【技术实现步骤摘要】
一种手套式高低温试验箱
[0001]本技术涉及一种高低温试验箱,具体是一种手套式高低温试验箱。
技术介绍
[0002]高低温试验箱适用于电子零组件、半导体行业产品高温、低温的可靠性试验。对电子电工、电脑周边配件、及相关产品的零部件及材料在高温、低温(交变)循环变化的情况下,检验其各项性能指标。
[0003]传统的高低温试验箱在高低温试验过程中由低温转高温转换阶段,试验产品的放置架是固定在测试箱内的,试验品放置容易造成接触导致测试性能不准确,同时在取出时也不方便,可能造成高温对工作人员造成伤害,测试品在高低温测试会出现大量的湿气,长期湿气会造成污染。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种手套式高低温试验箱,通过电机驱动齿轮与齿条啮合传动,使整个放置架滑动出盛放箱,方便放置、取出测试品,方便快捷,根据测试品的形状、大小,通过将多个分割板进行水平、垂直分布卡合成相应独立的区域进行放置,放置测试品之间接触,影响测试性能,通过密封条将盛放箱的内腔形成密封状态,打开密封盖能够使在高低温转换时产生的水气进 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种手套式高低温试验箱,试验箱包括盛放箱(1),其特征在于,所述盛放箱(1)上转动设有便于开合的密封盖(2),盛放箱(1)内滑动设有用于盛放测试品的放置架(3),盛放箱(1)上固定有用于驱动放置架(3)滑动的驱动装置(4),驱动装置(4)与放置架(3)紧固连接,盛放箱(1)上设有吹风装置(5)。2.根据权利要求1所述的一种手套式高低温试验箱,其特征在于,所述盛放箱(1)包括箱体(11),箱体(11)内设有内壳(12),内壳(12)与箱体(11)之间形成内腔(13),内壳(12)上设有滑槽(14),箱体(11)上设有转动孔(15),箱体(11)的下方设有阵列分布的支撑柱(16)。3.根据权利要求1所述的一种手套式高低温试验箱,其特征在于,所述密封盖(2)包括盖体(21),盖体(21)上设有密封条(22),盖体(21)上设有观察窗(23)。4.根据权利要求2所述的一种手套式高低温试验箱,其特征在于,所述放置架(3)包括放置板(31),放置板(31)阵列分布,放置板(31)上设有阵列分布的挡板(32),挡板(32)与放置板(31)上均设有阵列分布的漏孔(33),放置板(31)的上方设有阵列分布的可拆卸的分割板(34);所述靠近滑槽(14...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵德喜,
申请(专利权)人:合肥巨阙电子有限公司,
类型:新型
国别省市:
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