,将存储设备接入该测试环境中,并在接入测试环境后的存储设备上创建至少一个分区。

9、可选地,所述物理主机的组成部件至少包括主板、处理器、cpu散热器、内存条、显卡、电源,各个组成部件按照相应的连接方式彼此连接;其中,所述主板的内存规格为ddr4内存或者ddr5内存,所述处理器内置有三级缓存,所述三级缓存的容量大于或等于16mb(mbbyte),所述内存条的容量大于或等于8gb(gigabyte),所述显卡为核芯显卡。

10、进一步地,步骤s200中,对存储设备进行io负载测试,记录存储设备在io负载测试过程中的性能数据的方法具体为:对存储设备进行分区预处理,通过iometer对分区预处理完成后的存储设备进行时长为t的负载测试,记录所述负载测试过程存储设备的实时iops(每秒的读写次数),将负载测试过程中的实时iops作为存储设备在io负载测试过程中的性能数据;所述t设置为[30,120]分钟。

11、进一步地,所述分区预处理的步骤具体包括:按照顺序写入的方式对存储设备进行零填充直至写满存储设备,对存储设备进行数据清零,按照随机写入的方式对存储设备进行零填充直至写满存储设备,对存储设备进行二次数据清零(即再次进行数据清零),将完成二次数据清零的存储设备作为分区预处理完成后的存储设备。

12、可选地,所述通过iometer对分区预处理完成后的存储设备进行负载测试的方法具体为:在iometer中,在targets选项中选中存储设备,并将maximum_disk_size选项中的sectors参数的数值设置为33554432(16gb测试容量下4k对齐),将starting_disk_sectors选项设置为0,outstanding i/os选项中的per_target参数设置为64,write_io_data_pattern选项设置为full_random,在results_display选项中勾选record_last_update_results_to_file(以每秒为间隔记录负载测试中的实时iops),点击开始测试按钮以开始负载测试。

13、进一步地,步骤s300中,对所述性能数据进行失衡落点检测,得到失衡数据的方法具体为:

14、s301,读取性能数据中的所有数据(性能数据由负载测试过程中存储设备每秒iops的值组成),创建一个空白的数组perf[],按照所述数据的记录时间的先后顺序,依次将性能数据中的每一个数据写入至数组perf[]中,以perf(i)表示数组perf[]内的第i个元素,i=1,2,…,n,n为数组perf[]内的所有元素,初始化一个整数变量j,变量j的初始值设置为1,变量j的取值范围为[1,n],创建一个长度为n的数组woo[],将数组woo[]内的所有元素的值都初始化为0,记woo(i)为数组woo[]内的第i个元素,从j=1开始遍历变量j,转至s302;其中,n的值为时长t的总秒数;

15、s302,记pra(j)=1-n*(perf(j)/mea(perf)),并将当前pra(j)的值赋予woo(j)(即将当前woo(j)的值更改为当前pra(j)的值),转到s303;其中,mea(perf)代表数组perf[]内所有元素的平均值;

16、s303,如果当前变量j的值小于n,则将变量j的值增加1,并转至s302;如果当前变量j的值等于或大于n,则转至s304;

17、s304,以mea(woo[])表示数组woo[]内所有元素的均值,创建一个空白的数组mas[],将变量j的值重置为1,转至s305;

18、s305,判断当前|1/(1-perf(j))|的值是否小于|mea(woo[])|/perf(j);

19、记a1=|1/(1-perf(j))|,记a2=|mea(woo[])|/perf(j);如果a1<a2,则将当前woo(j)的值加入到数组mas[]中;其中,|1/(1-pe本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种存储设备的IO性能测试方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种存储设备的IO性能测试方法,其特征在于,步骤S100中,搭建负载测试环境,在负载测试环境中配置存储设备的方法具体为:配置物理主机,将所述物理主机作为测试环境,将存储设备接入该测试环境中,并在接入测试环境后的存储设备上创建至少一个分区。

3.根据权利要求1所述的一种存储设备的IO性能测试方法,其特征在于,步骤S200中,对存储设备进行IO负载测试,记录存储设备在IO负载测试过程中的性能数据的方法具体为:对存储设备进行分区预处理,通过IOmeter对分区预处理完成后的存储设备进行时长为T的负载测试,记录所述负载测试过程存储设备的实时IOPS,将负载测试过程中的实时IOPS作为存储设备在IO负载测试过程中的性能数据;所述T设置为[30,120]分钟。

4.根据权利要求3所述的一种存储设备的IO性能测试方法,其特征在于,所述分区预处理的步骤具体包括:按照顺序写入的方式对存储设备进行零填充直至写满存储设备,对存储设备进行数据清零,按照随机写入的方式对存储设备进行零填充直至写满存储设备,对存储设备进行二次数据清零,将完成二次数据清零的存储设备作为分区预处理完成后的存储设备。

5.根据权利要求1所述的一种存储设备的IO性能测试方法,其特征在于,步骤S300中,对所述性能数据进行失衡落点检测,得到失衡数据的方法具体为:

6.根据权利要求1所述的一种存储设备的IO性能测试方法,其特征在于,进一步地,步骤S400中,利用失衡数据构建失衡测定模型的方法具体为:

7.根据权利要求1所述的一种存储设备的IO性能测试方法,其特征在于,步骤S400中,利用失衡数据构建失衡测定模型,还包括:对存储硬盘进行M次IO负载测试,得到M组性能数据,计算M组性能数据中每组性能数据的平均值,以ext(i3)表示M组性能数据中第i3组性能数据的平均值,i3=1,2,…,M;所述M设置为[10,30];

...

【技术特征摘要】

1.一种存储设备的io性能测试方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种存储设备的io性能测试方法,其特征在于,步骤s100中,搭建负载测试环境,在负载测试环境中配置存储设备的方法具体为:配置物理主机,将所述物理主机作为测试环境,将存储设备接入该测试环境中,并在接入测试环境后的存储设备上创建至少一个分区。

3.根据权利要求1所述的一种存储设备的io性能测试方法,其特征在于,步骤s200中,对存储设备进行io负载测试,记录存储设备在io负载测试过程中的性能数据的方法具体为:对存储设备进行分区预处理,通过iometer对分区预处理完成后的存储设备进行时长为t的负载测试,记录所述负载测试过程存储设备的实时iops,将负载测试过程中的实时iops作为存储设备在io负载测试过程中的性能数据;所述t设置为[30,120]分钟。

4.根据权利要求3所述的一种存储设备的io性能测试方法,其特征在于,所述分区预处理的步骤...

【专利技术属性】
技术研发人员:李观林古金悦
申请(专利权)人:广州聚悦信息科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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