【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于电子，涉及液晶驱动芯片测试技术，具体涉及一种液晶驱动芯片验证系统及验证方法。
技术介绍
1、随着车载和工控领域对芯片越来越多样化的需求，对半导体产品的可靠性提出更高的标准。可靠性的测试项大多需要花费大量的人力、材料及时间，自动化的验证系统可以自动识别及记录芯片整个可靠性验证的过程。因此自动化的系统可以节省人力，同时降低人工干预带来的误差和错误。随着技术的不断发展，芯片的自动化可靠性验证系统领域将会继续得到发展。未来这种技术将会更加智能化、高效化和自动化，从而为芯片验证行业的发展提供更好的支持。
2、现有技术中对液晶驱动芯片进行验证的技术方案，主要有以下3种通过ic专用的ate设备进行验证如advantest的t6391 ate设备，这种设备价格昂贵，测试成本高；或通过人力验证，将芯片封装成可验证的cob样品并搭建对应的验证平台，通过示波器及万用表等工具进行人工验证，人力验证效率低。因此不适用于大量的重复的验证；或通用的lcd模组验证系统。将芯片组装成模组，通过设备内置的摄像机捕捉被芯片驱动的显示器画面，系统根据...
【技术保护点】
1.一种液晶驱动芯片验证系统，其特征在于，包括MCU，以及与MCU信号连接的显示器、存储卡、警报器和计算机，MCU的SPI引脚通过桥接芯片连接待测试芯片的MIPI引脚，并通过GPIO引脚连接待测试芯片的TE引脚，所述MCU的内置ADC与TE引脚连接，并通过电压转换支路与待测试芯片的GOA 和SD引脚连接，所述电压转换支路包括顺序连接的电压衰减模块 、信号放大器和电压转换模块。
2.如权利要求1所述液晶驱动芯片验证系统，其特征在于，所述MCU为STM32F723ZET6，桥接芯片为SSD2828。
3.如权利要求1所述液晶驱动芯片验证系统，其特征...
【技术特征摘要】
1.一种液晶驱动芯片验证系统，其特征在于，包括mcu，以及与mcu信号连接的显示器、存储卡、警报器和计算机，mcu的spi引脚通过桥接芯片连接待测试芯片的mipi引脚，并通过gpio引脚连接待测试芯片的te引脚，所述mcu的内置adc与te引脚连接，并通过电压转换支路与待测试芯片的goa 和sd引脚连接，所述电压转换支路包括顺序连接的电压衰减模块 、信号放大器和电压转换模块。
2.如权利要求1所述液晶驱动芯片验证系统，其特征在于，所述mcu为stm32f723zet6，桥接芯片为ssd2828。
3.如权利要求1所述液晶驱动芯片验证系统，其特征在于，还包括电源系统，电源系统包括与外部直流电源连接的多个直流-直流转换器组成的可配置电源，所述外部直流电源与可配置电源的输入端连接，可配置电源的输出端与待测样品的电源输入端相连，...
【专利技术属性】
技术研发人员：魏国赢，吕高祥，
申请(专利权)人：南京观海微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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