【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及pcb自动测试，特别是涉及一种led模组自动测试系统。
技术介绍
1、led显示屏由许多模组构成，1块模组就是1块pcb，正面是led灯珠，背面是各种驱动芯片，如图1所示。
2、led模组不能单独点亮，需要连接到下图的接收卡才能点亮，接收卡负责将要显示的图片转换为驱动芯片的时序，再发送给led模组，如图2所示。
3、模组上有两种驱动芯片：行驱和列驱，它们分别接到led灯的正负级，如图3所示。例如：1个行驱输出8路行信号，4个行驱输出32路行信号。1个列驱输出16路列信号，12个列驱输出192路列信号。64路列信号+32路行信号控制64*32个红led灯；64路列信号+32路行信号控制64*32个绿led灯；64路列信号+32路行信号控制64*32个蓝led灯。这个模组就是64*32像素的模组。
4、显示的时候：点亮第1行：打开第1个行信号，列信号根据数据决定打开(灯亮)还是关闭(灯灭)。点亮第2行：打开第2个行信号，列信号根据数据决定打开(灯亮)还是关闭(灯灭)。点亮第3行：打开第3个行信号，列信号根据数据决定打开(灯亮)还是关闭(灯灭)。
5、假如1个列驱得到的数据是1111000000000000，那就会打开4个列信号，关闭12个列信号。列驱输出的电流是通过寄存器配置的，假如配置为10ma，那么打开4个列信号时，这个列驱就会输出40ma电流。led模组的总电流＝驱动芯片内部消耗的电流+驱动芯片输出到led灯的电流。模组分共阴共阳两种类型：共阴模组上的电流方向：列驱
6、模组生产出来后需要测试，常见的故障有：led灯短路、led灯开路、列信号之间短路、行信号之间短路、行信号之间短路、列信号一直有输出、行信号一直有输出、列信号一直无输出、行信号一直无输出、行驱串联不正常和列驱串联不正常。目前的测试方法为：第一，人工测试：通过接收卡发送各种测试图片，由人眼观察模组的显示效果，测试人员根据显示效果判断故障。例如：显示一张图片，只有1行为白色，其余行为黑色；假如模组显示2行白色，就是有2个行信号之间短路了。这种方法效率低，而且测试人员有可能没看清导致误判。第二，基于相机的自动测试：通过接收卡发送各种测试图片，由相机对模组拍照，电脑上位机软件根据照片判断故障。这种方法效率中等：每种测试都要拍照，拍照后还要把照片发送给电脑。这种方法比较贵：需要用到接收卡、高分辨率相机、电脑。目前高端的led模组，像素间距已经小于1mm，想要准确判定所有像素的亮度和颜色，需要高端相机和复杂的软件算法。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是提供一种led模组自动测试系统，以解决上述现有技术存在的问题，通过电流变化判断故障，实现全自动故障测试，效率高。
2、为实现上述目的，本专利技术提供了如下方案：
3、一种led模组自动测试系统，包括：
4、探针模块，用于自动连接模组；
5、电源模块，用于向所述模组供电；
6、电流模块，用于测量向所述模组供电的电流；
7、mcu模块，用于消除所述电流的抖动影响，并结合所述电流，完成所述模组的故障测试；所述故障测试包括：led灯开路和短路测试、列信号或行信号无输出测试、行驱或列驱串联不正常测试、列信号之间短路测试、行信号之间短路测试、列信号一直有输出测试和行信号一直有输出测试；
8、其中，所述探针模块的一端与电流模块的一端连接，所述电流模块的另一端与所述电源模块连接，所述探针模块的另一端与所述mcu模块连接。
9、可选地，所述mcu模块包括：
10、共阴屏开短路检测单元，用于基于列驱芯片内置的开短路检测功能，打开第x行信号和所有列信号，若第y列信号电压低于短路电压，则判定第x行第y列短路；若第y列信号电压高于开路电压，则判定第x行第y列开路，从而获取共阴屏开短路检测结果；
11、共阳屏开短路检测单元，用于基于列驱芯片内置的开短路检测功能，打开第x行信号和所有列信号，若第y列信号电压高于短路电压，就判定第x行第y列短路，若第y列信号电压低于开路电压，则判定第x行第y列开路，从而获取共阳屏开短路检测结果。
