一种基于分布式集光技术的波前复原方法技术

本发明专利技术公开了一种基于分布式集光技术的波前复原方法，其技术方案包括，在计算受到光强闪烁影响下的夏克‑哈特曼波前传感器子孔径内的斜率时，先是根据实际情况，通过提高帧率去除饱和情况，然后对每个子孔径单独设置一个光收集器，针对光强不足子孔径采取分布式集光，直到满足设置的精度阈值，最后各收集器分别计算子孔径斜率，根据模式法获取畸变波前相位的分布。本波前复原方法流程简单、稳定、易实现，相对于现有针对光强闪烁情况的波前复原方法，提高了有效子孔径的利用率，能够满足一些特殊应用场景下的高精度波前探测与校正要求，降低了系统的维护难度与成本，可以获得较好、较稳定的波前复原结果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种波前复原方法，特别是一种新型的、可用于受到光强闪烁影响的夏克-哈特曼波前传感器基于分布式集光技术的波前复原方法。

技术介绍

1、自适应光学作为一种相对成熟，应用范围较广的主动校正方法，被普遍认为是抑制大气湍流的最佳技术。由于夏克-哈特曼波前传感器具有探测速度快、空间分辨率高以及适用波长范围广等优点，目前在自适应光学领域得到较为广泛的应用，技术也相对完善。但是传统的自适应光学系统一般适用于中弱湍流情况，而白天湍流较强时光闪烁会加大，导致传感器子孔径饱和或缺光，参照标定质心计算后的错误的波前复原结果会引起变形镜驱动电压的大幅波动，降低整个自适应光学系统的鲁棒性。目前，针对光强闪烁带来的负面影响，现有的波前复原方法有斜率置零复原法和子孔径去除复原法。前者指当夏克-哈特曼波前传感器的部分子孔径没有接收到有效的光信号时，在进行波前复原过程中将这部分子孔径的斜率置零；而后者指当夏克-哈特曼波前传感器的部分子孔径没有接收到有效的光信号时，在进行波前复原过程中将这部分子孔径去除，并实时地对复原矩阵进行相应的更改。虽然这些方法通过修正局部波前畸变，提高了系本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于分布式集光技术的波前复原方法，其特征在于，包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种基于分布式集光技术的波前复原方法，其特征在于：所述步骤(9)中处理波前为首帧且子孔径光强灰度最大值I0小于光强收集阈值TI时，将该子孔径斜率置零。

【技术特征摘要】

1.一种基于分布式集光技术的波前复原方法，其特征在于，包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种基于分布式集光技术...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘超，张优，张开河，兰斌，陈莫，
申请(专利权)人：中国科学院光电技术研究所，
类型：发明
国别省市：