【技术实现步骤摘要】
本技术涉及微电子器件，具体涉及一种用于测试忆阻器的探针卡。
技术介绍
1、探针卡是集成电路芯片封装测试环节中的关键部件，用于集成电路产品封装前的测试，以筛选出不良品。因此，探针卡是集成电路芯片制造中的重要制程之一。随着半导体制造技术的发展，集成电路芯片复杂程度不断提高，从而使得芯片管脚数目增多、管脚间距不断减小，对探针卡也提出了更高的需求。
2、目前，忆阻器凭借其非易失性、低功耗、快速切换、纳米级尺寸等特性，在学术界和工业界都受到了广泛关注。然而目前针对忆阻器的测试仍需要高额订制板卡，普通探针卡的漏电容易造成忆阻器的测试误差，因此市场上还缺少超低漏电的探针卡。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提出一种用于测试忆阻器的探针卡，能够大大降低了pcb板级的漏电流。
2、为了达到上述目的，本技术提供了一种用于测试忆阻器的探针卡，所述探针卡包括pcb基底、印刷电路、探针阵列、数据连接线接口；所述数据连接线接口、印刷电路和探针阵列依次电连接；所述印刷电路自下而上依次由接触点所有pad高电平信号的印刷电路，相互间隔的部分接触点pad低电平信号的印刷电路，接触点剩余低电平信号的印刷电路组成。
3、可选地，数据连接线接口为d-sub64数据连接线接口。
4、可选地，所述pcb基底为单面覆铜板。
5、可选地，探针卡的宽度为115mm，长度为115-360mm。
6、可选地，所述探针卡还包括用于将所述探针卡夹在探针台上的通孔。p>
7、可选地，所述探针阵列为可拆卸阵列排布探针。
8、可选地，所述探针阵列中探针的材质为铼钨。
9、可选地，所述探针阵列中探针的针径为8mils、针尖径为1mils、针尖长度为10mils、探针高度为4.0±0.2mm。
10、可选地，所述探针卡还包括双排牛角插座。
11、本技术的有益效果在于：
12、1、使用三层pcb印刷电路板，大大降低了pcb板级的漏电流。
13、2、使用可拆卸探针阵列，更换方便，能够节约成本，延续使用寿命。
14、3、具有通用性强的特点，不仅可用于不同连接方式下的测试仪与探针台之间的连接，还可以实现对连接方式相同，但对探针卡外形尺寸要求不同的测试仪与探针台的连接。
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1.一种用于测试忆阻器的探针卡，其特征在于：所述探针卡包括PCB基底、印刷电路、探针阵列、数据连接线接口；所述数据连接线接口、印刷电路和探针阵列依次电连接；所述印刷电路自下而上依次由接触点所有PAD高电平信号的印刷电路，相互间隔的部分接触点PAD低电平信号的印刷电路，接触点剩余低电平信号的印刷电路组成。
2.根据权利要求1所述的一种用于测试忆阻器的探针卡，其特征在于：数据连接线接口为D-SUB64数据连接线接口。
3.根据权利要求1所述的一种用于测试忆阻器的探针卡，其特征在于：所述PCB基底为单面覆铜板。
4.根据权利要求1所述的一种用于测试忆阻器的探针卡，其特征在于：探针卡的宽度为115mm，长度为115-360mm。
5.根据权利要求1所述的一种用于测试忆阻器的探针卡，其特征在于：所述探针卡还包括用于将所述探针卡夹在探针台上的通孔。
6.根据权利要求1所述的一种用于测试忆阻器的探针卡，其特征在于：所述探针阵列为可拆卸阵列排布探针。
7.根据权利要求1所述的一种用于测试忆阻器的探针卡，其特征在于：所述探针阵
8.根据权利要求1所述的一种用于测试忆阻器的探针卡，其特征在于：所述探针阵列中探针的针径为8mils、针尖径为1mils、针尖长度为10mils、探针高度为4.0±0.2mm。
9.根据权利要求1所述的一种用于测试忆阻器的探针卡，其特征在于：所述探针卡还包括双排牛角插座。
...【技术特征摘要】
1.一种用于测试忆阻器的探针卡，其特征在于：所述探针卡包括pcb基底、印刷电路、探针阵列、数据连接线接口；所述数据连接线接口、印刷电路和探针阵列依次电连接；所述印刷电路自下而上依次由接触点所有pad高电平信号的印刷电路，相互间隔的部分接触点pad低电平信号的印刷电路，接触点剩余低电平信号的印刷电路组成。
2.根据权利要求1所述的一种用于测试忆阻器的探针卡，其特征在于：数据连接线接口为d-sub64数据连接线接口。
3.根据权利要求1所述的一种用于测试忆阻器的探针卡，其特征在于：所述pcb基底为单面覆铜板。
4.根据权利要求1所述的一种用于测试忆阻器的探针卡，其特征在于：探针卡的宽度为115mm，长度为115-360...
【专利技术属性】
技术研发人员：张浩，王宇，童祎，王新朋，
申请(专利权)人：新微比特纳米科技苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：
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