【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于半值层，具体涉及一种半值层自动测量设备。
技术介绍
1、半值层测量是一种常用的测量方法，用于确定x射线源的输出质量和安全性，半值层是指x射线强度衰减到初始值一半时所需的某种物质(通常是铝)的厚度，在进行半值层测量时，通常将x射线源发出的x射线照射到铝片上，然后通过测量x射线穿过铝片后的强度来计算半值层；
2、现有针对半值层测量时，通常需要工作人员较为频繁的更换铝片(不同厚度)，以使得x射线所穿过铝片的总厚度满足：探测器所检测到的x射线强度刚好能够达到初始值的一半，由于需要工作人员频繁调整铝片，导致操作较为繁琐且效率较低，而且工作人员频繁调整铝片也增加了其被x射线源所辐射的概率，不利于工作人员的健康；
3、另外，铝片在不使用时，若保存不当会在其表面堆积一层浮灰，而堆积于铝片表面的浮灰会对x射线的衰减造成一定影响，造成测量结果产生一定偏差；
4、鉴于以上，本申请提供一种半值层自动测量设备用于解决上述问题。
技术实现思路
1、针对上述情况，为克服...
【技术保护点】
1.一种半值层自动测量设备，包括测量架(1)，其特征在于，所述测量架(1)上同轴心间隔设有第一环(2)、第二环(3)、第三环(4)且第一环(2)、第二环(3)、第三环(4)之与测量架(1)转动安装；
2.根据权利要求1所述的一种半值层自动测量设备，其特征在于，所述第一环(2)圆周壁内与安放孔(5)对应位置处设有气腔(9)且安放孔(5)侧壁上设有若干与气腔(9)连通的气孔(10)，所述气腔(9)连通有设于第一环(2)圆周壁内的气体组件。
3.根据权利要求2所述的一种半值层自动测量设备，其特征在于，所述气体组件包括设于第一环(2)圆周壁内的气筒(1...
【技术特征摘要】
1.一种半值层自动测量设备，包括测量架(1)，其特征在于，所述测量架(1)上同轴心间隔设有第一环(2)、第二环(3)、第三环(4)且第一环(2)、第二环(3)、第三环(4)之与测量架(1)转动安装；
2.根据权利要求1所述的一种半值层自动测量设备，其特征在于，所述第一环(2)圆周壁内与安放孔(5)对应位置处设有气腔(9)且安放孔(5)侧壁上设有若干与气腔(9)连通的气孔(10)，所述气腔(9)连通有设于第一环(2)圆周壁内的气体组件。
3.根据权利要求2所述的一种半值层自动测量设备，其特征在于，所述气体组件包括设于第一环(2)圆周壁内的气筒(11)，所述气筒(11)一端与气腔(9)连通，另一端与外界连通；
4.根据权利要求1所述的一种半值层自动测量设备，其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员：王双玲，龙成章，王攀峰，李静，高颖，李洁，杨柳，刘辉，唐盟，鲍春铭，李星峰，常昱斌，
申请(专利权)人：河南省计量测试科学研究院，
类型：发明
国别省市：
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