一种用于碳化硅功率模块的功能检测整形设备及其检测方法技术

技术编号:40740487 阅读:19 留言:0更新日期:2024-03-25 20:00
本发明专利技术属于检测装置技术领域,特别涉及一种用于碳化硅功率模块的功能检测整形设备及其检测方法,包括具有将产品依次推送功能的料盒上料组件、具有将产品去胶切筋和成型功能的加工组件、具有将产品引脚角度偏差调整功能的整形组件和具有将产品抓取功能的料盘装填组件,通过加工组件对推送来的产品进行去胶、切筋和成型的加工,利用加工组件上的拨爪将成型好的产品传出模具,通过整形组件将成型好的产品抓取后,进行产品引脚两个方向角度偏差的调整,通过料盘装填组件将引脚调整后的产品进行抓取,并放入到料盘中,提高了产品检测与整形的效率以及装盘收纳的自动化程度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于检测装置,特别涉及一种用于碳化硅功率模块的功能检测整形设备及其检测方法


技术介绍

1、sic碳化硅功率半导体器件具有耐压高、热稳定好、开关损耗低、功率密度高等特点,被广泛应用在电动汽车、风能发电、光伏发电等新能源领域,为提高碳化硅mosfet器件栅级工作寿命,需要对碳化硅功率半导体器件进行基于栅极的测试。

2、经检索,现有技术中,中国专利公开号cn207611753u,授权公告日:2018-07-13,公开了一种封装芯片整形块,包括基座,所述基座上转动设置有左调节杆和右调节杆,所述左调节杆和右调节杆上固定设置有转向座,转向座上设置有整形块,通过转动左调节杆和右调节杆来转动转向座,从而实现不同规格的整形块之间的切换,其调节方便、简单,同时通过棘轮和棘爪保持整形块的姿态稳定,避免因整形块位移产生的整形误差,该申请不但大大改善了整形装置的可调节性,使其能够同时实现多种整形加工,同时还具有较好的整形质量。

3、但该设备仍存在以下缺陷:虽然能够同时实现多种整形加工,同时还具有较好的整形质量,但无法对多组等待检测和整形的产品进行本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于碳化硅功率模块的功能检测整形设备,其特征在于:包括具有将产品依次推送功能的料盒上料组件(1)、具有将产品去胶切筋和成型功能的加工组件(2)、具有将产品引脚角度偏差调整功能的整形组件(3)和具有将产品抓取功能的料盘装填组件(4);所述料盒上料组件(1)的一端设置有加工组件(2),且所述加工组件(2)的输入端与料盒上料组件(1)的输出端相互连通,所述整形组件(3)设置在加工组件(2)的另一端,且所述加工组件(2)的输出端与整形组件(3)的输入端相互连通,所述料盘装填组件(4)设置在整形组件(3)的另一端,且所述整形组件(3)的输出端与料盘装填组件(4)的输入端相互连通。

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【技术特征摘要】

1.一种用于碳化硅功率模块的功能检测整形设备,其特征在于:包括具有将产品依次推送功能的料盒上料组件(1)、具有将产品去胶切筋和成型功能的加工组件(2)、具有将产品引脚角度偏差调整功能的整形组件(3)和具有将产品抓取功能的料盘装填组件(4);所述料盒上料组件(1)的一端设置有加工组件(2),且所述加工组件(2)的输入端与料盒上料组件(1)的输出端相互连通,所述整形组件(3)设置在加工组件(2)的另一端,且所述加工组件(2)的输出端与整形组件(3)的输入端相互连通,所述料盘装填组件(4)设置在整形组件(3)的另一端,且所述整形组件(3)的输出端与料盘装填组件(4)的输入端相互连通。

2.根据权利要求1所述的用于碳化硅功率模块的功能检测整形设备,其特征在于:所述料盒上料组件(1)包括上料平台(111);所述上料平台(111)的顶部设置有来料放置区,所述上料平台(111)的顶部且靠近拐角处设置有料盒推送机构(12),所述上料平台(111)的底部设置有料盒升降机构(13)。

3.根据权利要求2所述的用于碳化硅功率模块的功能检测整形设备,其特征在于:所述上料平台(111)的顶部且垂直于料盒升降机构(13)的上方设置有空料盒放置区(14),所述上料平台(111)的顶部一侧设置有第一轨道推送机构(15)、第一旋转抓料机构(16)、第二轨道推送机构(19)和第二旋转抓料机构(110)。

4.根据权利要求3所述的用于碳化硅功率模块的功能检测整形设备,其特征在于:所述第一轨道推送机构(15)、第一旋转抓料机构(16)、第二轨道推送机构(19)和第二旋转抓料机构(110)均位于远离料盒推送机构(12)且靠近上料平台(111)的边缘处。

5.根据权利要求4所述的用于碳化硅功率模块的功能检...

【专利技术属性】
技术研发人员:鲍永峰陈盼盼
申请(专利权)人:深圳市曜通科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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