【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及fct测试领域，特别涉及一种全自动fct测试装置。
技术介绍
1、功能电路测试(fct)是电子制造领域中用于验证电路板(pcb)功能性的重要测试过程。fct测试通过模拟实际工作条件，确保所有电子元件和电路按照设计要求正常运行。这包括电压、电流测试，信号完整性检查，以及特定功能的验证等。
2、然而，现有的fct测试方法在电路板定位方面存在一些限制，尤其是对于不同型号和设计的电路板。现有技术通常依赖于复杂的机械定位系统，这不仅增加了设备的成本和复杂性，还限制了对不同型号电路板的适应性。这种方法在处理多样化和高密度电路板时尤其面临挑战，因为这些电路板需要更灵活和精确的定位系统来适应不同的设计和点位布局。因此，现有fct测试方法需要改进以提高其适应性和灵活性，特别是在处理多种型号和高度复杂的电路板时。
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种全自动fct测试装置，包括：真空吸盘，所述真空吸盘用以对电路板的第一面进行真空抓取和移动；拍摄组件，所述拍摄组件用以对所述电路板的第二面进行拍摄，获取所述电路板的图像；测试组件，所述测试组件包括机械臂和测试头，所述测试头设于机械臂的末端，所述测试头用以对所述电路板的第二面的测试点位进行接触；传感器组件，用于实时采集所述电路板的电路板特性数据；吸盘控制模块，所述吸盘控制模块用以根据所述电路板特性数据，动态调节所述真空吸盘的抓取力度；图像处理模块，所述图像处理模块用以对所述图像进行降噪处理后，对所述图像中的定位点位和测试点位进行识别
2、进一步地，所述根据所述电路板特性数据，动态调节所述真空吸盘的抓取力度，包括以下步骤：基于模糊逻辑，将所述电路板特性数据转换成模糊值；根据预设的模糊逻辑规则，对所述模糊值进行处理，得出所述真空吸盘所需的吸力模糊输出值；基于去模糊化过程，将所述吸力模糊输出值转换为吸力设定值。
3、进一步地，所述电路板特性数据包括重量数据和表面凹凸度数据，其中，重量数据被分类为轻、中等和重，表面凹凸度数据被分类为平滑、适中和粗糙。
4、进一步地，所述传感器组件包括重量传感器和激光扫描组件，所述重量传感器用以获取所述重量数据，所述激光扫描组件用以获取所述表面凹凸度数据。
5、进一步地，所述基于模糊逻辑，将所述电路板特性数据转换成模糊值，包括：对重量数据和表面凹凸度数据的模糊集合进行定义；基于多种隶属函数，为每个模糊集合设计隶属函数；应用隶属函数，计算重量数据和表面凹凸度数据的在各个模糊集合中的隶属度。
6、进一步地，所述对所述图像进行降噪处理后，对所述图像中的定位点位和测试点位进行识别包括：对所述图像进行降噪，得到降噪图像；根据所述降噪图像，识别定位点位，并判断所述定位点位是否位于目标区域，若否，则控制真空吸盘移动电路板，直至所述定位点位位于目标区域；根据所述降噪图像，识别测试点位，并计算各测试点位的空间坐标。
7、进一步地，所述根据所述降噪图像，识别定位点位，并判断所述定位点位是否位于目标区域，若否，则控制真空吸盘移动电路板，直至所述定位点位位于目标区域包括：根据所述降噪图像，对所述降噪图像进行透视校正，得到透视校正图像；根据所述透视校正图像，基于特征点检测算法，识别定位点位；获取所述定位点位的定位坐标，将所述定位坐标与目标区域进行比对，判断所述定位坐标是否位于所述目标区域的坐标范围内，若否，则控制真空吸盘移动电路板，直至所述定位点位位于目标区域。
8、进一步地，所述透视校正基于所述电路板上四个螺丝孔进行。
9、进一步地，所述根据所述降噪图像，对所述降噪图像进行透视校正，得到透视校正图像包括：求解透视变换矩阵，根据所述降噪图像和所述变换矩阵的解，对所述降噪图像进行透视校正，得到透视校正图像；其中，变换矩阵的方程组为：
10、ax1+by1+c-gx1x′1-hy1x′1＝x′1
11、ax2+by2+c-gx2x′2-hy2x′2＝x′2
12、ax3+by3+c-gx3x′3-hy3x′3＝x′3
13、ax4+by4+c-gx4x′4-hy4x′4＝x′4
14、dx1+ey1+f-gx1y1-hy1y′1＝y′1
