一种单颗粒样品均匀主动采样控制系统及具有其的切割器技术方案

一种单颗粒样品均匀主动采样控制系统及具有其的切割器，该系统进气口通过进气软管连接抽气泵的进气端，进气软管上设有流量控制器，流量控制器用于控制进气口的进气流量；抽气泵的出气端连接有出气软管，出气软管的末端引出壳体的外部；主控MCU设置在壳体的内部，触控显示面板集成在壳体的侧部，触控显示面板进行单颗粒样品均匀主动采样参数设置；电池模块设置在壳体的内部，电池模块对单颗粒样品均匀主动采样控制系统进行供电；旋转控制接口和主控MCU之间连接有旋转控制信号线，主控MCU通过旋转控制信号线对切割旋转驱动电机进行控制。本发明专利技术实现对单颗粒多级均匀采样过程的控制；实现对采样时间、时长、流量以及环境信息的准确记录。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于大气颗粒物采样，具体涉及一种单颗粒样品均匀主动采样控制系统及具有其的切割器。

技术介绍

1、随着工业化和城市化的快速发展，大气污染问题日益严重，对人类健康和环境造成了严重威胁。因此，了解和监测大气中的颗粒物浓度和组成对于环境保护和公共健康至关重要。大气颗粒物采样可以提供准确的数据，帮助科学家和环境保护机构了解大气中颗粒物的来源和组成，通过收集大气颗粒物样本，可以分析其化学成分和大小分布，从而确定颗粒物的来源，如工业排放、交通尾气、燃煤和生物质燃烧等。

2、目前，缺少一种适用于电镜分析的大气颗粒物主动采样控制方案，传统切割器基本只有一个固定的喷孔，没有分级，即只能采集特定粒径点以上的所有颗粒，膜片上颗粒的面积很小，采样时间很短，环境代表性差。为此，需要设计全新的采样控制系统，实现单颗粒样品的分粒径采集，尽可能增加采样时间和样品分布面积，同时，需要对采样过程以及颗粒切割撞击过程进行精密控制。

技术实现思路

1、为此，本专利技术提供一种单颗粒样品均匀主动采样控制系统及具有其的切割器，实现单本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种单颗粒样品均匀主动采样控制系统，其特征在于，包括壳体(100)、进气口(200)、抽气泵(300)、主控MCU(400)、触控显示面板(500)、电池模块(600)和旋转控制接口(700)；

2.根据权利要求1所述的一种单颗粒样品均匀主动采样控制系统，其特征在于，还包括复位按钮(120)，所述复位按钮(120)设置在所述壳体(100)的侧部；所述复位按钮(120)通过复位引脚NRST和所述主控MCU(400)连接，所述复位按钮(120)用于单颗粒样品均匀主动采样控制系统复位；

3.根据权利要求1所述的一种单颗粒样品均匀主动采样控制系统，其特征在于，还包括充...

【技术特征摘要】

1.一种单颗粒样品均匀主动采样控制系统，其特征在于，包括壳体(100)、进气口(200)、抽气泵(300)、主控mcu(400)、触控显示面板(500)、电池模块(600)和旋转控制接口(700)；

2.根据权利要求1所述的一种单颗粒样品均匀主动采样控制系统，其特征在于，还包括复位按钮(120)，所述复位按钮(120)设置在所述壳体(100)的侧部；所述复位按钮(120)通过复位引脚nrst和所述主控mcu(400)连接，所述复位按钮(120)用于单颗粒样品均匀主动采样控制系统复位；

3.根据权利要求1所述的一种单颗粒样品均匀主动采样控制系统，其特征在于，还包括充电接口(140)，所述充电接口(140)设置在所述壳体(100)的侧部，所述充电接口(140)通过vbat+引脚和所述电池模块(600)之间电连接，所述充电接口(140)用于对所述电池模块(600)进行充电。

4.根据权利要求1所述的一种单颗粒样品均匀主动采样控制系统，其特征在于，通过所述触控显示面板(500)进行设置的单颗粒样品均匀主动采样参数包括采样开始时间、采样时长间隔、采样流量及切割旋转驱动电机转速。

5.根据权利要求4所述的一种单颗粒样品均...

【专利技术属性】
技术研发人员：侯冬利，赵普生，李江，贺艳云，
申请(专利权)人：河北省生态环境监测中心，
类型：发明
国别省市：