【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测量领域，具体是一种多通道高速低阻量测系统。
技术介绍
1、随着科技的飞速发展，芯片在现代社会中扮演着不可或缺的角色。无论是计算机、手机、汽车还是物联网设备，几乎所有电子产品都离不开芯片的支持。而随着芯片应用的广泛，人们对芯片的品质与安全性也提出了更高的要求。芯片作为电子产品的核心组成部分，其品质和安全性直接关系到产品的性能、稳定性和可靠性。因此，对芯片进行全面的检测至关重要。芯片电阻是指芯片中的电阻器件，其测量原理与普通电阻器同理。电阻器在直流电路中的电流与电压之间有一定的关系，利用这一关系可以进行电阻测量。
2、现有的芯片低阻测量时一般都是通过测量仪器对其进行一对一的进行测量，测量过程繁琐，测量速度低下，需要增加测量速度时，只能增加新的测量仪器，芯片低阻的测量的仪器一般成本高昂，增加仪器会大大增加使用成本，测试效率低下。
技术实现思路
1、对于现有存在的一些问题，本专利技术的目的在于提供一种多通道高速低阻量测系统，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
3、一种多通道高速低阻量测系统，包括测试单机，所述测试单机设有一个或多个，多个测试单机通过bus总线相互并联通信连接，一个测试单机设有64个测试通道；
4、所述测试单机通过bus总线和总控机连接，总控机通过tcp/ip协议通信连接测试电脑，测试单机的测试数据传输汇总至总控机，总控机再将测试结果传输到测试电脑中；
<...【技术保护点】
1.一种多通道高速低阻量测系统，其特征在于，包括测试单机，所述测试单机设有一个或多个，多个测试单机通过BUS总线相互并联通信连接，一个测试单机设有64个测试通道；
2.根据权利要求1所述一种多通道高速低阻量测系统，其特征在于，所述测试单机设有的数量为1-4个，测试单机为2-4时，多个测试单机通过BUS总线相互并联通信连接。
3.根据权利要求2所述一种多通道高速低阻量测系统，其特征在于，所述单板主机Master内设有恒压电源，恒压电源和第一MUX逻辑门电路、第二MUX逻辑门电路、量测芯片ADC、微控制单元MCU通电连接。
4.根据权利要求3所述一种多通道高速低阻量测系统，其特征在于，所述单板主机Master内的一组连接器和单板子机8个测量通道数据连接。
5.根据权利要求4所述一种多通道高速低阻量测系统，其特征在于，所述单板主机Master内的一组连接器和8根电压检测线、8根电流检测线连接。
6.根据权利要求5所述一种多通道高速低阻量测系统，其特征在于，所述量测芯片ADC为25bit分辨率量测芯片。
7.根据权利
8.根据权利要求7所述一种多通道高速低阻量测系统，其特征在于，所述量测芯片ADC的型号为ADS1251。
...【技术特征摘要】
1.一种多通道高速低阻量测系统，其特征在于，包括测试单机，所述测试单机设有一个或多个，多个测试单机通过bus总线相互并联通信连接，一个测试单机设有64个测试通道；
2.根据权利要求1所述一种多通道高速低阻量测系统，其特征在于，所述测试单机设有的数量为1-4个，测试单机为2-4时，多个测试单机通过bus总线相互并联通信连接。
3.根据权利要求2所述一种多通道高速低阻量测系统，其特征在于，所述单板主机master内设有恒压电源，恒压电源和第一mux逻辑门电路、第二mux逻辑门电路、量测芯片adc、微控制单元mcu通电连接。
4.根据权利要求3所述一种多通道高速低阻...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵德喜，蒯正建，汪超，
申请(专利权)人：合肥巨阙电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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