15、dx2+ey2+f-gx2y′2-hy2y′2＝y′2
16、dx3+ey3+f-gx3y′3-hy3y′3＝y′3
17、dx4+ey4+f-gx4y′4-hy4y′4＝y′4
18、方程组的解为：
19、其中，(x1，y1)为电路板上第一个螺丝孔的圆心的横纵坐标，(x′1，y′1)为第一个螺丝孔在校正后图像中的圆心的横纵坐标，(x2，y2)为电路板上第二个螺丝孔的圆心的横纵坐标，(x′2，y′2)为第一个螺丝孔在校正后图像中的圆心的横纵坐标，(x3，y3)为电路板上第三个螺丝孔的圆心的横纵坐标，(x′3，y′3)为第一个螺丝孔在校正后图像中的圆心的横纵坐标，(x4，y4)为电路板上第四个螺丝孔的圆心的横纵坐标，(x′4，y′4)为第一个螺丝孔在校正后图像中的圆心的横纵坐标，t为变换矩阵，参数a、b、c、d、e、f、g、h均为透视变换矩阵中的元素。
20、进一步地，所述根据所述降噪图像，识别测试点位，并计算各测试点位的空间坐标包括：根据所述降噪图像，基于测试点位识别模型，识别测试点位，并计算各测试点位的空间坐标。
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1.一种全自动FCT测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种全自动FCT测试装置，其特征在于，所述根据所述电路板特性数据，动态调节所述真空吸盘的抓取力度，包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的一种全自动FCT测试装置，其特征在于，所述电路板特性数据包括重量数据和表面凹凸度数据，其中，重量数据被分类为轻、中等和重，表面凹凸度数据被分类为平滑、适中和粗糙。
4.根据权利要求3所述的一种全自动FCT测试装置，其特征在于，所述传感器组件包括重量传感器和激光扫描组件，所述重量传感器用以获取所述重量数据，所述激光扫描组件用以获取所述表面凹凸度数据。
5.根据权利要求3所述的一种全自动FCT测试装置，其特征在于，所述基于模糊逻辑，将所述电路板特性数据转换成模糊值，包括：
6.根据权利要求1所述的一种全自动FCT测试装置，其特征在于，所述对所述图像进行降噪处理后，对所述图像中的定位点位和测试点位进行识别包括：
7.根据权利要求6所述的一种全自动FCT测试装置，其特征在于，所述根据所述降噪图像，识别定位点位
8.根据权利要求7所述的一种全自动FCT测试装置，其特征在于，所述透视校正基于所述电路板上四个螺丝孔进行。
9.根据权利要求8所述的一种全自动FCT测试装置，其特征在于，所述根据所述降噪图像，对所述降噪图像进行透视校正，得到透视校正图像包括：
10.根据权利要求6所述的一种全自动FCT测试装置，其特征在于，所述根据所述降噪图像，识别测试点位，并计算各测试点位的空间坐标包括：
...【技术特征摘要】
1.一种全自动fct测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种全自动fct测试装置，其特征在于，所述根据所述电路板特性数据，动态调节所述真空吸盘的抓取力度，包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的一种全自动fct测试装置，其特征在于，所述电路板特性数据包括重量数据和表面凹凸度数据，其中，重量数据被分类为轻、中等和重，表面凹凸度数据被分类为平滑、适中和粗糙。
4.根据权利要求3所述的一种全自动fct测试装置，其特征在于，所述传感器组件包括重量传感器和激光扫描组件，所述重量传感器用以获取所述重量数据，所述激光扫描组件用以获取所述表面凹凸度数据。
5.根据权利要求3所述的一种全自动fct测试装置，其特征在于，所述基于模糊逻辑，将所述电路板特性数据转换成模糊值，包括：
6.根据权...
【专利技术属性】
技术研发人员：熊跃，李大亮，
申请(专利权)人：苏州友测电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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