【技术实现步骤摘要】
本技术属于机械加工领域，特别是涉及一种孔对位检具。
技术介绍
1、目前机械加工制造过程中，经常需要对孔之间的相对位置进行检测，检测孔之间的相对位置是否符合要求，以便后期进一步加工或使用。目前，在检测孔之间相对位置时，工人一般会使用专用检具进行检测以确保工件合格，若需检测的孔位于两个不同的工件上时，还需使用的不同的检具对相应工件进行检测。且因装配过程、装配手法以及工件一致性波动等原因，装配后的工件可能存在安装孔、配合面差等不匹配的情况，且无有效检测手段。
2、通过上述方式检测孔的相对位置情况，存在如下不足：其一，对准步骤繁琐且费时；其二，由于检测过程中，仅能对单个工件进行检测，且当工件进行装配后，难以对装配后的两个工件上孔的相对位置进行检测；其三，检测时配置的辅助机构大，成本高。
技术实现思路
1、鉴于以上所述现有技术的缺点，本技术的目的在于提供一种孔对位检具，用于解决现有技术中人工通过测量方式检测孔的相对位置时，检测工作费时费力，且精度不高等问题。
2、为实现上述目的及其他相关目的，本技术提供一种孔对位检具，包括：
3、基座，所述基座具有第一配合面和第二配合面；
4、第一对准件，所述第一对准件设置在所述第一配合面上；
5、第二对准件，所述第二对准件设置在所述第二配合面上，所述第二对准件上设置有对位孔；
6、对位杆，所述对位杆与所述对位孔相配合，所述对位杆可插入所述对位孔中。
7、可选地，所述基座上设
8、可选地，所述磁性件内嵌于所述第一配合面内，且所述磁性件与所述第一配合面齐平。
9、可选地，所述磁性件的数量至少为2。
10、可选地，所述基座为板状，所述第一配合面和所述第二配合面分别为所述基座的两个面。
11、可选地，所述第二对准件为环套状，所述环套状的中空部分为所述对位孔。
12、可选地，所述对位孔具有进入所述对位杆的开口，所述对位孔具有靠近所述开口的过渡段和远离所述开口的检测段，所述过渡段的对位孔半径大于所述检测段的对位孔半径。
13、可选地，所述第一对准件为杆状。
14、可选地，所述对位杆的长度大于所述对位孔的深度。
15、可选地，所述基座和/或所述第一对准件采用磁性材料制成。
16、如上所述，本技术的一种孔对位检具，具有以下有益效果：
17、由于基座上设置有第一对准件和第二对准件，第一对准件用于定位待测工件，第二对准件上设置有对位孔，将对位杆穿过工件上的对应孔并插入对位孔中，可检测工件上孔之间的相对位置是否符合生产及使用要求。本孔对位检具使用便捷，可提高工作效率及检测的准确性，且结构简单，便于加工。
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1.一种孔对位检具，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的孔对位检具，其特征在于：所述基座上设置有磁性件。
3.根据权利要求2所述的孔对位检具，其特征在于：所述磁性件内嵌于所述第一配合面内，且所述磁性件与所述第一配合面齐平。
4.根据权利要求2所述的孔对位检具，其特征在于：所述磁性件的数量至少为2。
5.根据权利要求1所述的孔对位检具，其特征在于：所述基座为板状，所述第一配合面和所述第二配合面分别为所述基座的两个面。
6.根据权利要求1所述的孔对位检具，其特征在于：所述第二对准件为环套状，所述环套状的中空部分为所述对位孔。
7.根据权利要求6所述的孔对位检具，其特征在于：所述对位孔具有进入所述对位杆的开口，所述对位孔具有靠近所述开口的过渡段和远离所述开口的检测段，所述过渡段的对位孔半径大于所述检测段的对位孔半径。
8.根据权利要求1所述的孔对位检具，其特征在于：所述第一对准件为杆状。
9.根据权利要求1-8任一项所述的孔对位检具，其特征在于：所述对位杆的长度大于所述对位孔的深度。
10.根据权利要求1所述的孔对位检具，其特征在于：所述基座和/或所述第一对准件采用磁性材料制成。
...【技术特征摘要】
1.一种孔对位检具，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的孔对位检具，其特征在于：所述基座上设置有磁性件。
3.根据权利要求2所述的孔对位检具，其特征在于：所述磁性件内嵌于所述第一配合面内，且所述磁性件与所述第一配合面齐平。
4.根据权利要求2所述的孔对位检具，其特征在于：所述磁性件的数量至少为2。
5.根据权利要求1所述的孔对位检具，其特征在于：所述基座为板状，所述第一配合面和所述第二配合面分别为所述基座的两个面。
6.根据权利要求1所述的孔对位检具，其特征在于：所述第二对准件为...
【专利技术属性】
技术研发人员：王二涛，安金龙，李胜存，
申请(专利权)人：河北长安汽车有限公司，
类型：新型
国别省市：
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