【技术实现步骤摘要】
本技术涉及精密仪器检测领域，具体而言，涉及一种用于精密仪器的序列孔径三维检测系统。
技术介绍
1、众所周知，工业零部件的形状比较复杂，有些底面、内部凹槽形状各异，曲面轮廓较多。使用传统的测量方法，如检具、治具、三坐标等，不仅十分繁琐、耗时，而且不易对零部件的结构进行准确、快速地测量、检测。 三维扫描检测技术的出现，给工业零部件检测带来很大方便。它可在不对扫描工件造成磨损破坏的前提下提供可靠、真实的三维数据信息；可将得到的三维数据与三维图纸进行比对，快速准确地获取工件各个位置的偏差，从而基于比对结果给出修正方案；对于扫描死角少，复杂的曲面，同轴度，圆柱度等用传统方法难以获取检测的数据，也都可以轻而易举地获取；同时，快捷的扫描也可以提高检测的效率，减少时间和人力成本。
2、传统的三维扫描检测技术基于相机阵列（camera array）的光场数据采集。将镜头阵列为视点平面，成像传感器阵列为平面，视点等间隔采样的光场数据采集。但多相机组合的采集方式存在成本高昂，体积较大，硬件同步困难等问题；单相机平移的采集方式采集的光场数据时间长，...
【技术保护点】
1.一种用于精密仪器的序列孔径三维检测系统，其特征在于，其包括相机、设置在所述相机的主镜头前的可编码的透明液晶显示器组件，以及连接至所述可编码的透明液晶显示器组件和所述相机的数据终端，
2.根据权利要求1所述的用于精密仪器的序列孔径三维检测系统，其特征在于，所述通光孔是圆形、正方形或者不规则图形。
3.根据权利要求1所述的用于精密仪器的序列孔径三维检测系统，其特征在于，所述通光孔可以是多个或者1个。
4.根据权利要求1所述的用于精密仪器的序列孔径三维检测系统，其特征在于，所述通光孔可以环形、一字型、三角形或者阵列设置。
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【技术特征摘要】
1.一种用于精密仪器的序列孔径三维检测系统，其特征在于，其包括相机、设置在所述相机的主镜头前的可编码的透明液晶显示器组件，以及连接至所述可编码的透明液晶显示器组件和所述相机的数据终端，
2.根据权利要求1所述的用于精密仪器的序列孔径三维检测系统，其特征在于，所述通光孔是圆形、正方形或者不规则图形。
3.根据权利要求1所述的用于精密仪器的序列孔径三维检测系统，其特征在于，所述通光孔可以是多个或者1个。
4.根据权利要求1所述的用于精密仪器的序列孔径三维检测系统，其特征在于，所述通光孔可以环形、一字型、三角形或者阵列设置。
5.根据权利要求1所述的用于精密仪器的序列孔径三维检测系统，其特征在于，所述用于精密仪器的序列孔径三维检测系统还包括用于固定所述相机的固定架，所述固定架包括底座、设置在所述底座上的竖直拉升机构、设...
【专利技术属性】
技术研发人员：屈俊豪，邹杰，丁俊飞，龙泽鑫，张臻，邱正豪，卢子奇，窦薇，
申请(专利权)人：太原理工大学，
类型：新型
国别省市：
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