一种LED模组自动测试系统技术方案

本发明专利技术涉及一种LED模组自动测试系统，包括：探针模块，用于自动连接模组；电源模块，用于向模组供电；电流模块，用于测量向模组供电的电流；MCU模块，用于消除电流的抖动影响，并结合电流，完成模组的故障测试；故障测试包括：LED灯开路和短路测试、列信号或行信号无输出测试、行驱或列驱串联不正常测试、列信号之间短路测试、行信号之间短路测试、列信号一直有输出测试和行信号一直有输出测试；其中，探针模块的一端与电流模块的一端连接，电流模块的另一端与电源模块连接，探针模块的另一端与MCU模块连接。通过电流变化判断故障，实现全自动故障测试，效率高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及pcb自动测试，特别是涉及一种led模组自动测试系统。

技术介绍

1、led显示屏由许多模组构成，1块模组就是1块pcb，正面是led灯珠，背面是各种驱动芯片，如图1所示。

2、led模组不能单独点亮，需要连接到下图的接收卡才能点亮，接收卡负责将要显示的图片转换为驱动芯片的时序，再发送给led模组，如图2所示。

3、模组上有两种驱动芯片：行驱和列驱，它们分别接到led灯的正负级，如图3所示。例如：1个行驱输出8路行信号，4个行驱输出32路行信号。1个列驱输出16路列信号，12个列驱输出192路列信号。64路列信号+32路行信号控制64*32个红led灯；64路列信号+32路行信号控制64*32个绿led灯；64路列信号+32路行信号控制64*32个蓝led灯。这个模组就是64*32像素的模组。

4、显示的时候：点亮第1行：打开第1个行信号，列信号根据数据决定打开(灯亮)还是关闭(灯灭)。点亮第2行：打开第2个行信号，列信号根据数据决定打开(灯亮)还是关闭(灯灭)。点亮第3行：打开第3个行信号，列信号根据数据本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种LED模组自动测试系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的LED模组自动测试系统，其特征在于，所述MCU模块包括：

3.根据权利要求1所述的LED模组自动测试系统，其特征在于，所述MCU模块还包括：

4.根据权利要求1所述的LED模组自动测试系统，其特征在于，所述MCU模块还包括：

5.根据权利要求1所述的LED模组自动测试系统，其特征在于，所述MCU模块还包括：

6.根据权利要求1所述的LED模组自动测试系统，其特征在于，所述MCU模块还包括：

7.根据权利要求1所述的LED模组自动测试系统，其特...

【技术特征摘要】

1.一种led模组自动测试系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的led模组自动测试系统，其特征在于，所述mcu模块包括：

3.根据权利要求1所述的led模组自动测试系统，其特征在于，所述mcu模块还包括：

4.根据权利要求1所述的led模组自动测试系统，其特征在于，所述mcu模块还包括：

5.根据权利要求1所述的led模组自动测试系统，其特征在于，所述mcu模块还包括：

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【专利技术属性】
技术研发人员：董琦，奚谷枫，
申请(专利权)人：常州集励微电子科技有限公司，
类型：发明
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