涡旋光束拓扑荷数测量系统、方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种涡旋光束拓扑荷数测量系统、方法、装置、设备及介质，涉及光学测量领域，所述系统通过激光发射单元将待测的涡旋光束发射至分光板，分光板将涡旋光束分束为反射涡旋光和透射涡旋光，反射涡旋光反射至第一反射镜，通过第一反射镜反射至分光板的半透半反射膜后，反射涡旋光透射为第一涡旋光，透射涡旋光的光程经过补偿板第一次补偿后透射至第二反射镜，通过第二反射镜反射经补偿板第二次补偿光程后到达分光板的半透半反射膜后，透射涡旋光反射为第二涡旋光，测量单元对两束涡旋光的目标干涉图像进行分析，确定涡旋光拓扑荷数，从而有效地避免了测量操作复杂和光束相干性差的问题，在确保测量精准的基础上操作简单，测量迅速。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学测量，尤其涉及一种涡旋光束拓扑荷数测量系统、方法、装置、设备及介质。

技术介绍

1、涡旋光是一种具有螺旋波前结构且中心强度为零的空心光束。光学涡旋已被应用于许多不同的情况下，如光学捕获、光学通信、显微镜成像、激光微机、旋转速度检测、光学黑洞的模拟等。在所有这些应用中，涡旋光的拓扑电荷起着关键作用。而目前需要复杂的光学器件进行测量，测量方法操作复杂，光束相干性差。

2、上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

技术实现思路

1、本专利技术的主要目的在于提供一种涡旋光束拓扑荷数测量系统、方法、装置、设备及介质，旨在解决现有技术需要复杂的光学器件进行测量，测量方法操作复杂，光束相干性差的技术问题。

2、为实现上述目的，本专利技术提供了一种涡旋光束拓扑荷数测量系统，所述涡旋光束拓扑荷数测量系统包括：激光发射单元、分光板、第一反射镜、第二反射镜和测量单元；

3、所述激光发射单元，用于产生涡旋光束，并将待测的涡旋光束发射至所述分光板本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种涡旋光束拓扑荷数测量系统，其特征在于，所述涡旋光束拓扑荷数测量系统包括：激光发射单元、分光板、第一反射镜、第二反射镜和测量单元；

2.如权利要求1所述的涡旋光束拓扑荷数测量系统，其特征在于，所述激光发射单元包括：激光发射器、准直扩束器、偏振片、空间光调制器和第三反射镜；

3.如权利要求2所述的涡旋光束拓扑荷数测量系统，其特征在于，所述基模高斯光束进入空间光调制器的入射角小于15度；

4.如权利要求1所述的涡旋光束拓扑荷数测量系统，其特征在于，所述涡旋光束拓扑荷数测量系统，还包括至少一个调节螺母，所述调节螺母设置在所述第二反射镜上；

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【技术特征摘要】

1.一种涡旋光束拓扑荷数测量系统，其特征在于，所述涡旋光束拓扑荷数测量系统包括：激光发射单元、分光板、第一反射镜、第二反射镜和测量单元；

2.如权利要求1所述的涡旋光束拓扑荷数测量系统，其特征在于，所述激光发射单元包括：激光发射器、准直扩束器、偏振片、空间光调制器和第三反射镜；

3.如权利要求2所述的涡旋光束拓扑荷数测量系统，其特征在于，所述基模高斯光束进入空间光调制器的入射角小于15度；

4.如权利要求1所述的涡旋光束拓扑荷数测量系统，其特征在于，所述涡旋光束拓扑荷数测量系统，还包括至少一个调节螺母，所述调节螺母设置在所述第二反射镜上；

5.如权利要求1所述的涡旋光束拓扑荷数测量系统，其特征在于，所述测量单元包括成像设备；

6.如权利要求5所述的涡旋光束拓扑荷数测量系统，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴思遥，陈玲，张保成，
申请(专利权)人：中国地质大学武汉，
类型：发明
国别省市：