12、可选地，所述mcu模块还包括：
13、无输出测试单元，用于对列信号或行信号无输出进行测试，若第x行信号和所有列信号均开路，则判定第x行信号无输出，若所有行信号和第y列信号均开路，则判定第y列信号无输出。
14、可选地，所述mcu模块还包括：
15、串联不正常测试单元，用于向第一个行驱或列驱的sdi发送目标比特值，在16*串联的驱动数量n个时钟周期后，在最后一个行驱或列驱的sdo接受所述目标比特值，判断所述目标比特值是否正确，若所述目标比特值正确，则证明行驱或列驱串联正常，若所述目标比特值不正确，则证明行驱或列驱串联不正常。
16、可选地，所述mcu模块还包括：
17、列信号短路测试单元，用于将列驱的输入/输出电流配置为最小的电流，逐个打开每个列信号，测试电流，若所述列信号电流在目标电流范围内，则判定所述列信号与相邻列信号存在短路。
18、可选地，所述mcu模块还包括：
19、行信号短路测试单元，用于基于列驱芯片内置的短路检测功能，若检测到led灯短路，则判定两行信号之间存在短路。
20、可选地，所述mcu模块还包括：
21、列信号输出测试单元，用于打开一个列信号，并逐个打开每个列信号，测量电流，若该列信号的电流小于其他列信号电流，则判定该列信号一直有输出。
22、可选地，所述mcu模块还包括：
23、行信号输出测试单元，用于打开一个列信号，关闭所述行信号，测量电流x，并打开一个列信号，打开一个行信号，测量电流y，若所述电流x和所述电流y相同，则判定行信号存在常开故障，若所述电流x小于所述电流y，则判定行信号不存在常开故障。
24、可选地，该系统还包括：显示模块，用于显示故障测试结果；其中，所述显示模块与所述mcu模块连接。
25、本专利技术的有益效果为：
26、本专利技术能够全自动测试且效率高，既不需要将图片发送给电脑，也不需要复杂的图形算法，可以简单快捷地得到结果。
27、本专利技术通过电流变化判断故障优点：低成本：不需要接收卡、相机和电脑，只需要一块测试板；高效率：全自动运行，每块模组只需要很短的测试时间；高准确度：电流是一个准确的指标，不存在人为原因所导致的误差。
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1.一种LED模组自动测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的LED模组自动测试系统，其特征在于，所述MCU模块包括：
3.根据权利要求1所述的LED模组自动测试系统，其特征在于，所述MCU模块还包括：
4.根据权利要求1所述的LED模组自动测试系统，其特征在于，所述MCU模块还包括：
5.根据权利要求1所述的LED模组自动测试系统，其特征在于，所述MCU模块还包括：
6.根据权利要求1所述的LED模组自动测试系统，其特征在于，所述MCU模块还包括：
7.根据权利要求1所述的LED模组自动测试系统，其特征在于，所述MCU模块还包括：
8.根据权利要求1所述的LED模组自动测试系统，其特征在于，所述MCU模块还包括：
9.根据权利要求1所述的LED模组自动测试系统，其特征在于，该系统还包括：显示模块，用于显示故障测试结果；其中，所述显示模块与所述MCU模块连接。
【技术特征摘要】
1.一种led模组自动测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的led模组自动测试系统，其特征在于，所述mcu模块包括：
3.根据权利要求1所述的led模组自动测试系统，其特征在于，所述mcu模块还包括：
4.根据权利要求1所述的led模组自动测试系统，其特征在于，所述mcu模块还包括：
5.根据权利要求1所述的led模组自动测试系统，其特征在于，所述mcu模块还包括：
...【专利技术属性】
技术研发人员：董琦，奚谷枫，
申请(专利权)人：常州集励微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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