【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片检测辅助装置，具体为一种用于芯片检测的夹持工装。
技术介绍
1、芯片检测的夹持工装是用于芯片检测过程中夹持固定芯片的辅助装置。
2、在对芯片进行检测时一般都需要对芯片的两面进行检测，但是申请人发现检测完芯片的一面后对另一面进行检测时，需要先取消对芯片的夹持，将芯片翻过来再夹持住才能对另一面进行检测，使用起来尤为麻烦，为此，我们提出一种用于芯片检测的夹持工装。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种用于芯片检测的夹持工装，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种用于芯片检测的夹持工装，包括，固定架，所述固定架上设置有升降组件，且升降组件上设置有用于放置芯片的支撑板；
3、所述固定架的顶部两侧均设置有轴承座，两侧轴承座上均转动连接有转轴，两侧转轴的相对侧均设置有连接架，两侧连接架均与固定框连接，所述固定框的前后两侧的两端均开设有插孔，所述固定架上设置有与前侧插孔插接的插接组件；
4、所述固定框的两侧均横向贯穿有夹紧螺杆，两侧夹紧螺杆的相对侧均通过轴承转动连接有夹持板，且夹持板滑动连接在固定框的内壁上，两侧夹紧螺杆相互远离的一端均设置有转块，且转块位于连接架和固定框之间。
5、作为本技术所述一种用于芯片检测的夹持工装的一种优选方案，其中：所述升降组件包括通过轴承转动设置在支撑板底部的升降螺杆，所述升降螺杆的底端贯穿固定架连接有手轮，所述支撑板的底部四周处均设置有贯穿固定
6、作为本技术所述一种用于芯片检测的夹持工装的一种优选方案，其中：所述插接组件包括两组结构相同的竖杆，两组竖杆均与固定架连接，两组竖杆上均沿前后方向贯穿有活动杆，两侧活动杆的后端均设置有连接块，且连接块的后侧设置有插接在前侧插孔上的插杆，所述连接块上设置有与竖杆连接的弹簧。
7、作为本技术所述一种用于芯片检测的夹持工装的一种优选方案，其中：两侧活动杆的前侧均与横杆连接，便于拉动横杆时，同时拉动两侧活动杆。
8、作为本技术所述一种用于芯片检测的夹持工装的一种优选方案，其中：所述固定架的两侧底部均设置有带螺孔的安装块，便于将固定架固定住。
9、作为本技术所述一种用于芯片检测的夹持工装的一种优选方案，其中：所述固定架呈倒u型结构，便于在固定架的下方转动手轮。
10、与现有技术相比，本技术的有益效果是：夹持板夹持住芯片后，通过固定框转动来带动芯片实现翻面，其中升降组件能够带动支撑板升降，使得固定框在转动时不受阻碍，进而在检测完芯片的一面后，能够通过插接组件快速取消对固定框的固定，然后再对旋转后的固定框快速固定，即可快速对芯片实现翻面，从而解决了对芯片的两面进行检测时，现有芯片检测用夹持工装不便于快速翻面的问题。
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1.一种用于芯片检测的夹持工装，其特征在于：包括，
2.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的夹持工装，其特征在于：所述升降组件包括通过轴承转动设置在支撑板(3)底部的升降螺杆(10)，所述升降螺杆(10)的底端贯穿固定架(1)连接有手轮(11)，所述支撑板(3)的底部四周处均设置有贯穿固定架(1)的导杆(9)。
3.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的夹持工装，其特征在于：所述插接组件包括两组结构相同的竖杆(15)，两组竖杆(15)均与固定架(1)连接，两组竖杆(15)上均沿前后方向贯穿有活动杆(16)，两侧活动杆(16)的后端均设置有连接块(17)，且连接块(17)的后侧设置有插接在前侧插孔(8)上的插杆(18)，所述连接块(17)上设置有与竖杆(15)连接的弹簧(19)。
4.根据权利要求3所述的一种用于芯片检测的夹持工装，其特征在于：两侧活动杆(16)的前侧均与横杆(20)连接。
5.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的夹持工装，其特征在于：所述固定架(1)的两侧底部均设置有带螺孔的安装块(2)。
6.根据权
...【技术特征摘要】
1.一种用于芯片检测的夹持工装，其特征在于：包括，
2.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的夹持工装，其特征在于：所述升降组件包括通过轴承转动设置在支撑板(3)底部的升降螺杆(10)，所述升降螺杆(10)的底端贯穿固定架(1)连接有手轮(11)，所述支撑板(3)的底部四周处均设置有贯穿固定架(1)的导杆(9)。
3.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的夹持工装，其特征在于：所述插接组件包括两组结构相同的竖杆(15)，两组竖杆(15)均与固定架(1)连接，两组竖杆(15)上均沿前后方向贯穿有活动杆(16)，两...
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